nGaAs是由两种Ⅲ-Ⅴ族半导体材料组成的三元系半导体化合物，它的带隙随组分比例的变化而变化。基于此材料制备的IR探测器，其响应截止波长可达到3μm以上，响应范围完全覆盖NIR波段，是该波段探测器团体里**重要的成员。在该体系下，其他化合物性能如下图所示：与其它的常用IR探测器相比，InGaAs探测器的兴起较晚，在上世纪80年代才开始走进人类的视野。近年来，得益于NIR成像的强势崛起，InGaAs的发展势头也十分迅猛。在实际生产中，一般将InGaAs材料生长在磷化铟(InP)衬底上，红外热像仪两者的晶格失配度也会随InGaAs组分的变化而变化。建筑工程师利用红外热像仪检查建筑物的保温性能，确保能效较大化。福禄克红外热像仪现场测试
但这样也会使量子效率降低;为维持高量子效率,需提高摻杂浓度,而如此一来又会导致暗电流激增,严重破坏探测器性能｡BIB探测器是解决以上困境的比较好解｡BIB探测器是传统非本征探测器在结构上的一种巧妙升级,即在吸收层与一侧电极之间引入一层高纯度的本征基底材料作为阻挡层来抑制暗电流,这样可以保证在吸收层掺杂浓度**增加的同时,暗电流也能维持在很低的水平｡不仅如此,掺杂浓度的增加也拓宽了探测器的响应范围｡关于红外热像仪芯片材料体系介绍就到这儿，对半导体感兴趣的同学，欢迎阅读其他文章！防爆型红外热像仪现场测试红外热像仪的工作距离有限制吗？
截止目前,红外热像仪HgCdTe材料依旧是制作高性能IR光子探测器的比较好的材料｡与InGaAs类似,HgCdTe也是一种三元系半导体化合物,其带隙也会随组分的改变而改变,借此HgCdTe探测器可覆盖1-22μm的超宽波段｡HgCdTe探测器在NIR､MIR和LWIR三个波段都能表现出十分优异的性能,所以它问世不久便成为了IR探测器大家族中的霸主｡然而,随着近些年InGaAs探测器的兴起,HgCdTe探测器在NIR波段的地位日趋下降;在MIR波段,虽然InSb探测器的探测率不如HgCdTe探测器,但由于InSb的材料生长技术比HgCdTe成熟,HgCdTe探测器在该波段已达不到一家独大的地步;对于LWIR波段,HgCdTe探测器仍具有很强的统治地位｡
二、热探测器的分类热探测器一般分为测辐射热计、热电堆和热释电探测器三种类型。(1)测辐射热计这种探测器是由具有非常小热容量和大电阻温度系数的材料制成的，吸收IR后探测器的电阻会发生明显的变化，因此它们也被称为热敏电阻。常见的IR热辐射热计有以下几种类型：金属测辐射热计、半导体测辐射热计和微型室温硅测辐射热计（简称微测辐射热计），此外还有用于THz探测的测辐射热计。这些类型中，以微测辐射热计的技术**成熟、应用*****，它们在民用市场深受消费者的推崇，甚至在***市场也有一定的应用空间。氧化钒(Vox)与非晶Si是制作微测辐射热计**常用的材料。红外热像仪的维护和保养有哪些要点？
钢铁企业生产线上设有各类仪表和传感器，测量轧钢过程各种参数，并将结果送轧线计算机系统。高精度的轧线测量仪表和传感器是基础自动化、过程自动化和管理自动化的关键。轧制产品生产中的轧线仪表和传感器，包括通用的常规仪表和特殊仪表，前者如加热炉用仪表、轧线的红外热像仪、连续退火生产线上分析炉内还原性气体的氢气和一氧化碳分析仪等，后者如测量冷热轧带钢的厚度计、宽度计等。下面对常见的特殊仪表和特殊传感器进行总结：红外热像仪的维护保养需要注意什么？欧普士红外热像仪批发价格
红外热像仪可以检测什么类型的物体？福禄克红外热像仪现场测试
红外热像仪可以用于建筑和房屋检测。以下是一些常见的应用场景：热桥检测：红外热像仪可以检测建筑物中的热桥，即导热性能较差的区域，如墙体接缝、窗框等。通过检测热桥，可以找到导致能量损失和热舒适性问题的地方，并采取相应的改善措施。热漏风检测：红外热像仪可以检测建筑物中的热漏风现象，即由于建筑物密封性不好而导致的能量损失。通过检测热漏风，可以找到漏风点，进而采取密封措施，提高建筑物的能源效率。绝缘性能检测：红外热像仪可以检测建筑物中的绝缘性能，如检测墙体、屋顶、地板等的绝缘情况。通过检测绝缘性能，可以发现潜在的能量损失和安全隐患，并采取相应的绝缘改善措施。湿度检测：红外热像仪可以检测建筑物中的湿度分布情况，如检测墙体、屋顶等的潮湿程度。通过检测湿度，可以发现潜在的水患问题，并采取相应的防水措施。福禄克红外热像仪现场测试
