晶格失配度比较低时，红外热像仪InGaAs探测器的截止波长约为1.7μm，此时探测器所能达到的探测率是比较高的，接近于理论极限。由于在NIR波段表现出的优异性能，InGaAs探测器受到了来自包括美、法、德、日等多个国家的众多制造商的瞩目与重视，其中以美国TJT(Telddyne Judson Technologies)的成就**为突出。InGaAs探测器的响应波段刚好覆盖了夜空辉光的光谱带，有利于夜间观测目标物体的发射，因此在高空侦察方面有重要的应用价值，如美国U-2侦察机就装备了以InGaAs FPA探测器为**技术的SYERS Ⅱ照相机。第二代在线红外热像仪作为传感器很大程度解放了人力，它的诞生是社会各界越来越重视安防的产物。testo 875-2i红外热像仪使用方法
红外热像仪作为一种非接触式的温度测量设备，具有其独特的优点：隐蔽性好：由于红外热像仪进行的是非接触式检测与识别，因此它在使用时不易被发现，保证了操作者的安全性和有效性。不受电磁干扰：红外热像仪利用的是热红外线，这使得它在工作时不会受到电磁干扰，能远距离精确跟踪热目标。全天候监控：红外热像仪可以实现24小时全天候监控，无论是白天还是夜晚，都可以进行有效的温度测量。探测能力强：红外热像仪的探测能力强，作用距离远，可以在敌方防卫武器射程之外实施观察。高温红外热像仪推荐货源红外热像仪是否可以用于医学诊断和疾病筛查？
nGaAs是由两种Ⅲ-Ⅴ族半导体材料组成的三元系半导体化合物，它的带隙随组分比例的变化而变化。基于此材料制备的IR探测器，其响应截止波长可达到3μm以上，响应范围完全覆盖NIR波段，是该波段探测器团体里**重要的成员。在该体系下，其他化合物性能如下图所示：与其它的常用IR探测器相比，InGaAs探测器的兴起较晚，在上世纪80年代才开始走进人类的视野。近年来，得益于NIR成像的强势崛起，InGaAs的发展势头也十分迅猛。在实际生产中，一般将InGaAs材料生长在磷化铟(InP)衬底上，红外热像仪两者的晶格失配度也会随InGaAs组分的变化而变化。
美国**高空区域防御系统(Theatre High Altitude Area Defense, THAAD)即萨德系统,其拦截导弹的IR导引头就采用了RVS生产的AE194 InSb FPA探测器｡RVS生产的小型InSb FPA探测器还大量地应用到了美国第四代空-空导弹的制导系统中｡由美国SBRC(Santa Barbara Research Center)主持､美国国家光学天文台(National Optical Astronomy Observatories, NOAO)和美国海军天文台(U.S.Naval Observatory, USNO)协同参与的ALADDIN(advanced large area detector development in lnSb)计划,其研制的1024x1024像元规模的InSb FPA探测器应用到了天文观测中。作为ALADDIN的升级产品,ORION将InSb FPA的像元规模提升至2Kx2K,该计划在RVS､NOAO和USNO的共同努力下也已经顺利完成,其红外热像仪产品在美国天文事业的发展中发挥着重要作用｡对监测画面关键点或区域温度设置红外热像仪Modbus 值输出及现场报警。
红外(Infrared,IR)波是指波长在，它在大自然的电磁波谱里处在可见光与微波之间。由于IR在电磁波谱中涵盖的波长范围很宽，人们通常按波长将它分成５个子波段，分别为：近红外(near-IR,NIR)、中红外(mid-IR,MIR)、长波红外(long-wavelengthIR,LWIR)、甚长波红外(very-long-wavelengthIR,VLWIR)以及远红外(far-IR,FIR)，它们所对应的波长范围如下表所示：一、IR红外探测器分类根据探测机理的不同，IR探测器可分为两大类，分别是光子探测器和热探测器，下图所示：在吸收IR波后，热探测材料的温度、电阻率、电动势以及自发极化强度等会产生明显的波动，根据这些波动可探测目标物体向外辐射IR的能量。热探测器的响应速度普遍比光子探测器低，因此在大规模FPA探测器的发展方面不如光子探测器乐观，但热探测器制造成本低廉、使用便利，这使它们在民用市场大受欢迎与光子探测器不同，热探测器的响应光谱较为平坦，不存在峰值波长，其探测率不随波长变化而变化，如图所示。 手持红外热像仪为例，一手拿着热像仪，就能完成电路检测、和电力、设备维护等人工巡检的工作。透过火焰测温红外热像仪操作
红外热像仪拥有超广角镜头，可实时监测炉顶料面温度情况、提供可视化燃烧、降低了安全隐患，提高作业效率。testo 875-2i红外热像仪使用方法
测量表面温度一般采用非接触红外高温计，必须注意在测量时需要调整红外热像仪所使用的发射率ε，发射率是材料及其表面状况的特性，采用不正确的发射率会产生明显的测量误差。有两种方法可以在静态表面上校准发射率，***个方法是使用接触式高温计测量温度，然后将红外高温计指向同一点并调整发射率，直到温度读数与接触式温度计的读数相同；第二个方法是在被测表面粘上黑胶布，或者涂上黑漆，然后用测得的温度校准红外高温计。常用特定温度下水泥窑系统表面发射率见表1。testo 875-2i红外热像仪使用方法
