离子迁移(ECM/SIR/CAF)是电子电路板(PCB)中常见的失效模式,尤其在高电压、高温和湿度条件下更为突出。这些现象与电子组件的可靠性和寿命紧密相关。电解质介电击穿(ECM - Electrochemical Migration):要因分析:ECM 主要是由于电路板上的电解质(如残留水分、污染物质或潮湿环境中的离子)在电场作用下引发金属离子的氧化还原反应和迁移,导致短路或漏电流增加。解决方案:设计阶段:采用***材料,如具有低吸湿性及良好耐离子迁移性的阻焊剂和基材(如FR-4改良型或其他高级复合材料);优化布线设计,减少高电压梯度区域。工艺控制:严格清洁流程以减少污染,采用合适的涂层保护措施,提高SMT贴片工艺水平以防止锡膏等残留物成为离子源。环境条件:产品储存、运输和使用过程中需遵循防潮密封标准,确保封装完整。系统标配≥256通道,可分为16组测试单元,同时测试16种不同样品。广西国内电阻测试牌子
半导体分立器件∶二极管、三极管、场效应管、达林顿阵列、半导体光电子器件等;被动元件:电阻器;电容器;磁珠;电感器;变压器;晶体振荡器;晶体谐报器;继电器;电连接器;开关及面板元件;电源模块:滤波器、电源模块、高压隔离运放、DC/DC、DC/AC;功率器件:功率器件、大功率器件;连接器:圆形连接器、矩形,印刷版插座等。元器件筛选覆盖标准:GJB7243-2011军电子元器件筛选技术要求;GJB128A-97半导体分立器件试验方法;GJB360A-96电子及电⽓元件试验方法;GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序;GJB40247A-2006军电子元器件破坏性物理分析方法;QJ10003—2008进⼝元器件筛选指南;MIL-STD-750D半导体分立器件试验方法;MIL-STD-883G;江西电阻测试推荐货源表面绝缘电阻(Surface Insulation Resistance, SIR)是衡量PCB抗CAF能力的重要指标,低SIR值预示CAF风险。
在电路与组装材料发生的反应过程中,随着时间的推移而逐渐形成这种失效。当金属纤维丝在线路板表面以下生长时,称为导电阳极丝或CAF,本文中不会讨论这种情况,但这也是一个热门话题。当电化学迁移发生在线路板的表面时,它会导致线路之间的金属枝晶状生长,比较好使用表面绝缘电阻(SIR)进行测试。可靠的电子组装产品必须能在不同的环境中经受住各种影响因素的考验,例如:热、机械、化学、电等因素。测试每一种考验因素对系统的影响,通常以加速老化的方式来测试。这也就是说,测试环境比起正常老化的环境是要极端得多的。此文中的研究对象主要是各种测试电化学可靠性的方法。IPC将电化学迁移定义为:在直流偏压的影响下,印刷线路板上的导电金属纤维丝的生长。这种生长可能发生在外部表面、内部界面或穿过大多数复合材料本体。增长的金属纤维丝是含有金属离子的溶液经过电沉积形成的。电沉积过程是从阳极溶解电离子,由电场运输重新沉积在阴极上。
铜镜实验IPC-TM-650方法_2.3.32用来测试未加热的助焊剂如何与铜反应,也叫做助焊剂诱发腐蚀测试。本质上讲,就是滴一滴定量的助焊剂到涂敷了一层铜膜的玻璃片上,然后在特定环境中放置一段时间。这个环境接近室温环境,相对湿度是50%。24小时后清理掉助焊剂,并在白色背景下观察铜膜被腐蚀掉多少。腐蚀穿透铜膜的程度决定了助焊剂的活性等级,通常用L、M和H表示。铜板腐蚀实验IPC-TM-650方法2.6.15是用来测试极端条件下,助焊剂残留物对铜的腐蚀性。助焊剂和焊料在铜板上加热直到形成焊接。然后把铜板放置在一个温度为40°C的潮湿环境,这样可以加速助焊剂残留物和铜可能发生的反应。铜板需要在测试前和测试后仔细检查其表面颜色的变化来确定是否有腐蚀的迹象。观察结果通常可以用L、M和H来表示腐蚀性的等级。监测模块:状态、数据曲线、测试配置、增加测试、预警。
【SIR测试促进绿色能源技术发展】随着绿色能源技术的快速发展,尤其是太阳能光伏板和风力发电系统的广泛应用,SIR测试成为确保这些系统长期可靠性的关键。光伏板和风电机组中的电子部件需要在户外长期暴露,面临风雨侵蚀、温度波动等挑战。通过SIR测试,可以评估并选择适合户外环境的绝缘材料,减少因环境因素导致的性能衰退,提升能源转换效率和设备寿命,加速清洁能源的普及和应用。【SIR测试在医疗设备安全中的作用】医疗设备的电气安全直接关系到患者的生命健康。SIR测试在这里发挥着不可替代的作用,确保设备中使用的绝缘材料能够有效防止电流泄露,保护患者免受电击风险。特别是在手术器械、监测设备等对电气安全有极高要求的场合,SIR测试结果是产品认证和质量控制的重要依据。通过对医疗设备进行定期的SIR测试,制造商能够持续改进设计,提升设备的安全性和可靠性,保障医疗操作的安全无虞。系统可通过曲线、表格的形式对测试数据进行实时监控,测试数据自动存储和管理。广西离子迁移绝缘电阻测试售后服务
测试配置灵活:每块模块可设置不同的测试电压,可同时完成多工况测试。广西国内电阻测试牌子
PCB板上出现CAF的现象却越来越严重,究其原因,是因为现在电子设备上的PCB板上需要焊接的电子元件越来越多,这样也就造成了PCB板上的金属电极之间的距离越来越短,这样就更加容易在两个金属电极之间产生CAF现象,什么是导电阳极丝测试CAF导电阳极丝测试(Conductiveanodicfilamenttest,简称CAF)是电化学迁移的其中一种表现形式。它与表面树状生长的区别:1.产生迁移的金属是铜,而不是铅或者锡;2.金属丝是从阳极往阴极生长的;3.金属丝是由金属盐组成,而不是中性的金属原子组成。焊盘中的铜金属是金属离子的主要来源,在阳极电化学生成,并沿着树脂和玻璃增强纤维之间界面移动。随着时代发展和技术的革新。广西国内电阻测试牌子