绝缘不良是电气设备失效和安全事故的常见原因。广州维柯信息技术有限公司深知这一点,因此研发出的SIR表面绝缘电阻测试系统,专注于捕捉那些可能被忽视的微小缺陷。绝缘材料在长时间使用或特定环境下可能会老化,导致表面电阻下降,进而影响整个系统的安全性。通过定期进行SIR测试,可以早期发现这些问题,及时采取措施,避免重大事故的发生。广州维柯的SIR测试系统,以其高度的自动化和智能化,能够在各种条件下快速、准确地完成测试任务,**提高了检测效率和准确性。对于制造商而言,这不仅意味着产品可靠性增强,也是对品牌信誉的有力背书。HAST测试是目前所有半导体公司等行业对芯片等器件测试的标准测试之一。湖北pcb绝缘电阻测试系统
当PCB受到离子性物质的污染、或含有离子的物质时,在高温高湿状态下施加电压,电极在电场和绝缘间隙存在水分的共同作用下,离子化金属向相反的电极间移动(阴极向阳极转移),相对的电极还原成本来的金属并析出树枝状金属的现象(类似锡须,容易造成短路),这种现象称为离子迁移。当存在这种现象时,表面绝缘电阻(SIR)测试可以通过电阻值显现出来。测试方法通常是认证助焊剂在裸铜板上的表现,但是NiAu和HASL工艺的残留物对PCB表面的漏电有一定影响。HASL工艺使用的助焊剂中的乙二醇会被环氧基板编织布所吸收,增强基板的吸水性。己经有一些案例说明NiAu的金属层会增电化学迁移的趋势。表面涂层的影响取决于表面涂层所用的助焊剂和化学剂。江西pcb离子迁移绝缘电阻测试推荐货源产生离子迁移的原因,是当绝缘体两端的金属之间有直流电场时,这两边的金属就成为两个电极。

广州维柯信息技术有限公司的SIR表面绝缘电阻测试系统,集成了行业的测量技术,实现了检测精度与测试效率的双重提升。该系统采用高灵敏度传感器,每秒20ms/所有通道的速度即便是在低电阻范围内也能准确读取数据,误差率极低,确保了测试结果的科学性和可靠性。同时,其内置的算法能迅速处理大量数据,缩短测试周期,对于大规模生产线上追求快速反馈和质量控制的企业来说,无疑是提升竞争力的利器。广州维柯SIR系统,以精度与速度,平齐行业标准。
另一方面,工艺的优化和控制可能会遗漏一些关键的失效来源。其次,由于组件处于生产过程中,无法实时收集结果。根据测试方法的不同,测试时间**少为72小时,**多为28天,这使得测试对于过程控制来说太长了。从而促使制造商寻求能快速有效地表征电化学迁移倾向的测试方法,以控制组装工艺。几十年来,行业标准一直认为SIR测试是比较好的方法。然而,在实践中,这种方法有一些局限性。首先,它是在标准梳状测试样板上进行的,而不是实际的组装产品。根据不同的PCB表面处理、回流工艺条件、处理工序等,需要进行**的测试设置。而且测试方法的选择,可能需要组装元器件,也可能不需要。由于和助焊剂分类有关,这些因素的标准化是区分可比较的助焊剂类别的关键。智能电阻能够提供更加便捷和精确的电阻测试。

随着电子设备的小型化、集成度提高,对材料的绝缘性能要求也日益严格。广州维柯信息技术有限公司走在科技前沿,通过不断的技术创新,推出了SIR表面绝缘电阻测试系统,为材料科学和电气工程领域带来了一场技术分享。该系统采用了准确的传感器技术和数据分析算法,能够深入分析材料表面绝缘性能的细微变化,为科研工作者提供了宝贵的数据支持,促进了新材料的研发和应用。同时,广州维柯还注重用户体验,系统设计兼顾了易用性和精确性,即便是复杂测试也能轻松完成,有效缩短了产品从研发到市场的周期。SIR是通过测试表面绝缘电阻的方法来监控ECM电化学迁移的发生程度; 通常我们习惯讲的SIR,即为ECM测试;贵州电阻测试发展
授权手机APP可以远程进行相关管理、操作,查看样品监测数据。湖北pcb绝缘电阻测试系统
广州维柯信息技术有限公司多通道SIR-CAF实时离子迁移监测系统——GWHR256-500,可在设定的环境参数下进行长时间的测试样品,观察并记录被测样品阻抗变化状况。系统可通过曲线、表格的形式对测试数据进行实时监控,测试数据自动存储和管理,客户根据需要可导出为Excel表格式,对测试样品进行分析。***用于印制电路板、阻焊油墨、绝缘漆、胶粘剂,封装树脂微间距图形、IC封装材料等绝缘材料性能退化特性评估,以及焊锡膏、焊锡丝、助焊剂、清洗剂等引起的材料绝缘性能退化评估。通道数16-256/128/64/32(通道可选),测试组数1-16组(组数可选)测试时间1-9999小时(可设置)偏置电压1-500VDC(0.1V步进)测试电压1-500VDC(0.1V步进)偏置电压输出精度±设置值1%+200mV(5-500VDC)测试电压输出精度±设置值1%+200mV(5-500VDC)电阻测量范围1x106-1x1014Ω电阻测量精度1x106-1x109Ω≤±2%1x109-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤±20%。湖北pcb绝缘电阻测试系统