常州电源测试系统加工

测试仪组成：硬件模块：测试仪由便携式计算机、单片机测试平台及测试分析处理软件构成。其中单片机测试平台在计算机控制下完成被测对象数据的采集。部分功能及说明如下：单片机电路主要完成数据采集、控制、命令处理，与计算机进行数据交换。在测试仪设计中采用了MCS-51系列8031单片机，选用2764作为扩展ROM，6264作为扩展RAM。译码芯片电路为74LS138。为与计算机进行串行通信，采用MCl488和MC1489进行RS-232C电平与TTL电平的相互转换。单片机系统时钟频率选用6MHz晶振，通信波特率选用2400，单片机采用工作方式3进行串行通信。定时器T1设置为方式2。设定SMOD=1，时间常数F3H。总线驱动器对单片机总线进行扩展，提高其驱动能力，选用74LS244、74LS245线驱动器。验收测试：在产品交付前进行的一系列测试，确保产品满足用户需求。常州电源测试系统加工

功能系统测试，元件测试和装联测试注重的是产品的加工质量，功能系统测试注重的是PCBA的电气特性参数，并关注这些指标是否达到了相关的国家标准和设计规范的要求，功能系统测试是一类针对整件的综合性测试，在以产品自行设计、加工为主的企业里应用较广。优点：⒈ 基本上不用人管着，如果程序停止运行了一般就是被测试程序crash了。⒉ 设计完测试例之后，下来的工作就是好多了，当然更苦闷的是确定crash原因。缺点：⒈ 结果取决于测试例的设计，测试例的设计部分来势来源于经验，OUSPG的东西很值得借鉴。⒉ 没有状态转换的概念，一些成功的例子基本上都是针对PDU来做的，还做不到针对被测试程序的状态转换来作。⒊ 就没有状态概念的测试来说，寻找和确定造成程序crash的测试例是个麻烦事情，必须把周围可能的测试例单独确认一遍。而就有状态的测试来说，就更麻烦了，尤其不是一个单独的testcase造成的问题。这些在堆的问题中表现的更为突出。常州PCBA功能测试系统定制现代化的测试手段：功能测试系统融合了现代科技，为电子设备提供更为精确、快速的检测。

功能说明：1、导入式系统分析可以很容易地集成到自动检测线。2、整套系统包括TestJet技术测试过程。3、测试一个程序集或面板的多个程序集。4、为分析系统导入整个机组测试（被测单元）和各个组件的无电源应用。5、使用如DC或先进的测量技术结合复合体阻抗测试与多点保护等功能来检测出大多数的故障，如短路，开路和错误的或不正确安装的组件。6、通过在安全无电源模式下找到大部分被测单元故障，7、得出具体的故障诊断信息，使故障被测单元可以快速进行维修。

ICT的范围及特点检查制成板上在线元器件的电气性能和电路网络的连接情况。能够定量地对电阻、电容、电感、晶振等器件进行测量，对二极管、三极管、光藕、变压器、继电器、运算放大器、电源模块等进行功能测试，对中小规模的集成电路进行功能测试，如所有74系列、Memory 类、常用驱动类、交换类等IC。它通过直接对在线器件电气性能的测试来发现制造工艺的缺陷和元器件的不良。元件类可检查出元件值的超差、失效或损坏，Memory类的程序错误等。功能测试系统可以确保产品符合规定标准和要求。

上世纪80年代前后，日本将美国同类产品加以简化和小型化，并改成使用气动压床式，表示的有日本TESCON，OKANO，使得ICT简单易用并低成本，使之成为电子厂不可或缺的必备检测设备，并迅速推广普及。80年代中国台湾由全球令西方头疼的电子电脑假货来源地逐渐成为电子代工制造重要基地，于上世纪80年代后期，90年代初期，中国台湾开始完全仿制TESCON测试仪，并推出众多品牌的压床式ICT，其价格更加低廉，迫使曾全球头一市占率的日本TESCON淡出市场，并因中国台湾电子代工业大发展而大幅提高市占率。从上世纪70年代开始，国内即有开发类似的静态测试仪，1993年，中国本土品牌更先进日本韩国中国台湾及香港开发出全亚洲头一台windows版的ICT。时至这里，美国泰瑞达和安捷伦仍是先进品牌，成为事实上的此类技术的标准!测试标准制定：根据国际、国内标准，制定合理的功能测试标准，确保产品质量。在线测试系统价格

功能测试系统在产品制造过程中起着重要作用。常州电源测试系统加工

FrameScan电容藕合测试 FrameScan利用电容藕合探测管脚的脱开。每个器件上面有一个电容性探头，在某个管脚激励信号，电容性探头拾取信号。如图所示：1 夹具上的多路开关板选择某个器件上的电容性探头。2 测试仪内的模拟测试板（ATB）依次向每个被测管脚发出交流信号。3 电容性探头采集并缓冲被测管脚上的交流信号。4 ATB测量电容性探头拾取的交流信号。如果某个管脚与电路板的连接是正确的，就会测到信号；如果该管脚脱开，则不会有信号。GenRad类式的技术称Open Xpress。原理类似。此技术夹具需要传感器和其他硬件，测试成本稍高。常州电源测试系统加工