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在上电路中，因R1、R2的连接分流，使Ix笽ref ，Rx = Vs/ V0*Rref等式不成立。测试时，只要使G与F点同电位，R2中无电流流过，仍然有Ix=Iref，Rx的等式不变。将G点接地，因F点虚地，两点电位相等，则可实现隔离。实际实用时，通过一个隔离运算放大器使G与F等电位。ICT测试仪可提供很多个隔离点，消除外围电路对测试的影响。IC的测试 对数字IC，采用Vector（向量）测试。向量测试类似于真值表测量，激励输入向量，测量输出向量，通过实际逻辑功能测试判断器件的好坏。如:与非门的测试对模拟IC的测试，可根据IC实际功能激励电压、电流，测量对应输出，当作功能块测试。电路板功能测试：针对电路板上的各个功能模块进行测试，确保电路板性能稳定。上海小型测试系统服务

自动测试系统：① 被测单元机器接口，用来建立被测单元与控制器之间的联系。②人机接口，用来建立控制器与操作人员之间的联系。它可以是控制器的一部分，也可以是控制台上的开关、键盘、指示灯、显示器等。操作人员可通过键盘或开关把数据传输给控制器，控制器再把数据、结果和操作要求输向阴极射线管、发光二极管或指示灯组等显示器。必要时还可将测试结果输给打印机，制成硬拷贝。③ 测量仪表，用来测定被测单元的输出信号。它可以是模数转换器、频率计数器、数字万用表或其他测量装置。④ 开关系统，用来规定被测单元与自动测试系统中其他部件之间的信号传输路线。浙江无线综合测试系统定制方案各种功能测试系统：涵盖各类电子设备，为不同领域提供专业测试解决方案。

80年代由全球令西方头疼的电子电脑假货来源地逐渐成为电子代工制造重要基地，于上世纪80年代后期，90年代初期，***开始完全仿制TESCON测试仪，并推出众多品牌的压床式ICT，其价格更加低廉，迫使曾全球头一市占率的日本TESCON淡出市场，并因电子代工业大发展而大幅提高市占率。从上世纪70年代开始，国内即有开发类似的静态测试仪，1993年，中国本土品牌更先进日本韩国***及香港开发出全亚洲头一台windows版的ICT。时至这里，美国泰瑞达和安捷伦仍是先进品牌，成为事实上的此类技术的标准! 优点

零点漂移自校正:测量中较常见的问题就是长期工作时的不稳定性和零点漂移。这主要是由于传感器和放人器的零漂造成的。在智能仪器中，利用计算机对由于这种零漂而造成的误差进行自动补偿和修正，或对放大器的增益进行自动调整。从而可在不采用高成本的电子元器件的情况上解决零点漂移问题。提高信噪比:利用计算机强大的计算和数据处理功能，用软件的方法去除噪声。控制测量过程及对测量数据的自动和实时的处理和分析:通过在智能仪器上的计算机来实现。通用自动功能测试系统适用于多种设备的功能性验证。

印制电路板所使用到的自动测试技术发展迅速，尤其以印制板在线测试系统（ATE）普遍应用于印制板光板及各种产品的印制电路板的生产、检测和维修等为主，如右图。ATE 的测试方法可分接触式测试和非接触式测试两大类。其中接触式测试分为在线测试、功能测试、BIST 和边界扫描测试等；非接触式测试又可分为非向量测试、自动视觉测试、红外热图象测试、X 射线和激光测试。随着计算机技术及VXI 总线技术的应用，各种建立在VXI 测试平台上的印制电路板的ATE 和功能测试也得到迅速发展。无线综合功能测试系统适用于测试无线设备功能。无锡测试系统服务

自动化测试：利用自动化技术，实现测试过程的无人化、高效化。上海小型测试系统服务

示例，提供了分别对应ICT和FCT的硬件及软件模块，可以测试空调、冰箱等家电控制板，使电路板的ICT和FCT 测试可以在同一个针床和同一道工序上完成。而且即使客户需要更高的吞吐量、更宽的产品种类、更自动的流水线方式，都依然可以通过这种低成本方式来实现。这些特点为本身具有更高测试需求同时不希望增加测试成本的客户提供了较好的解决方案。良品/不良品分拣功能：通过对HD-1000进行轻松编程，可以根据电路板的OK/NG测试结果，自动使NG的不良品组件流入收纳箱或暂存轨道，使OK的良品组件流入正常的下一道工序。上海小型测试系统服务