无锡通用功能测试系统开发

全自动在线功能测试系统功能：在线测试(ICT)：PCB开路、短路、漏件、错件、变值、反向、虚焊、空焊（包括IC空焊）等。功能测试(FCT)：电压、电流、功率、功率因素、频率、占空比、转速、LED亮度、位置测定、图形识别、声音识别、温度测量以及控制、压力测量控制、精密运动控制、FLASH、EEPROM在线烧录等。UMAT-200型PCBA通用多功能自动测试系统通过PCI、ISA控制板卡和LabVIEW软件，构建一套比较完成的PCBA功能测试系统，运用该系统可实现对PCBA的各种动静态参数进行快速且全方面的自动测试，对于新Model用户无需更换测试硬件，只需增加一个相应治具、编辑一个测试程序即可。测试流程优化：通过优化测试流程，提高测试系统的稳定性和可靠性。无锡通用功能测试系统开发

ICT测试要做到故障定位准、测试稳定，与电路和PCB设计有很大关系。原则上我们要求每一个电路网络点都有测试点。电路设计要做到各个器件的状态进行隔离后，可互不影响。对边界扫描、Nand-Tree的设计要安装可测性要求。为了确保对电路板上的器件进行功能测试，就必须强制驱动器件的逻辑电平，各脚驱动器必须能够吸收或输出足够的电流。根据国际防护标准文件（00-53/1）所推荐的后驱动安全标准，测试仪的较大驱动电流被设计为240mA，测试时间在200ms以内。通过实验，基本能够较好地对被测器件进行隔离，同时也确保了被测器件的安全性。通用功能测试系统定制电机功能测试系统用于检测电机的性能和转速。

治具，常规的治具设计，大多采用双载板平衡杆和针板平衡杆。在测试过程中压板下压时，如果压板、载板、针板固定不佳，容易产生晃动，从而使UUT产生翘边变形，进行而导致测试针和测试点接触不良或者位置偏移，使得测试针弯曲变形引起误测甚至导致UUT裂损。上述情况的发生，尤其是在UUT的厚度发生较大变化时更容易产生。治具定位原理，根据电路板的不同, 可采用以下几种定位方式根据工件的不同情况。1、以外缘轮廓定位，对于面积尺寸较小而且外廓一致性较好的电路板，可采用外轮廓定位方式。长边用定位板，限制2个自由度；短边用定位针，限制1个自由度。在另一短边，还可以增加1只定位针，形成所谓的约束性过定位。这种方式中，两根定位柱所限位的尺寸应比UUT尺寸略大，在0.3mm～0.5mm即可。虽然由于此间隙的存在，定位精度会略有降低，但操作方便、制造简单。2、以“边/孔”定位，对于面积尺寸较大的电路板，可以采用“边/孔”定位，这也属于约束性过定位的一种。定位板限制2个自由度，定位柱限制2个自由度。这种形式中，通常定位柱和UUT定位孔的间隙需要留的更大一些。

操作系统，可供电路板测试选择的操作系统很多，例如UNIX、OS、Windows、Solaris等，选择操作系统时受限于硬件设备的支持、程序人员的技术水平、操作系统的普及程度和操作系统本身特点等诸多因素，趋于采用广为普及的Windows操作系统。总线技术，电路板测试技术的发展与仪器控制总线的发展永远是密切相关的，仪器控制总线的每一次更新都促进电路板测试技术的更新。仪器控制总线有GPIB总线、VXI总线和PXI总线三种，它们是发展过程中依次出现的总线技术，表示着电路板测试技术的发展历程。GPIB总线是早期出现的仪器接口控制总线，多用于常见的台式仪器上，采用该总线集成的系统体积大、数据传输速率低（较大数据传输速率为1MB/s）且同一系统总线上较多可连15台仪器。功能测试系统为电子设备的质量保驾护航，确保产品在交付用户前达到较佳性能。

PCBA通用型自动化测试系统对PCBA多信号可同步测试，人性化的操作界面、模块化的编程环境以及机种（Model）的方便转换，为企业节省人力物力，提高生产效率，从而给企业带来经济效益。基于LabVIEW开发的编程环境。自动多项目集中测试和多测试点同步测试，减少工位和工时。应用本公司自校准技术，转机种不需要高素质工程人员。统一治具结构；利于管理和控制成本。自动准确判断每个细节，不产生遗漏和误判，结果更为可靠。用户界面友好，容易实现新机种自动测试编程和调试。信号采样PC分析得出PASS或FAIL。员工不需思考判断是否达标，PC代替完成。基于LabVIEW2010开发的编译平台，客户在编译平台下进行二次编程，简单、方便、快捷，直接填写检测内容。员工不需思考判断是否达标，PC代替完成并显示测试结果。统计报表功能随时查阅产量及品质状况。功能测试系统普遍用于电子产品的功能性验证。无锡变压器综合测试系统测试步骤

功能测试系统能够快速识别产品的功能性缺陷。无锡通用功能测试系统开发

印制电路板所使用到的自动测试技术发展迅速，尤其以印制板在线测试系统（ATE）普遍应用于印制板光板及各种产品的印制电路板的生产、检测和维修等为主，如右图。ATE 的测试方法可分接触式测试和非接触式测试两大类。其中接触式测试分为在线测试、功能测试、BIST 和边界扫描测试等；非接触式测试又可分为非向量测试、自动视觉测试、红外热图象测试、X 射线和激光测试。随着计算机技术及VXI 总线技术的应用，各种建立在VXI 测试平台上的印制电路板的ATE 和功能测试也得到迅速发展。无锡通用功能测试系统开发