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光谱仪基本参数
  • 品牌
  • 翊明科技
  • 型号
  • SPM5000
  • 类型
  • 光谱仪
  • 产地
  • 杭州
光谱仪企业商机

SPM-5000高精度快速光谱仪系统采用目前国际先进的全息凹面光栅分光技术,光路设计独特,杂散光极低。测试准确度及重复性完全可媲美国内外同类产品。可以满足照明行业质检部门的质量检测、生产部门的质量控制以及开发部门的参数测试设计的日常需求.发光效率、光谱功率分布及色度参数是各类光源及发光材料的重要质量指标,有效的掌握这些质量指标的测量仪器对于各类光源及发光材料的研制及生产有着十分重要的意义。IMS系列CCD光谱仪积分球测试系统正是为满足CIE/IESNA/GB等标准的基础上设计而成的。它的自动化程度高,测试速度快;SPM8000Y翊明医用冷光源测试系统满足YY 1081-2011标准要求。上饶光谱仪价格

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SPM-5000高精度快速光谱辐射计完全符合LM-79的要求。它被设计用于可见光光谱分布分析,通过对各个LED发出的辐射功率进行反馈控制,模仿可见区域中的各种光源。SPM-5000采用先进的具备平常校正的全息光栅,精密光学系统和电子快门技术测试速度可达到毫秒级别,测试精度达到实验室级别。SPM-5000可以进行快速、高精度的测试,用于科学实验室。它与积分球、标准灯、供电电源、参数表共同组成一个测试系统IMS-2020/IMS2021快速光色电综合测试系统。漳州植物生长灯光谱仪SPM-5000高精度快速光谱仪测试数据可以导出IES TM-27 2014(*.spdx)格式。

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SPM5000高精度快速光谱仪测试系统满足ErP指令要求的技术参数测试要求。ErP指令(EU)2019/2020以及能效标签指令(EU)2019/2015已经正式实施,相移因数DF是新增的一个要求。对于不同功率的光源,DF的要求是不一样的。小于等于5W的灯是没有要求的;5W到10W要求DF大于等于0.5; 10W到25W要求DF大于0.7; 25W以上的要求DF大于等于0.9。使用公司的PM310H。 PM310H使用大液晶屏显示,可以在一屏上显示电压、电流、功率、功率因数PF、相移因数DF、电压电流总谐波,电压电流波峰比等参数,读数非常方便。在SPM5000高精度快速光谱仪测试系统报告中体现具体DF参数。

SPM-5000光谱仪全光谱法在测量上要求,在可见波段380nm~780nm每隔5nm波长相对应的jue 对光谱功率分布必须已知,在规定的时间内由中国计量科学研究院标定每个波长相对应的jue 对光谱功率分布,同时标定光通量,已知每个波长的相对应jue 对光谱功率分布之后,把jue 对光谱功率分布列表制作成软件可读取的标准灯jue 对光谱功率分布数据,可去除球壁窗口上的光电探测量器,直接由光纤接入球壁内窗口,光纤另一端接入光谱分析仪的入射狭缝中,测试过程同样为在积分球中先后点燃标准灯和待测光源,球壁上的光纤把光导入光栅单色仪,可测试得出标准灯在每个波长相对应的光功率之比,经由PMT放大后,得出光电流比,然后由标准灯的LAjue 对光谱功率分布P相对计算出待测灯的jue 对光谱功率分布。根据辐射量与光度量的转换公式,对于标准灯和待测灯的光通量,由jue 对光谱功率分布经过计算得出相对光谱功率分布,再由与光谱光度法相同的方法,得出色坐标,色品容差,相关色温,显色指数等光电参数。SPM-5000高精度快速光谱仪采用目前国际先进的全息凹面光栅分光技术,光路设计独特,杂散光极低。

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SPM5000高精度快速光谱仪测试系统(含植物生长灯数据),在SPM5000高精度快速光谱仪测试系统报告中体现具体色容差SDCM参数。满足ANSI C78.377-2015,ANSI C78.376-2001色容差SDCM的测量,参照荧光灯国家标准GB/T10682-2010色容差公式:g11Δx2+2g12ΔxΔy+g22Δy2=K2(1)式中:Δx和Δy表示相对于目标坐标值x,y的误差,g11,g12,g22表示由各目标值决定的系数,K为色容差。标准颜色灯的色品坐标目标值应符合表D1的规定(见附录),系数见表D2。用轴参数计算色容差的算式为:x’/K2a2+y’/K2b2=1(2)式中:x’=Δxcosθ+Δysinθy’=-Δxsinθ+Δycosθa和b分别是1SDCM的长半轴和短半轴,见表D3。详细内容参见荧光灯国家标准GB/T10682-2010。IMS-2020光色电综合测试系统满足CIE 13.3:1995。医用冷光源光谱仪厂家

SPM-5000高精度快速光谱仪用于植物灯测试。上饶光谱仪价格

SPM-5000光谱辐射计采用全息光栅的刻槽通常为近似正弦波形,刻槽等宽平行或者为优化性能而特别设计的不等宽平行。其线槽密度高,刻划面积大,因此杂散光低,同时分辨率也得到大幅度提高。全息光栅在较宽光谱范围内的衍射效率变化平缓,衍射效率较高的波长由刻痕的深度确定。全息光栅的衍射效率通常比闪耀光栅低,但是通过改变刻痕深度和刻痕周期的比率以及采用“离子蚀刻”等技术,也可以获得比闪耀光栅更高的效率。另外,全息光栅不会出现周期性的刻划失误,所以不会产生鬼线。采用全息光栅的光谱仪具有很高的测量精度。上饶光谱仪价格

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