浦东新区核电地震

地震结构检测的标准： YD5083-2005《电信设备抗地震性能检测规范》 GR-63-CORE 《NEBSTM Requirement：Physical protection》 ETSI EN 300-019-2-3-2013 《环境工程(EE)；电信设备的环境条件和环境测试；第2-3部分：环境测试规范；有气候保护的场所的固定应用》 ETSI EN 300-019-2-4-2013 《环境工程(EE)；电信设备的环境条件和环境测试；第2-4部分：环境测试规范；无气候保护位置的固定应用》 NTT 《通信装置的耐震试验方法》 GB 50260-2013 《电力设施抗震设计规范》 HAFJ0053-1995《核电设备抗震鉴定试验指南》 GB/T 2424.25-2000 《电工电子产品环境试验 第3部分：试验导则 地震试验方法》地震测试操作的时候需要注意什么？浦东新区核电地震

上海天梯检测技术有限公司地震试验目的： 要包括高温试验、低温试验、温度快速变化试验、温度冲击试验、恒定温湿度试验、温湿度循环试验、盐雾试验、防水防尘试验、紫外老化试验和氙灯老化试验等。是考核产品在各种环境条件下的适应能力，是评价产品地震的重要试验方法之一。 (1)高温试验 试验目的：用来考核试验样品在高温条件下贮存或使用的适应性。应用于比如像热带天气或炼钢厂等高温环境下工作的仪器、设备等。 试验设备：高低温(湿热)试验箱。 试验条件：一般选定一恒定的温度应力和保持时间。 推荐常用温度：200℃，175℃，155℃，125℃，100℃，85℃，70℃，55℃等; 推荐常用的试验时间有：2h，16h，72h，96h等。GB/T 18207.2-2005地震地震测试需要注意什么？

为了确认产品能在这些环境下正常工作，国标、行标都要求产品在环境方法模拟一些测试项目，上海天梯检测技术有限公司为客户提供以下地震测试服务： 高低温循环测试 恒温恒湿测试 交变湿热测试 低温存储测试 高温存储测试 高低温冲击测试 盐雾测试(Salt Spray Test) 开关电测试(Switch electrical test) 胶带附着力测试(The tape adhesion test) 振动测试随机/正弦(Vibration test) 包装箱自由跌落测试(Drop test) 元器件推拉力测试(Push And Pull) 蒸气老化测试(Steam Aging test) 元器件可焊性测试(Solderability test) IP等级防护测试 电源拉扭力测试 LED光衰寿命测试及认证 回焊炉试验 塑封芯片MSL等级测试

高压空载，低压限流态运行试验 测试说明： 高压空载运行是测试模块的损耗情况，尤其是带软开关技术的模块，在空载情况下，软开关变为硬开关，模块的损耗相应增大。低压满载运行是测试模块在较大输入电流时，模块的损耗情况，通常状态下，模块在低压输入、满载输出时，效率较低，此时模块的发热较为严重。 试验是模仿电子产品工作状态进行的，即焊点由于自身的电阻，当有电流通过时会发热，而不工作时焊点恢复到室温，从高温到室温意味着焊点经受高低温的变化，在汽车电子中有些部位电子产品中焊点升温会达刭800C以上。如果再加上环境温度交替变化那么焊点升温还会更高。故该试验方法实用性强，但试验周期长费用高，试验前应做好充分准备。地震测试的两个关键性能指标是什么？

自然界非常具有破坏力的力量之一就是地震，当地震发生后可以对社会造成毁灭性的生命和财产损失。除了建筑物和结构，地震损坏的设备可能直接或间接地为人们或环境造成危害。基于对人们和设施的保护，在一定的时间及环境下可以进行模拟地震测试，主要为了检测产品的抗震性能对于使用的通信及涉及安全(如核控制方面等)的设备应当经过抗震性能检测。目前发生在世界上主要地区的地震均可以在上海天梯地震模拟实验中重现，而且我国规定在我国抗震设防烈度 7 度以上(含 7 度)地区的公用电信网上使用的服务器和网关设备，应通过抗地震性能检测，未通过的产品不得在工程中使用。地震测试主要有哪些方面?浦东新区核电地震

地震试验测试的目的是什么？浦东新区核电地震

上海天梯检测技术有限公司地震测试的目的： 地震发生时，通讯信号及电子产品都会被损害，提前对电子工业级及通讯设备的测试非常重要，其重要性可从电子产品发展的三个特点来加以说明。 首先，电子产品的复杂程度在不断增加。人们较早使用的矿石收音机是非常简单的，随之先后出现了各种类型的收音机、录音机、录放相机、通讯机、雷达、制导系统、电子计算机以及宇航控制设备，复杂程度不断地增长。其次，电子产品的使用环境日益严酷。从实验室到野外，从热带到寒带，从陆地到深海，从高空到宇宙空间，经受着不同的环境条件，除温度、湿度影响外，海水、盐雾、冲击、振动、宇宙粒子、各种辐射等对电子元器件的影响，导致产品失效的可能性增大。 第三，电子产品的装置密度不断增加。从一代电子管产品进入第二代晶体管，现已从小、中规模集成电路进入到大规模和超大规模集成电路，电子产品正朝小型化、微型化方向发展，其结果导致装置密度的不断增加，从而使内部温升增高，散热条件恶化。浦东新区核电地震

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