LB膜分析仪膜天平测量范围：0-130mN/m2、膜天平分辨率：10μN/m3、误差小于0.1%4、压缩速度：1mm-200mm/min5、表面位能测试精度：1mv6、试片尺寸(长x宽)：40x26mm7、主机尺寸：33x14x6(h)cm(13x5.5x2.4inches)8、总重量3.55kg(7.8lbs)3特点编辑1、极高的检测器精度，高于0.01mN/m2、模块化设计，有表面势能测量、Brewster角显微镜等多种功能配件选择3、对震动不敏感，实验重复性优异4、可沉积多层膜，并可做交替5、在研究动力学过程中，可选配磁力搅拌系统6、样品需要量少，测量表面张力**少液体需要量只需300ul，测量表面势能只需20mlLB膜分析仪可以分析膜的吸附性和解吸性。安徽新型LB膜分析仪设计
(2)可以制备单分子膜，也可以逐层累积形成多层LB膜，组装方式任意选择；(3)可以人为选择不同的高分子材料，累积不同的分子层，使之具有多种功能；(4)成膜可在常温常压下进行，所需能量小，基本不破坏成膜材料的高分子结构；(5)LB膜技术在控制膜层厚度及均匀性方面远比常规制膜技术优越；(6)可有效地利用LB膜分子自身的组织能力，形成新的化合物。LB膜分析仪的缺点(1)由于LB膜淀积在基片上时的附着力是依靠分子间作用力，属于物理键力，因此膜的机械性能较差；(2)要获得排列整齐而且有序的LB膜，必须使材料含有两性基团，这在一定程度上给LB成膜材料的设计带来困难；(3)制膜过程中广东新型LB膜分析仪销售厂家LB膜分析仪可以分析膜的分子结构和分子排列。
LB膜分析仪的工作原理LB(Langmuir-Blodgett)膜分析仪为一款单分子层膜的制备和表征设备，是LB膜的沉积领域应用Z的一款设备。LB膜分析仪配备了镀膜井和镀膜头，在所需的堆积密度下，镀膜头可以用来将Langmuir膜转移到固体基材上，镀膜井可以在Langmuir膜下为固体样品提供空间。将Langmuir膜转移到样品上，密度，厚度及均匀性等性质将会保留，从而实现了制备不同组成的多分子层结构的可能。与其他有机薄膜沉积技术相比，LB沉积方法受功能性分子的分子结构限制影响很小，这意味着LB技术是唯yi能够进行自下向上的一种组装方法。
LB膜分析仪为一款单分子层膜的制备和表征设备，是LB膜的沉积领域应用普遍的一款全球设备。LB膜分析仪配备了镀膜井和镀膜头，在所需的堆积密度下转移到固体基材上，为固体样品提供空间。膜转移到样品上，密度，厚度及均匀性等性质将会保留，从而实现了制备不同组成的多分子层结构的可能。LB膜分析仪包含以下几种：常规型、常规交替型、大型交替型、缎带式、配置显微镜窗口型、Langmuir-Schaefer型（小型，中型，大型）。上海艾飞思精密仪器有限公司LB膜分析仪可以测量膜的表面张力和界面张力。
技术参数：KSVMinitrough1技术指标1.工作条件：1.1电源：220V，单相，50Hz1.2防震、防尘2.结构2.1特点：可扩展的模块化设计，可与KSVQCM(石英天平分析仪)和KSVBrewster角显微镜在线连用2.2主机：采用独特的数据总线设计，膜压测量系统和膜面积控制系统，实现快速反馈，达到精细的控制3.膜压测量系统3.1测量原理：Wilhelmy板法，铂传感器3.2膜天平测量范围：0~125mN/m3.3膜天平分辨率：4μN/m4.膜面积控制系统4.1膜面积调节：两个对称运动的滑杖压缩或扩张单分子层，软件控制操作，用户程序设置工艺参数4.2滑杖速度范围：0.02~200mm/min4.3滑杖速度误差：<1%4.4滑杖驱动马达：高精度微步阶的直流伺服马达4.4槽表面积：375x75mmLB膜分析仪可以用于研究膜的电学性质和磁学性质。安徽新型LB膜分析仪设计
LB膜分析仪可以测量膜的机械变形和机械应力。安徽新型LB膜分析仪设计
例如，在材料科学中，LB膜分析仪可以用于研究纳米材料的性质，如纳米颗粒的形态、大小、分布等；在生物学中，LB膜分析仪可以用于研究细胞膜的性质，如细胞膜的厚度、孔径大小、表面张力等。此外，LB膜分析仪还可以用于制备具有特定性质的膜，如具有光学、电学、磁学等性质的膜，这些膜在光电子学、传感器、储能等领域有着普遍的应用前景。总之，LB膜分析仪是一种非常重要的研究工具，它为我们深入了解膜的性质和应用提供了有力的支持。安徽新型LB膜分析仪设计
