放射性表面污染仪推荐企业

    β和γ射线束通过吸收体后被减弱的程度可用下式表示:式中I0、I分别为射线束通过吸收体前后的强度值,ρ和d为吸收体的密度和厚度值,μm为吸收体对该射线束的质量吸收系数。测得射线束强度变化，即可由上式确定吸收体的厚度或密度。其应用有透射式同位素密度计、厚度计和料位计等。射线可使感光胶片感光，根据透过吸收体的射线使感光胶片的感光情况显示，可以进行射线照相探伤。散射β射线、γ射线与物质相互作用会产生散射，其散射角甚至可大于90°，散射的程度与散射体的厚度、密度及原子序数有关。根据这一效应建立的反散射测量仪，可用于测定材料的厚度和密度，特别适用于涂层厚度的测量。快中子与轻元素碰撞，能量迅速降低，待分析材料中如含氢丰富，中子慢化程度就高。根据此原理建立了中子测水分和中子测井(石油)技术。活化低能β粒子与适当的磷光体作用可以发光，根据这种效应已经制成了氚发光粉和氚灯。低能光子可以激发元素发射特征X射线,利用配有同位素低能光子源的X射线荧光分析仪可进行元素分析。放射性核素发射的α粒子和高能γ射线，可诱发轻元素原子核发生(α,n)、(γ,n)核反应。利用这些核反应制成的中子源可用于元素的中子活化分析。辐射源，是指可以通过发射电离辐射或释放放射性物质而引起辐射照射的一切物质或实体。放射性表面污染仪推荐企业

表面发射率响应是指

分别用α、β系列标准平面源测定α、β表面污染仪对α、β粒子的响应。检定测量时，探测器窗与标准平面源应该保持平行，标准平面源活性区面积应覆盖探测器窗。α标准平面源距探测器表面距离为5mm，β标准平面源距探测器窗表面距离为10mm。

用α、β表面污染仪依次分别对α、β系列标准源测量，每一系列标准源至少包括3个相邻量级的标准源，每一个标准源重复读数不小于5次，取平均值。α、β表面污染仪扣除本底后的净计数，与探测器窗对应的标准平面源活性区面积上表面发射率的商，即为被检仪器的表面发射率响应。 放射性表面污染仪推荐企业α粒子的射程比较短，活性材料的均匀性就显得很重要。

监测区通常不需专门防护手段和安全措施，但需要经常对职业照射进行监督和评价。对监督区的要求是：1采用适当的手段划出监督区的边界；2在监督区的入口处的适当地点设置表明监督区的标牌；3定期审查该区的条件，以确定是否需要采取防护措施和做出安全规定或是否需要更改监督区的边界。需要说明的是：不少人主张新标准中能给出分区的定量指导，使它更具有可操作性，但设计部门和某此**认为，在国家基本安全标准中不一定要规定过细定量标准，应可在专业（行业）标准中依据《基本标准》给出的分区原则和给出**性较强的分区定量指导。

    α粒子为带电的重粒子，所以探测这种粒子的常见探测器有：1.栅网电离室测量的立体角为2π，适合于大面积样品的测量，特别是弱放射性α样品测量；但装置较复杂、成本高。2.正比计数器这种探测器结构简单、使用方便，但能量分辨比电离室差。3.闪烁探测器所用的闪烁体一般选用ZnS(Ag)晶体，也可用玻璃闪烁体。4.半导体探测器半导体α探测器目前所配用的探测器多为AuSi面垒和SiPIP，以及Si(Li)探测器。之所以得到广泛应用是因它有很高的能量分辨率，对5MeV的α粒子，可小于，而闪烁谱仪为≥3%(对150keV)。对面垒型半导体α谱仪重要的是选择比较好的工作电压，因为电压太低会使载流子速度变慢，导致能量分辨变差；电压太高，会增大噪声也使能量分辨变差。比较好的工作电压要由实验来确定。5.固体径迹探测器使用云母、塑料等一类材料，当α粒子打在这类材料上时，沿路径会产生损伤，经过化学处理后，这些损伤扩大成可在显微镜下观测的空洞；通过测量这些空调达到探测α粒子的目的。α、β表面污染仪主要用于测量现场的设备、地面、台面、衣服和人体皮肤表面有无放射性污染。

对于个人受到正常照射以及受到潜在照射危险加以限制。对这一条应注意以下要点：1个人可能受到来自多项获准实践的综合照射，所谓“限制”是指对个人所受的来自所有有关获准实践的综合照射的限制，以保证个人不会受到不可接受的健康危险。2剂量限制是对个人所受的正常照射的限制，其目的是保证各项有关获准实践所致的个人总有效剂量和qiguan或zuzhi的总当量剂量不超过《基本标准》所规定的相应剂量限值。3危险限制是对个人所受的潜在照射的限制，其目的是保证各项有关获准实践所致的个人总潜在照射的危险限值。4根据ICRP第64号出版物的建议，本标准规定危险值应与正常照射剂量限值所相应的健康危险处于同一数量级水平。放射性发光涂料卫生防护标准。在线检测污染仪定做

核技术应用主要是指放射性核素射线穿透性能和射线的能量在除核电外的工业、医学、环境保护等领域中的应用。放射性表面污染仪推荐企业

对职业照射的评价主要应以个人监测为基础，《基本标准》规定，对于任何在控制区工作的工作人员，或有时进入控制区工作并可能受到xianzhu职业照射的工作人员，或其职业照射剂量可能大于5mSv/年的工作人员均应进行个人剂量监测；对在监督区或偶尔进入控制区工作的工作人员，如果预计其职业照射在1mSv~5mSv/年范围内，应尽可能监测。对进行个人监测不现实或不可行的情况下，经审管部门认可后，可根据工作场所监测结果和受照地点和时间的资料对工作人员的职业照射做出评价。对于工作中可能受到放射性物质体内污染的工作人员应安排相应内照射监测，为内照射评价提供剂量数据。放射性表面污染仪推荐企业

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