近一个世纪以来，随着核技术发展，在整个国民经济领域得到guangfan应用，人们在受益同时也发现了辐射危害。为了更好促进核技术发展，又能保护职业人员和公众健康、保护环境，人们迫切希望制定一个辐射标准，力求有效控制和防止可能带来的电离辐射危害，并成为人们在发展核技术及期应用中保障自射安全与保护环境的重要手段。随着核技术应用日益guangfan，人们对电离辐射防护与辐射源的安全提出了更高要求，因此辐射防护标准必须随着科学技术发展和人们对电离辐射本质认识的深化而不断更新和完善。X射线正比计数管是一种带有能透过X射线入射窗的正比计数管。浙江表面污染仪测量范围
气泡室是探测高能带电粒子径迹的一种有效的手段,它曾在50年代以后一度成了高能物理实验的**风行的探测设备,为高能物理学创造了许多重大发现的机会.气泡室是由一密闭容器组成,容器中盛有工作液体,液体在特定的温度和压力下进行绝热膨胀,由于在一定的时间间隔内（例如50ms）处于过热状态,液体不会马上沸腾,这时如果有高速带电粒子通过液体,在带电粒子所经轨迹上不断与液体原子发生碰撞而产生低能电子,因而形成离子对,这些离子在复合时会引起局部发热,从而以这些离子为**形成胚胎气泡,经过很短的时间后,胚胎气泡逐渐长大,就沿粒子所经路径留下痕迹.如果这时对其进行拍照,就可以把一连串的气泡拍摄下来,从而得到记录有高能带电粒子轨迹的底片.照相结束后,在液体沸腾之前,立即压缩工作液体,气泡随之消失,整个系统就很快回到初始状态,准备作下一次探测.工作液可用液氢或液氘,需在甚低温下工作,也可用液态碳氢有机物,如丙烷、***等。辽宁固定式放射性表面污染仪重带子粒子一般是指比电子质量大得多的那些带电粒子。
其他无机晶体还有碘化铯（铊）、碘化锂（铕）、硫化锌（银）等，各有特点。新出现的有锗酸铋等。气体和液体的无机闪烁体，多用惰性气体及其液化态制成、如氙、氪、氩、氖、氦等。其中以氙的光输出比较大而较多使用。有机闪烁体有机闪烁体大多属于苯环结构的芳香族碳氢化合物，其发光机制主要由于分子本身从激发态回到基态的跃迁。同无机晶体一样，有机闪烁体也有两个发光成分,荧光过程小于1纳秒。有机闪烁体又可分为有机晶体闪烁体、液体闪烁体和塑料闪烁体。有机晶体主要有蒽、茋、萘等，具有比较高的荧光效率，但体积不易做得很大。液体闪烁体和塑料闪烁体可看作是一个类型，都是由溶剂、溶质和波长转换剂三部分组成，所不同的只是塑料闪烁体的溶剂在常温下为固态。还可将被测放射性样品溶于液体闪烁体内，这种“无窗”的探测器能有效地探测能量很低的射线。液体和塑料闪烁体还有易于制成各种不同形状和大小的优点。塑料闪烁体还可以制成光导纤维，便于在各种几何条件下与光电器件耦合。光电转换器件一般采用光电管与光电倍增管。但是，后出现的半导体光电器件，具有高的量子转换效率和低功耗，便于闪烁探测器的微型化和提高空间分辨率。
计量器具标识：α、β表面污染仪应具有生产厂家、规格型号、出厂编号以及接线端口等清晰标识。
检定条件
计量标准：α标准平面源，表面发射率范围（103至105）/(min.2πsr)，相对扩展不确定度不超过5%（K=2）;平面源表面发射率的不均匀性不超过10%。
参考核素：241Am,239Pu。
β标准平面源：表面发射率范围（104至106）/(min.2πsr)，相对扩展不确定度不超过5%（K=2）;平面源表面发射率的不均匀性不超过10%。
参考核素：204Tl，36Cl。
如果探测器用于测量比较大能量小于200keV的β粒子，参考核素为14C。 高气压电离室一种内充高气压气体的电离室。
β和γ射线束通过吸收体后被减弱的程度可用下式表示:式中I0、I分别为射线束通过吸收体前后的强度值,ρ和d为吸收体的密度和厚度值,μm为吸收体对该射线束的质量吸收系数。测得射线束强度变化，即可由上式确定吸收体的厚度或密度。其应用有透射式同位素密度计、厚度计和料位计等。射线可使感光胶片感光，根据透过吸收体的射线使感光胶片的感光情况显示，可以进行射线照相探伤。散射β射线、γ射线与物质相互作用会产生散射，其散射角甚至可大于90°，散射的程度与散射体的厚度、密度及原子序数有关。根据这一效应建立的反散射测量仪，可用于测定材料的厚度和密度，特别适用于涂层厚度的测量。快中子与轻元素碰撞，能量迅速降低，待分析材料中如含氢丰富，中子慢化程度就高。根据此原理建立了中子测水分和中子测井(石油)技术。活化低能β粒子与适当的磷光体作用可以发光，根据这种效应已经制成了氚发光粉和氚灯。低能光子可以激发元素发射特征X射线,利用配有同位素低能光子源的X射线荧光分析仪可进行元素分析。放射性核素发射的α粒子和高能γ射线，可诱发轻元素原子核发生(α,n)、(γ,n)核反应。利用这些核反应制成的中子源可用于元素的中子活化分析。采用热扩散、离子注入和表面势垒工艺制备的PN结和表面势垒探测器称为结型半导体探测器。上海核辐射表面污染仪
P型同轴高纯锗探测器是由P型HPGe单晶制成。浙江表面污染仪测量范围
放射性αβ表面污染仪检定规程
范围：本规程适用于α、β表面污染仪的***检定、后续检定和使用中检查，包括α表面污染测量仪与监测仪，β表面污染测量仪与监测仪，以及α/β表面污染测量仪和监测仪。
本规程不适用于固定式α、β个人表面污染测量监测装置以及比较大能量小于60keV的β粒子测量或监测仪器的检定。
引用文件：本规程引用下列文件：
JJF 1001-2011 通用计量术语及定义
GB/T4960.1-2010 核科学技术术语 第1部分：核物理与核化学
GB/T 4960.6-2008 核科学技术术语 第6部分：核仪器仪表
GB/T 5202-2008 辐射防护仪器α、β和α/β（β能量大于60keV）污染测量仪与监测仪 浙江表面污染仪测量范围
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