广州炉前AOI原理

支持客户离线编程、客户远程调控、远程调试1、支持系统学习训练，学习越多效果越好；2、支持本地学习。爱为视智能科技是新一代AI视觉前沿技术公司,率先对AOI进行变革.采用深度学习算法,解决AOI编程复杂,误报多的行业痛点,为客户提供智能的插件检测方案.公司团队深耕计算机视觉领域,图形,图像领域16余年.拥有20年行业背景.合作客户覆盖工控,电源,电力.家电.汽车电子.医疗电子.消费电子等多个行业.在长期的经营活动中以高效的服务赢得广大客户的信赖及推介.欢迎您的来电咨询合作。目前常用的图像识别算法为灰度相关算法，通过计算归一化的相关来量化检测图像和标准图像之间的相似程度。广州炉前AOI原理

AOI检测原理是采用摄像技术将被检测物体的反射光强以定量化的灰阶值输出，通过与标准图像的灰阶值进行比较，分析判定缺陷并进行分类的过程。与人工检查做一个形象的比喻，AOI采用的普通LED或特殊光源相当于人工检查时的自然光，AOI采用的光学传感器和光学透镜相当于人眼，AOI的图像处理与分析系统就相当于人脑，即“看”与“判”两个环节。因此，AOI检测的工作逻辑可以简单地分为图像采集阶段（光学扫描和数据收集），数据处理阶段（数据分类与转换），图像分析段（特征提取与模板比对）和缺陷报告阶段四个阶段（缺陷大小类型分类等）。为了支持和实现AOI检测的上述四个功能，AOI设备的硬件系统也就包括工作平台，成像系统，图像处理系统和电气系统四个部分，是一个集成了机械，自动化，光学和软件等多学科的自动化设备。3dAOI编程AOI运用于图像分析技术。

AIVS-D系列炉前插件AOI特点简介●采用声音提示，弹窗对比图，主图突出显示不良红框等多种提醒，符合人体工学●一听，二看，三聚焦，便于员工听到异常提醒后直接观察，使用弹窗显示不良器件对比图●深度学习算法，海量实际场景数据训练；低误报，支持6钟混板检查。●PCB二维码，支持MES对接●实现自动编程，只需5分钟●生产数据实时图表显示，可视化管理，检测数据便捷导出。AIVS-D系列炉前AOI规格参数光源:八侧面多角度高亮条形光源相机：标配2000万CCD全彩工业面阵相机（可选配1200万/2500万/2900万）FOV：400*300mm可检PCBA尺寸：宽度400mm，长度不限；可选配宽度750mm，长度不限CPU：inteli59600KF；GPU：NVIDIA独立显卡显存：8G/6G内存/硬盘存储：16GDDR4/2T操作系统：：22寸/。

随着计算机的快速发展，AOI也采用了目前许多成熟的图像分析技术，包括模板匹配法(或自动对比)、边缘检测法、特征提取法(二值图)、灰度直方图法、傅里叶分析法、光学特征识别法等，每个技术都有优势和局限。模板比较法通过获得物体图像，如片状电容或QFP，并用该信息产生一个刚性的基于像素的模板。在检测位置的附近，传感器找出相同的物体。当相关区域中所有点进行评估之后，找出模板与图像之间有Z小差别的位置停止搜寻。AOI系统为每个要检查的物体产生这种模板，通过在不同位置使用相应模板，建立对整个板的检查程序，来查找所有要求的元件。但是由于元件检测图像很少完全匹配模板，所以用两种方法来解决这个问题：可以用一定数量的容许误差来确认匹配的，如果模板太僵硬，可能产生对元件的“误报”;如果模板松散到接受大范围的可能变量，也会导致“漏报”;可以根据同类的众多良品进行标准模板的计算，或者叫“特征元件”，这样可以Zda限度提取该类元件的共性特征，从而降低误报率。简单来说货真价实的AOI检测仪模拟和拓展了人类眼、手的功能，利用光学成像方法模拟人眼的的视觉成像功能。

AOI又叫自动光学检测仪，是应用于表面贴装生产流水线上的一种自动光学检查装置，可有效的检测印刷质量、贴装质量以及焊点质量。AOI的中心是CCD摄像系统抓取图片，然而通过图像处理卡与计算机处理软件系统等系列的算法处理后，与标准图像进行对比，发现缺陷，并生产文件。使用AOI可以在装配工艺过程的早期查找和消除错误，以实现良好的过程控制。早期发现缺陷将避免将不良品送到后工序的装配阶段，AOI将减少修理成本避免报废不可修理的电路板。AOI系统是集精密机械、自动控制、光学图像处理、软件系统等多学科的自动化设备。上海AOI检测仪

AOI检测仪有很高的自洁能力，不能给生产环境尤其被测工件本身带来二次污染，这会影响系统构件的材料选型。广州炉前AOI原理

照明光源按照波长分类可以分为可见波长光源，特殊波长光源。可见波长光源也就是一般现代工业AOI检测设备中较常用的红绿蓝LED光源。特殊波长光源一般是指红外或紫外波长光源，一些特殊材料在可见光范围内吸收差别不大，灰阶变化不明显时可以考虑采用特殊波长光源，比如说利用紫外光能量高可以激发荧光材料的原理，检测具有荧光发光特性物质微残留时紫外光源就是一种比较有效的手段，因材料成分与红外光谱有对应关系的原理，红外光源对不具有发光性质的有机化合物残留缺陷检出就有很大的作用，甚至可以实现成分分析。特殊光源中，利用偏振光与物体相互作用后偏振态的变化，利用光学干涉原理的白光干涉（whitelightinterferometry）在特定缺陷检测中的得到了应用，例如通过相干光的干涉图案计算出对应的相位差和光程差，可以测量出被测物体与参考物体之间的差异，且分辨率与精度为可以达到亚波长。 广州炉前AOI原理

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