光源:八侧面多角度高亮条形光源相机:标配2000万CCD全彩工业面阵相机(可选配1200万/2500万/2900万)FOV:400*300mm可检PCBA尺寸:宽度400mm,长度不限;可选配宽度750mm,长度不限CPU:inteli59600KF;GPU:NVIDIA独立显卡显存:8G/6G内存/硬盘存储:16GDDR4/2T操作系统::22寸/,率先对AOI进行变革。采用深度学习算法,解决AOI编程复杂、误报多的行业痛点,为客户提供智能的插件检测方案。公司团队深耕计算机视觉领域、图形、图像领域16余年,拥有20年行业背景。合作客户覆盖工控、电源、电力、家电、汽车电子、医疗电子、消费电子等多个行业。在长期的经营活动中以高效的服务赢得广大客户的信赖及推介。爱为视新一代智能插件AOI,采用卷积神经网络、先进深度学习模型,计算机视觉、图形图像处理等技术。aoi工程师招聘
当前电子产品日渐向着小型化趋势发展,对产品元器件的微型化要求也越来越高,微型器件的组装和检测难以只通过人工完成,由此产生越来越多的自动检测设备需求。与此同时,自动检测设备还能够健身制造成本、提升产品质量,AOI检测设备代替人工的进程发展较快。在此背景下,中国自动光学检测行业逐步发展起来。从AOI检测设备来看,目前AOI检测设备是SMT加工厂必备的设备,平均一条SMT生产线至少需要2-3台AOI检测设备,但我国AOI检测设备的渗透率较低,只为50%左右。 离线AOI配件与人工检查做一个形象的比喻,AOI采用的普通LED或特殊光源相当于人工检查时的自然光。
光电转化器可以分为CCD(chargeCouplingdiode)和CMOS(complementarymetaloxidesemiconductor)两种。因为制作工艺与设计不同,CCD与CMOS传感器工作原理主要表现为数字电荷传送的方式的不同,工作原理如下图所示,CCD采用硅基半导体加工工艺,并设置了垂直和水平移位寄存器,电极所产生的电场推动电荷链接方式传输到模数转换器。这样的结构与设计很难集成很多的感光单元,制造成本高且功耗大;而CMOS采用无机半导体加工工艺,每像素设计了额外的电子电路,每个像素都可以被定位,而无需CCD中那样的电荷移位设计,对图像信息的读取速度远远高于CCD芯片,因光晕和拖尾等过度曝光而产生的非自然现象的发生频率要低得多,价格和功耗比CCD光电转化器也低,但其缺点是半导体工艺制作的像素单元缺陷多,灵敏度会有一些问题,同时,为每个像素电子电路提供所需的额外空间不会作为光敏区域。芯片表面上的光敏区域部分(定义为填充因子)小于CCD芯片。从理论上讲,这个原因导致可以收集的图像信息光子数会有所减少,所以,CMOS光电转化元件一般需要搭配高亮度光源,噪音也比较大。
AOI对产品走下生产线时的比较终状态进行监控。当生产问题非常清楚、产品混合度高、数量和速度为关键因素的时候,优先采用这个目标。AOI通常放置在生产线比较末端。在这个位置,设备可以产生范围大范围的过程控制信息。过程跟踪使用检查设备来监视生产过程。典型地包括详细的缺陷分类和元件贴放偏移信息。当产品可靠性很重要、低混合度的大批量制造、和元件供应稳定时,制造商优先采用这个目标。这经常要求把检查设备放置到生产线上的几个位置,在线地监控具体生产状况,并为生产工艺的调整提供必要的依据。虽然AOI可用于生产线上的多个位置,各个位置可检测特殊缺陷,但AOI检查设备应放到一个可以尽早识别和改正比较多缺陷的位置。AOI检测行业应用需求结构主要通过PCB、半导体和FPD的产量比例来进行测算得到。
在ICT上,相对这些情况的缺陷概率直接与情况的严重性成比例。轻微的少锡很少导致缺陷,而严重的情况,如根本无锡,几乎总是在ICT造成缺陷。焊锡不足可能是元件丢失或焊点开路的一个原因。尽管如此,决定哪里放置AOI需要认识到元件丢失可能是其它原因下发生的,这些原因必须放在检查计划内。这个位置的检查较直接地支持过程跟踪和特征化。这个阶段的定量过程控制数据包括,印刷偏移和焊锡量信息,而有关印刷焊锡的定性信息也会产生。回流焊前。检查是在元件贴放在板上锡膏内之后和PCB送入回流炉之前完成的。这是一个典型地放置检查机器的位置,因为这里可发现来自锡膏印刷以及机器贴放的大多数缺陷。在这个位置产生的定量的过程控制信息,提供高速片机和密间距元件贴装设备校准的信息。这个信息可用来修改元件贴放或表明贴片机需要校准。这个位置的检查满足过程跟踪的目标。回流焊后。在SMT工艺过程的之后步骤进行检查,这是AOI较普及的选择,因为这个位置可发现全部的装配错误。回流焊后检查提供高度的安全性,因为它识别由锡膏印刷、元件贴装和回流过程引起的错误。 AOI通过光的反射、斜面反射、漫反射分别得到元件本体、焊点、焊盘的不同颜色信息。江苏AOI配件
AOI系统集成技术会牵涉到关键器件、系统设计、整机集成、软件开发等内容。aoi工程师招聘
照明光源按照波长分类可以分为可见波长光源,特殊波长光源。可见波长光源也就是一般现代工业AOI检测设备中较常用的红绿蓝LED光源。特殊波长光源一般是指红外或紫外波长光源,一些特殊材料在可见光范围内吸收差别不大,灰阶变化不明显时可以考虑采用特殊波长光源,比如说利用紫外光能量高可以激发荧光材料的原理,检测具有荧光发光特性物质微残留时紫外光源就是一种比较有效的手段,因材料成分与红外光谱有对应关系的原理,红外光源对不具有发光性质的有机化合物残留缺陷检出就有很大的作用,甚至可以实现成分分析。特殊光源中,利用偏振光与物体相互作用后偏振态的变化,利用光学干涉原理的白光干涉(whitelightinterferometry)在特定缺陷检测中的得到了应用,例如通过相干光的干涉图案计算出对应的相位差和光程差,可以测量出被测物体与参考物体之间的差异,且分辨率与精度为可以达到亚波长。aoi工程师招聘
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