探针台基本参数
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探针台企业商机

半自动型:chuck尺寸800mm/600mm;X,Y电动移动行程200mm/150mm;chuck粗调升降9mm,微调升降16mm;可搭配MITUTOYO金相显微镜或者AEC实体显微镜;针座摆放个数6~8颗;显微镜X-Y-Z移动范围2"x2"x2";可搭配Probecard测试;适用领域:8寸/6寸Wafer、IC测试之产品。电动型:chuck尺寸1200mm,平坦度土1u(不锈钢或镀金);X,Y电动移动行程300mmx300mm;chuck粗调升降9mm,微调升降16mm,微调精度土1u;可搭配MITUTOYO晶像显微镜或者AEC实体显微镜;针座摆放个数8~12颗;显微镜X-Y-Z移动范围2“x2”x2“;材质:花岗岩台面+不锈钢;可搭配Probecard测试;适用领域:12寸Wafer、IC测试之产品。探针卡焊完后使针尖刚好回到压点中心,同时针焊好后应检查针尖的位置,检查针的牢固性。手动探针台机构

手动探针台机构,探针台

如果需要一款高量测精度的探针台,并不是有些厂商单纯的认为,通过简单的机械加工加上一台显微镜就可以完成,我们在探针台设备的研发中有着近二十年的经验,并有着精细机械加工的技术能力,可以为您提供高准确的探针台电学检测仪器,同时我们与世界电学信号测试厂家有着多年的合作,可以提供各类电学测试解决方案。在对射频设备进行原型设计和测试时,很多情况下,在电路的非端口位置进行测试有助于优化设计或者故障排除。然而实际操作中,在较高的频率下进行测试是一项更大的挑战。河北直流探针台随着探针接触到焊点金属的亚表层,这些效应将增加。

手动探针台机构,探针台

探针台市场占有率及行业分析:针对于电学量测分析设备,探针台则是众多量测设备之一,探针台也是不可或缺的一部分,就目前国内探针台设备的占有率来讲,好的型产品主要集中在欧美以及日本品牌,中端设备主要集中在品牌,而对于量测精度而言,产设备具有一定的优势,我公司探针台系列产品量测组件均采用欧美品牌设备,所以在量测精度上来讲,可以与欧美及日本品牌相媲美,价格适中,应用普遍,并与国内多家高校及研究所合作。这是由于射频传输线和电压探针之间缺乏阻抗匹配,插入常用电压探针会使得结果出现很大偏差。

手动探针台的使用方式:待测点位置确认好后,再调节探针座的位置,将探针装上后可眼观先将探针移到接近待测点的位置旁边,再使用探针座X-Y-Z三个微调旋钮,慢慢的将探针移至被测点,此时动作要小心且缓慢,以防动作过大误伤芯片,当探针针尖悬空于被测点上空时,可先用Y轴旋钮将探针退后少许,再使用Z轴旋钮进行下针,然后则使用X轴旋钮左右滑动,观察是否有少许划痕,证明是否已经接触。确保针尖和被测点接触良好后,则可以通过连接的测试设备开始测试。常见故障的排除当您使用本仪器时,可能会碰到一些问题,下表列举了常见的故障及解决方法。手动探针台技术参数。如果是不合格的芯片,打点器立刻对这个不合格的芯片打点。

手动探针台机构,探针台

手动探针台应用领域:Failureanalysis集成电路失效分析;Waferlevelreliability晶元可靠性认证;Devicecharacterization元器件特性量测;Processmodeling塑性过程测试(材料特性分析);ICProcessmonitoring制成监控;PackagepartprobingIC封装阶段打线品质测试;Flatpanelprobing液晶面板的特性测试;PCboardprobingPC主板的电性测试;ESD&TDRtestingESD和TDR测试;Microwaveprobing微波量测(高频);Solar太阳能领域检测分析;LED、OLED、LCD领域检测分析。某些针尖位置高的扎不上AL层,使测试时这些针上电路不通。安徽芯片探针台生产

探针卡虚焊和布线断线或短路,测试时都要测不稳。手动探针台机构

电缆安装探针既可以手动使用,也可以与多轴探针定位器一起使用。与典型的探针台不同,这些探针足够大,操作员可以手动使用,非常可靠。探针定位器的位置精度和可重复性更高,而且本身可以放置,便于进行测试。与探针台不同,同轴电缆安装探针和定位器可以在工程师或技术人员的典型测试台上用作网络分析仪、信号发生器、频谱分析仪、示波器和其他用于射频/微波、毫米波和高速数字应用的配件。电缆安装射频探针的占位面积小、无损坏,并且具有非侵入式设计,可在高密度应用中进行测试,例如天线阵列、超材料、分形天线、微带传输线、紧凑组件以及具有微小表面安装包装组件的印刷电路板。手动探针台机构

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