Dataray光束质量分析仪价格表

典型应用•CO₂激光器（10.6µm）现场维护与功率密度验证•量子级联激光器（QCL）光束轮廓、M²测试•中红外OPO/OPA系统对准与长期漂移记录•硅基/硫系波导MIR光子芯片出光质量分析•医疗Er:YAG（2.94µm）、Ho:YAG（2.1µm）外科激光焦点监控配置与附件•标配ND-IRGe滤光片（ND1、ND2）•可加保偏光采样器、C-mount透镜组、M²DU自动导轨•30天试用，3年质保，全球分销支持如需更高功率或更大光斑，可叠加LBPS（200mm光束仿形系统）或LLPS（线激光轮廓仪）。WinCamD-IR-BB的探测器采用氧化钒微测热辐射计，具有较高的热灵敏度和空间分辨率。Dataray光束质量分析仪价格表

WinCamD-QD特点：适用于 400 nm 至 1700 nm 波长范围的光束质量分析。量子点探测器，15 µm 像素尺寸，**小可检测光束直径为 0.15 mm。应用：适用于通信波段（如 1550 nm）的激光检测。广泛应用于科研、工业和医疗领域。5. BladeCam-HR特点：高分辨率 CMOS 传感器，1.3 MPixel，1280×1024 像素。适用于小尺寸光束的高精度测量。应用：适用于紧凑的光学系统和 OEM 应用。用于激光器研发和光束质量优化。LLPS 线形激光光束轮廓仪特点：适用于长达 200 mm 的线激光测量。使用 DataRay 的旗舰 WinCamD-LCM4 光束轮廓分析相机进行扫描。应用：用于线激光强度分布的完整图像以及垂直质心图、线宽图的测量。DataRay 提供的这些产品涵盖了从紫外到远红外的***波长范围，适用于多种应用场景自动光束质量分析仪厂家在激光切割、焊接等工业应用中，通过 WinCamD-IR-BB 分析光束质量，优化加工参数。

测量精度传感器类型：选择合适的传感器类型，如 CCD 或 CMOS。虽然 CCD 在影像品质上可能优于 CMOS，但 CMOS 具有低成本、低功耗和高整合度的特点。像素大小：像素大小影响可测量的**小光束尺寸。一般要求**小测试光斑直径大于等于10个像素点大小。动态范围和信噪比：高动态范围和高信噪比的传感器可以提供更准确的测量结果。4. 软件功能实时监控与记录：支持实时数据处理和长期稳定性分析。光束参数测量：能够测量光束直径、椭圆度、质心位置、光束漂移等参数。数据记录与统计：支持**小值、**大值、平均值、标准偏差等统计功能。M² 测量：对于完整的光束质量表征，设备是否应自动记录不同位置的光束轮廓并计算 M² 因子。5. 其他考虑因素连接方式：考虑设备连接到 PC 的便利性，例如通过 USB 2.0 或 USB 3.0 电缆。快门类型：全局快门适用于高速生产线检测的使用场景。设备尺寸与便携性：根据使用场景选择合适尺寸的设备，例如 BladeCam-HR 的紧凑设计使其能够轻松集成到现有的光学系统中。

紫外和近红外波段特点：BladeCam2-XHR-UV 支持 190 nm 至 1150 nm 的波长范围，适用于紫外和近红外波段。应用：适用于紫外激光器（如 355 nm Nd:YAG 激光器）和近红外激光器（如 1064 nm Nd:YAG 激光器）的光束质量分析。总结BladeCam2-XHR-UV 以其高分辨率、紧凑设计和***的波长支持，成为多种应用场景下的理想选择。它不仅适用于激光加工、医疗激光设备和光学系统的现场维修，还支持紫外和近红外波段的光束质量分析。如需了解更多详情或购买，建议访问谱镭光电官网。WinCamD-IR-BB 支持实时数据处理，能够快速响应并记录光束的变化，适用于动态环境中的实时分析。

DataRay 其他类似产品DataRay 提供多种光束质量分析仪和光斑分析仪，适用于不同的波长范围和应用场景。以下是部分产品及其特点：1. WinCamD-LCM 系列特点：高分辨率 CMOS 传感器，4.2 MPixel，2048×2048 像素。有效成像面积 11.3 mm×11.3 mm，像素尺寸 5.5 µm。支持连续光和脉冲光测量，带有 TTL 触发功能。高信噪比 2500:1，动态范围 44 dB。USB 3.0 接口，即插即用。应用：适用于 355 nm 至 1150 nm 波长范围的光束质量分析。广泛应用于科研、工业、医疗和通信领域。WinCamD-IR-BB可用于现场对CO₂激光器的光束质量进行分析，快速评估激光器的性能状态。黑龙江Cinogy光束质量分析仪检测设备

BladeCam系列光束分析仪可用于光学系统集成和设备准直。Dataray光束质量分析仪价格表

光束分析仪测量 M² 的方法光束质量因子 M² 是评估激光光束质量的重要参数，表示实际激光光束与理想高斯光束的接近程度。以下是光束分析仪测量 M² 的主要方法和步骤：1. 标准多次成像法根据国际标准化组织（ISO 11146）标准，多次成像法是测量 M² 的常用方法。具体步骤如下：光束采样：在光束传播路径上，使用光束分析仪在多个不同位置（通常至少10个）采集光束的横截面图像。这些位置应包括光束腰两侧的一个瑞利长度内（|z|<zR）和两个瑞利长度之外（|z|>2zR）。数据拟合：通过分析采集到的光束宽度数据，利用双曲线拟合方法计算 M² 值。2. 单次成像法单次成像法通过一次成像获取光束传播的关键参数，并基于光场传输理论推导出 M² 值。这种方法的**在于：近场光斑测量：使用光束分析仪采集单幅激光近场光斑。模式分解与光场重构：通过模式分解技术得到激光的各本征模式占比及相对相位，进而重构光场分布并计算得到 M² 值。Dataray光束质量分析仪价格表