电子元器件筛选的目的：剔除早期失效产品。提高产品批次使用的可靠性。元器件筛选的特点：筛选试验为非破坏性试验。不改变元器件固有失效机理和固有可靠性。对批次产品进行*筛选。筛选等级由元器件预期工作条件和使用寿命决定。电子元器件筛选常规测试项目：检查筛选：显微镜检查、红外线非破坏检查、 X射线非破坏性检查。密封性筛选：液浸检漏、氦质谱检漏、放射性示 踪检漏、湿度试验、颗粒碰撞噪声检测。环境应⼒筛选：高低温贮存、高温反偏、振动、冲击、离⼼加速度、温度冲击、综合应⼒、动态老炼。 电子元器件筛选覆盖范围：半导体集成电路：时基电路、总线收发器、缓冲器、驱动器、电平转换器、门器件、触发器、LVDS线收发器、运...

几种测试方法有助于这一评级，其中许多电化学可靠性测试方法都适用于助焊剂。(注:对于J-STD-004B中规定的锡膏助焊剂或含芯焊锡线的助焊剂，有些方法可能略有不同)。设计特征和工艺验证对于准备制造一个新的PCB组件非常关键。这将包括调查来料、开发适当的焊接工艺参数、并**终敲定一个经过很多步骤验证的典型的PCB组件。这将花费比用于验证每个组装过程多得多的时间。本文将重点讨论工艺验证步骤中应该进行的测试，助焊剂特性测试IPC要求焊接用的所有助焊剂都按照J-STD-004（目前在B版中)_进行分类。这份标准概述了助焊剂的基本性能要求和用于描述助焊剂在焊接过程中和组装后在环境中与铜电路的反应的行业标...

在精密电子制造业的舞台上，每一块PCBA（印刷电路板组装）的质量都是产品性能与寿命的基石。随着技术的飞速发展，PCBA的复杂度与集成度不断提升，如何有效控制生产过程中产生的污染物，确保电路板的长期可靠性，成为行业共同面临的挑战。广州维柯推出的GWHR256-500多通道SIR/CAF实时离子迁移监测系统，正是这一挑战的解决方案。【深度洞察，精确监测】广州维柯多通道SIR/CAF实时离子迁移监测系统 GWHR256系统遵循IPC-TM-650标准，专为PCBA的可靠性评估而设计，它能够实时监控SIR（表面绝缘电阻）和CAF（导电阳极丝）的变化，精确捕捉哪怕是微小的离子迁移现象。通过外观、润湿时间...

科技**未来，GWHR256为PCBA质量把关》在追求零缺陷的电子制造行业中，预防总是优于纠正。GWHR256系统凭借其高度智能化的设计，不仅能够实时监测，还能通过自检功能确保自身的准确性和稳定性，为PCBA的生产过程加上了一道保险锁。在系统内部，先进的温湿度监测模块，确保测试环境的恒定，排除外界因素对测试结果的干扰，让每一次测试都准确可靠。【环境适应性强，操作便捷】考虑到实际生产环境的多样性，GWHR256系统设计有良好的环境适应性，能在不同温湿度条件下稳定工作，且配备有不间断电源配置，保证测试连续性。其操作界面友好，数据可视化直观，无论是曲线展示还是Excel格式导出，都能轻松实现，为工程...

《GWHR256：打造绿色PCBA生产的守护神》环保与可持续性是当今电子制造业不可忽视的趋势。GWHR256系统在确保PCBA清洁度的同时，也助力企业向绿色生产转型。通过对清洗工艺的精细优化，减少清洗剂的过度使用，避免了资源浪费和环境污染。系统支持的水基清洗剂监测，更是推动了环保型清洗工艺的应用，体现了对环境负责的企业责任。【绿色理念，智能决策】通过实时监测与数据分析，企业能更好地理解不同清洗剂对PCBA清洁度的影响，选择低环境影响的清洗方案。GWHR256系统在提升PCBA品质的同时，也为企业的绿色生产战略提供了科学依据，是推动行业向更加可持续方向发展的强大推手。在这个数字化、绿色化并行的时...

广州维柯多通道SIR-CAF实时离子迁移监测系统——GWHR256-（2000/5000），测试电压高达2000V/5000V可选精度高:1x106-1x109Ω≤±2%；取值速度快:20ms/所有通道；限流电阻:每个通道设有1MΩ限流电阻，保护金属丝晶体做失效分析；配置灵活:模块化设计，可选择16模块*N（1≤N≤16);16通道/模块；测试配置灵活:每块模块可设置不同的测试电压，可同时完成多工况测试；授权手机APP可以远程进行相关管理、操作，查看样品监测数据；操作方便：充分考虑实验室应用场景，方便工程师实施工作；数据可曲线显示；配不间断电源UPS；接口友好:软件可定制，或开放数据接口，或接...

必须重视和加快发展元器件的可靠性分析工作，通过分析确定失效机理，找出失效原因，反馈给设计、制造和使用，共同研究和实施纠正措施，提高电子元器件的可靠性。电子元器件失效分析的目的是借助各种测试分析技术和分析程序确认电子元器件的失效现象，分辨其失效模式和失效机理，确认结果的失效原因，可靠性研究的两大内容就是失效分析和可靠性测试（包括破坏性实验）。两者之间是相互影响和相互制约的。电子元器件技术的快速发展和可靠性的提高奠定了现代电子装备的基础，元器件可靠性工作的根本任务是提高元器件的可靠性。提出改进设计和制造工艺的建议，防止失效的重复出现，提高元器件可靠性。CAF 故障会导致层间短路，降 低电路板的可靠...

一般而言，SIR测试通常用于对助焊剂和/或清洁工艺进行分类、鉴定或比较。对于后者，SIR测试通常用于评估一个人的“免清洗”焊接操作。执行，例如85°C/85%RH和40°C/90%，并定期获得绝缘电阻(IR)测量值。表面绝缘电阻测试（SIR测试）根据IPC的定义，表面绝缘电阻(SIR)是在特定环境和电气条件下确定的一对触点、导体或接地设备之间的绝缘材料的电阻。在印刷电路板(PCB)和印刷电路组件(PCA)领域，SIR测试——通常也称为温湿度偏差(THB)测试——用于评估产品或工艺的抗“通过电流泄漏或电气短路（即树枝状生长）导致故障”。SIR测试通常在升高的温度和湿度条件下在制定SIR测试策略时...

J-STD-004B要求使用65°C，相对湿度为88.5%的箱体，并且按照方法来制备测试样板。表面绝缘电阻要稳定96小时以后进行测试。然后施加低电压进行500小时的测试。测试结束时，在相同的电压下再次测试表面绝缘电阻。除了满足绝缘电阻值少于10倍的衰减之外，还需要观察样板是否有晶枝生长和腐蚀现象。这个测试结果可以定义助焊剂等级是L、M还是H,电化学迁移(ECM)IPC-TM-650方法用来评估表面电化学迁移的倾向性。助焊剂会涂敷在下图1所示的标准测试板上。标准测试板是交错梳状设计，并模拟微电子学**小电气间隙要求。然后按照助焊剂不同类型的要求进行加热。为了能通过测试，高活性的助焊剂在测试前需要...

在精密电子制造业的舞台上，每一块PCBA（印刷电路板组装）的质量都是产品性能与寿命的基石。随着技术的飞速发展，PCBA的复杂度与集成度不断提升，如何有效控制生产过程中产生的污染物，确保电路板的长期可靠性，成为行业共同面临的挑战。广州维柯推出的GWHR256-500多通道SIR/CAF实时离子迁移监测系统，正是这一挑战的解决方案。【深度洞察，精确监测】广州维柯多通道SIR/CAF实时离子迁移监测系统 GWHR256系统遵循IPC-TM-650标准，专为PCBA的可靠性评估而设计，它能够实时监控SIR（表面绝缘电阻）和CAF（导电阳极丝）的变化，精确捕捉哪怕是微小的离子迁移现象。监测模块：状态、数...

广州维柯多通道SIR-CAF实时离子迁移监测系统——GWHR256-500，通道数16-256/128/64/32(通道可选)测试组数1-16组（组数可选）测试时间1-9999小时(可设置)偏置电压1-500VDC（0.1V步进）测试电压1-500VDC（0.1V步进）偏置电压输出精度±设置值1%+200mV（5-500VDC）测试电压输出精度±设置值1%+200mV（5-500VDC）电阻测量范围1x106-1x1014Ω电阻测量精度1x106-1x109Ω≤±2%1x109-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤±20%测试间隔时间1-600分钟（可设置）取值速度20mS/所...

随着物联网和人工智能技术的不断进步，智能电阻可以与其他智能设备进行连接和交互，实现更高级的功能。例如，智能电阻可以与智能手机或智能家居设备连接，实现远程控制和监测。这将为电子行业带来更多的商机和发展空间。智能电阻具有更高的可追溯性。在电子行业中，产品的质量追溯是非常重要的。传统的电阻测试往往无法提供完整的测试记录和数据，难以进行产品质量的追溯。而智能电阻通过内置的存储器和通信模块，可以实时记录测试数据，并将数据上传到云端进行存储和管理。这样，不仅可以方便地查看和分析测试数据，还可以追溯产品的质量问题，及时采取措施进行改进和优化。智能电阻有望推动电子行业的智能化发展。四线法（Four-Wire ...

电迁移失效同常规的过应力失效不同，它的发生需要一个时间累积，失效通常会发生在**终客户的使用过程中，可能在使用几个月后，也可能在几年后，往往会造成经济上的重大损失。但是，电迁移的发生不仅同离子有关，它需要离子，电压差，导体，传输通道，湿气以及温度等各种因素综合作用，在长期累积下产生的失效。随着电子产品向小型化/集成化的发展，线路和层间间距越来越小，电迁移问题也日益受到关注。一旦发生电迁移会造成电子产品绝缘性能下降，甚至短路。所以，通过在样品上施加各类综合应力来评估产品后期使用的电迁移风险就显得异常重要。维柯表面绝缘电阻测试系统能帮助第三方实验室有效监测，检测。四线法的基本原理在于通过将电流引入...

J-STD-004B要求使用65°C，相对湿度为88.5%的箱体，并且按照方法来制备测试样板。表面绝缘电阻要稳定96小时以后进行测试。然后施加低电压进行500小时的测试。测试结束时，在相同的电压下再次测试表面绝缘电阻。除了满足绝缘电阻值少于10倍的衰减之外，还需要观察样板是否有晶枝生长和腐蚀现象。这个测试结果可以定义助焊剂等级是L、M还是H,电化学迁移(ECM)IPC-TM-650方法用来评估表面电化学迁移的倾向性。助焊剂会涂敷在下图1所示的标准测试板上。标准测试板是交错梳状设计，并模拟微电子学**小电气间隙要求。然后按照助焊剂不同类型的要求进行加热。为了能通过测试，高活性的助焊剂在测试前需要...

无论使用何种助焊剂，总会在焊接后的PCB及焊点上留下或多或少的残留物，这些残留物不仅影响PCBA的外观，更可怕的是构成了对PCB可靠性的潜在威胁；特别是电子产品长时间在高温潮湿条件下工作时，残留物便可能导致线路绝缘老化以及腐蚀等问题，进而出现绝缘电阻（SIR）下降及电化学迁移（ECM）的发生。随着电子行业无铅化要求的***实施，相伴锡膏而生的助焊剂也走过了松香（树脂）助焊剂、水溶性助焊剂到******使用的免洗助焊剂的发展历程，然而其残留物的影响始终是大家尤为关心的方面[1]-[4]。SIR 和 CAF 测试:通过在设计和制造阶段进行这些测试，可以提前识别和解决问题。东莞表面绝缘电阻测试方法电...

01电化学迁移测试技术特点1、专业的设备：采用行业占有率比较高的主流进口设备，采样速度更快，漏电捕捉精细，电阻测量精度高。2、专业的工程技术能力支持：除能为客户提供专业的试验评估外，还具备针对测试失效品的专业级失效分析能力，可实现一站式打包服务。3、可灵活地同温湿度环境试验箱，HAST箱，PCT等设备配合测试。某些国际**汽车电子大厂要求其不同供应商，使用不同工艺，不同材质的PCB光板，每一种类型全部需要通过电化学迁移测试才能获得入门资格。通过外观、润湿时间、润湿力评定，可以数值具体化。广州SIR绝缘电阻测试性价比电阻测试线路板表面的每一种材料都有可能是电迁移产生的影响因素：无论是线路板材料和...

无论使用何种助焊剂，总会在焊接后的PCB及焊点上留下或多或少的残留物，这些残留物不仅影响PCBA的外观，更可怕的是构成了对PCB可靠性的潜在威胁；特别是电子产品长时间在高温潮湿条件下工作时，残留物便可能导致线路绝缘老化以及腐蚀等问题，进而出现绝缘电阻（SIR）下降及电化学迁移（ECM）的发生。随着电子行业无铅化要求的***实施，相伴锡膏而生的助焊剂也走过了松香（树脂）助焊剂、水溶性助焊剂到******使用的免洗助焊剂的发展历程，然而其残留物的影响始终是大家尤为关心的方面[1]-[4]。表面绝缘电阻（SIR）测试是通过在高温高湿的环境中持续给予PCB一定的偏压，经过长时间的试验。江苏表面绝缘SI...

当一个较小的偏置电压不能有效地区别更多不同的耐CAF材料和制程时，更高的偏置电压由于会线性地影响失效时间，应该被避免采用。这是因为过高的偏置电压会抵消掉相对湿度的影响，而相对湿度由于局部加热的原因是非常重要的失效机制部分。LK_ling:因为阳极导电丝是很细的，很容易被破坏掉。当50%的部分已经失效了，测试即可停止。当CAF发生时，电阻偏小，施加到CAF失效两端的电压会下降。当测试网络的阻值接近限流电阻的阻值时，显得尤为明显。所以在整个测试过程中，并不需要调整电压。9、500个小时的偏置电压后（一共596个小时），像之前一样重新进行绝缘电阻的测量。10、在500小时的偏压加载后，可以进行额外的...

SIR（表面绝缘电阻）测试在电子制造业中扮演着至关重要的角色，是确保产品质量与可靠性的基石。它专注于评估印刷电路板（PCB）和其他电子组件表面的绝缘性能，防止因助焊剂残留、污染物积累或材料老化导致的短路问题。通过模拟长期使用条件下的电气性能变化，SIR测试帮助制造商识别并解决潜在的电气故障，保障电子产品在各种环境下的稳定运行，从而提高客户满意度和市场竞争力。广州维柯的SIR（表面绝缘电阻）测试测试电压高达 2000V/5000V 可选,:1x106-1x109Ω≤±2%精度，20ms/所有通道每秒的速度。监测模块：状态、数据曲线、测试配置、增加测试、预警。浙江表面绝缘电阻测试电阻测试离子迁移（...

电化学迁移被认为是电阻在电场与环境作用下发生的一种重要的失效形式，会导致产品在服役期间发生漏电、短路等故障。1失效分析某一批智能水表上的电路板使用大约2年后其内部电阻存在短路失效的情况。1.1机械开封机械开封后1#电阻样品表面形貌如图1所示，可明显发现电阻表面有一层金属光泽异物粘附，异物呈树枝状结晶，由一端电极往另一端电极方向生长，并连接了电阻两端电极；一端电表表面发生溶解，且溶解的端电极表面存在黑色腐蚀产物。有数据统计90%以上的电阻在大气环境中使用[1]，因此不可避免地受到工作环境中的温度、湿度、灰尘颗粒及大气污染物的影响，很容易发生电化学迁移。智能电阻可以在更宽广的领域中应用，比如自动化...

在高温高湿状态下施加电压，电极在电场和绝缘间隙存在水分的共同作用下，离子化金属向相反的电极间移动（阴极向阳极转移），相对的电极还原成本来的金属并析出树枝状金属的现象（类似锡须，容易造成短路），这种现象称为离子迁移。当存在这种现象时，表面绝缘电阻（SIR）测试可以通过电阻值显现出来。表面绝缘电阻（SIR）测试是通过在高温高湿的环境中持续给予PCB一定的偏压，经过长时间的试验，观察线路间是否有瞬间短路或出现绝缘失效的缓慢漏电情形发生。表面绝缘电阻（SIR）测试可以用来评估金属导体之间短路或者电流泄露造成的问题，也有助于看出锡膏中的助焊剂或其他化学物品在PCB板面上是否残留任何会影响电子零件电气特性...

《GWHR256：打造绿色PCBA生产的守护神》环保与可持续性是当今电子制造业不可忽视的趋势。GWHR256系统在确保PCBA清洁度的同时，也助力企业向绿色生产转型。通过对清洗工艺的精细优化，减少清洗剂的过度使用，避免了资源浪费和环境污染。系统支持的水基清洗剂监测，更是推动了环保型清洗工艺的应用，体现了对环境负责的企业责任。【绿色理念，智能决策】通过实时监测与数据分析，企业能更好地理解不同清洗剂对PCBA清洁度的影响，选择低环境影响的清洗方案。GWHR256系统在提升PCBA品质的同时，也为企业的绿色生产战略提供了科学依据，是推动行业向更加可持续方向发展的强大推手。在这个数字化、绿色化并行的时...

必须重视和加快发展元器件的可靠性分析工作，通过分析确定失效机理，找出失效原因，反馈给设计、制造和使用，共同研究和实施纠正措施，提高电子元器件的可靠性。电子元器件失效分析的目的是借助各种测试分析技术和分析程序确认电子元器件的失效现象，分辨其失效模式和失效机理，确认结果的失效原因，可靠性研究的两大内容就是失效分析和可靠性测试（包括破坏性实验）。两者之间是相互影响和相互制约的。电子元器件技术的快速发展和可靠性的提高奠定了现代电子装备的基础，元器件可靠性工作的根本任务是提高元器件的可靠性。提出改进设计和制造工艺的建议，防止失效的重复出现，提高元器件可靠性。系统可通过曲线、表格的形式对测试数据进行实时监...

在七天的测试中，不同模块之间的表面绝缘电阻值衰减必须少于10Ohms，但是要排除**开始24小时的稳定时间。电压是恒定不变的。这和ECM测试在很多方面不一样。两者的不同点是：持续时间、测试箱体条件和频繁测量数据的目的。样板同样需要目测检查枝晶生长是否超过间距的20%和是否有任何腐蚀引起的变色问题。表面绝缘电阻（SIR）IPC-TM-650方法定义了在高湿度环境下表面绝缘电阻的测试条件。SIR测试在40°C和相对湿度为90%的箱体里进行。样板的制备和ECM测试一样，都是依据方法制备（如图1）。***版本的测试要求规定每20分钟要检查一次样板。模块化的集成设计，16通道组成一个测试模块。湖北SIR...

随着电子设备的小型化、集成度提高，对材料的绝缘性能要求也日益严格。广州维柯信息技术有限公司走在科技前沿，通过不断的技术创新，推出了SIR表面绝缘电阻测试系统，为材料科学和电气工程领域带来了一场技术分享。该系统采用了准确的传感器技术和数据分析算法，能够深入分析材料表面绝缘性能的细微变化，为科研工作者提供了宝贵的数据支持，促进了新材料的研发和应用。同时，广州维柯还注重用户体验，系统设计兼顾了易用性和精确性，即便是复杂测试也能轻松完成，有效缩短了产品从研发到市场的周期。焊锡青、焊锡丝、助焊剂、清洗剂等引起的材料绝缘性能退化评估。海南SIR和CAF表面绝缘电阻测试服务电阻测试CAF测试方法案例:1、保...

线路板表面的每一种材料都有可能是电迁移产生的影响因素：无论是线路板材料和阻焊层、元器件的清洁度，还是制板工艺或组装工艺产生的任何残留物（包括助焊剂残留物）。由于这种失效机制是动态变化的，理想状况是对每种设计和装配都进行测试。但这是不可行的。这就提出了一个问题：如何比较好地描述一个组件的电化学迁移倾向。表面电子组件的电化学迁移的发生机理取决于四个因素：铜、电压、湿度和离子种类。当环境中的湿气在电路板上形成水滴时，能够与表面上的任何离子相互作用，使离子沿着电路板表面移动。离子与铜发生反应，它们在电压的作用下，被推动着在铜电路之间迁移。这通常被总结为一系列步骤：水吸附、阳极金属溶解或离子生成、离子积...

当一个较小的偏置电压不能有效地区别更多不同的耐CAF材料和制程时，更高的偏置电压由于会线性地影响失效时间，应该被避免采用。这是因为过高的偏置电压会抵消掉相对湿度的影响，而相对湿度由于局部加热的原因是非常重要的失效机制部分。LK_ling:因为阳极导电丝是很细的，很容易被破坏掉。当50%的部分已经失效了，测试即可停止。当CAF发生时，电阻偏小，施加到CAF失效两端的电压会下降。当测试网络的阻值接近限流电阻的阻值时，显得尤为明显。所以在整个测试过程中，并不需要调整电压。9、500个小时的偏置电压后（一共596个小时），像之前一样重新进行绝缘电阻的测量。10、在500小时的偏压加载后，可以进行额外的...

电阻值的测定时间可设定范围是：CAF系统的单次取值电阻测定时间范围1-600分钟可设置，单次取值电阻测定电压稳定时间范围1-600秒可设置，完成多次取值电阻测定时间1-9999小时可设置。电阻测试范围1x104-1x1014Ω，电阻测量精度：1x104-1x1010Ω≤±2%，1x1010-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤±20%广州维柯信息技术有限公司多通道SIR/CAF实时监控测试系统测量电流的设定：使用低阻SIR系统测样品导通性时可以设置测量电流范围0.1A~5A。使用高阻CAF系统测样品电阻时测量电流是不用设置，需设置测量电压，因为仪器恒压工作测量漏电流，用欧姆定理...

1.1机械开封机械开封后1#电阻样品表面形貌如图1所示，可明显发现电阻表面有一层金属光泽异物粘附，异物呈树枝状结晶，由一端电极往另一端电极方向生长，并连接了电阻两端电极；一端电表表面发生溶解，且溶解的端电极表面存在黑色腐蚀产物。有数据统计90%以上的电阻在大气环境中使用[1]，因此不可避免地受到工作环境中的温度、湿度、灰尘颗粒及大气污染物的影响，很容易发生电化学迁移。电化学迁移被认为是电阻在电场与环境作用下发生的一种重要的失效形式，会导致产品在服役期间发生漏电、短路等故障。1失效分析某一批智能水表上的电路板使用大约2年后其内部电阻存在短路失效的情况。系统可通过曲线、表格的形式对测试数据进行实时...

铜镜实验IPC-TM-650方法_2.3.32用来测试未加热的助焊剂如何与铜反应，也叫做助焊剂诱发腐蚀测试。本质上讲，就是滴一滴定量的助焊剂到涂敷了一层铜膜的玻璃片上，然后在特定环境中放置一段时间。这个环境接近室温环境，相对湿度是50%。24小时后清理掉助焊剂，并在白色背景下观察铜膜被腐蚀掉多少。腐蚀穿透铜膜的程度决定了助焊剂的活性等级，通常用L、M和H表示。铜板腐蚀实验IPC-TM-650方法2.6.15是用来测试极端条件下，助焊剂残留物对铜的腐蚀性。助焊剂和焊料在铜板上加热直到形成焊接。然后把铜板放置在一个温度为40°C的潮湿环境，这样可以加速助焊剂残留物和铜可能发生的反应。铜板需要在测试...