企业商机
芯片测试基本参数
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芯片测试企业商机

测试机、探针台、分选机所应用的环节并不相同,其技术难度也各有差异。测试机属于定制化设备,探针台、分选机则更加通用。1.测试机属于定制化设备,其主要是由测试机身和内部的测试板卡构成,均由测试机厂设计和制造。测试机机身是一种标准化的设备,内部可以插入不同的测试板卡。每一种测试板卡可以满足对某些功能的测试,测试厂在做芯片测试的时候,需要根据芯片的功能特性选择不同的测试板卡进行搭配。此外,每一种芯片都需要编写一套特有的测试程序。因此,测试机的定制性主要体现在测试板卡的定制和测试程序的定制。当一款芯片更新换代时,测试机的机身不需要更换,内部的测试板卡则会根据接下来要测试的芯片做调整,测试程序则一定需要更新。探针台和分选机则是相对通用设备,适用范围较广。2.探针台主要根据晶圆尺寸选型,3.分选机主要根据芯片封装方式和测试并行度要求选型。不同的晶圆和芯片,通常不需要对探针台和分选机做太大改动从服务客户为理念,为客户提供芯片测试服务。中国台湾高端定制芯片测试哪家好

作为半导体行业的主要部份,集成电路芯片在近半个世纪里获得快速发展。早期的集成电路企业以IDM(IntegratedDeviceManufacturing)模式为主,IDM模式也称为垂直集成模式,即IC制造商(IDM)自行设计、并将自行生产加工、封装、测试后的成品芯片销售。集成电路芯片产业链开始向专业化分工的垂直分工模式发展。随着加工技术的日益成熟和标准化程度的不断提高,集成电路产业链开始向专业化分工方向发展,逐步形成了单独的芯片设计企业(Fabless)、晶圆制造代工企业(Foundry)、封装测试企业(Package&TestingHouse),并形成了新的产业模式——垂直分工模式。在垂直分工模式下,设计、制造和封装测试分离成集成电路产业链中的独一环佛山大容量芯片测试诚信推荐芯片测试的过程是将封装后的芯片置于各种环境下测试其电气特性。

自动化测试设备,是一个高性能计算机控制的设备的集全,可以实现自动化的测试。Tester:测试机,是由电子系统组成,这些系统产生信号,建立适当的测试模式,正确地按顺序设置,然后使用它们来驱动芯片本身,并抓取芯片的输出反馈,或者进行记录,或者和测试机中预期的反馈进行比较,从而判断好品和坏品。TestProgram:测试程序,测试机通过执行一组称为测试程序的指令来控制测试硬件。DUT:DeviceUnderTest,等待测试的器件,我们统称已经放在测试系统中,等待测试的器件为DUT。

一般是从测试的对象上分为WAT、CP、FT三个阶段,WAT: Wafer Acceptance Test,是晶圆出厂前对testkey的测试。采用标准制程制作的晶圆,在芯片之间的划片道上会放上预先一些特殊的用于专门测试的图形叫testkey。CP:Circuit Probe,是封装前晶圆级别对芯片测试。这里就涉及到测试芯片的基本功能了。不同项目的失效,会分别以不同颜色表示出来。失效的项目反映的是芯片设计的问题。FT:Final test,封装完成后的测试,也是接近实际使用情况的测试,会测到比CP更多的项目,处理器的不同频率也是在这里分出来的。这里的失效反应封装工艺上产生的问题,比如芯片打线不好导致的开短路。OPS助力中国芯科技之发展,赋能于半导体产业的专业化测试、烧录服务。

芯片封装后成品FT测试,常应用与功能测试、性能测试和可靠性测试中,检查芯片功能是否正常,以及封装过程中是否有缺陷产生,并且帮助在可靠性测试中用来检测经过“火雪雷电”之后的芯片是不是还能工作。系统级SLT测试,常应用于功能测试、性能测试和可靠性测试中,常常作为成品FT测试的补充而存在,顾名思义就是在一个系统环境下进行测试,就是把芯片放到它正常工作的环境中运行功能来检测其好坏,缺点是只能覆盖一部分的功能,覆盖率较低所以一般是FT的补充手段。 提供专业芯片测试+烧录服务。中国台湾高端定制芯片测试哪家好

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探针台  1)晶圆检测需具备多套视觉精密测量及定位系统,并具备视觉相互标定、多个坐标系互相拟合的功能;2)探针台精度要求非常严苛,重复定位精度要求达到0.001mm(微米)等级;3)探针台对设备工作环境洁净度要求较高,除需达到几乎无人干预的全自动化作业,对传动机构低粉尘提出要求,还需具备气流除尘等特殊功能。4)晶圆检测对于设备稳定性要求较高,各个执行器件均需进行多余度的控制,晶圆损伤率要求控制在1ppm(百万分之一)以内;中国台湾高端定制芯片测试哪家好

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