企业商机
芯片测试基本参数
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  • MCU
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  • 多种
芯片测试企业商机

1)随着集成电路应用越趋于广,需求量越来越大,对测试成本要求越来越高,因此对测试机的测试速度要求越来越高(如源的响应速度要求达到微秒级);

2)由于集成电路参数项目越来越多,如电压、电流、时间、温度、电阻、电容、频率、脉宽、占空比等,对测试机功能模块的需求越来越多;

3)状态、测试参数监控、生产质量数据分析等方面,结合大数据的应用,对测试机的数据存储、采集、分析方面提出了较高的要求。

4)客户对集成电路测试精度要求越来越高(微伏、微安级精度),如对测试机钳位精度要求从1%提升至0.25%、时间测量精度提高到微秒级,对测试机测试精度要求越趋严格;

5)集成电路产品门类的增加,要求测试设备具备通用化软件开发平台,方便客户进行二次应用程序开发,以适应不同产品的测试需求;测试设备供应商对设备 优普士电子拥有20+年的芯片行业经验。陕西自动化芯片测试设备厂家

设计公司主要目标是根据市场需求来进行芯片研发,在整个设计过程中,需要一直考虑测试相关的问题,主要有下面几个原因:1)随着芯片的复杂度原来越高,芯片内部的模块越来越多,制造工艺也是越来越先进,对应的失效模式越来越多,而如何能完整有效地测试整个芯片,在设计过程中需要被考虑的比重越来越多。2)设计、制造、甚至测试本身,都会带来一定的失效,如何保证设计处理的芯片达到设计目标,如何保证制造出来的芯片达到要求的良率,如何确保测试本身的质量和有效,从而提供给客户符合产品规范的、质量合格的产品,这些都要求必须在设计开始的时候就要考虑测试方案。3)成本的考量。越早发现失效,越能减少无谓的浪费;设计和制造的冗余度越高,越能提供产品的良率;同时,如果能得到更多的有意义的测试数据,也能反过来提供给设计和制造端有用的信息,从而使得后者有效地分析失效模式,改善设计和制造良率。珠海附近芯片测试设备厂家OPS提供网际网络测,烧服务厂商!

芯片测试绝不是一个简单的鸡蛋里挑石头,不只是“挑剔”“严苛”就可以,还需要全流程的控制与参与。从芯片设计开始,就应考虑到如何测试,是否应添加DFT【DesignforTest】设计,是否可以通过设计功能自测试【FuncBIST】减少对外围电路和测试设备的依赖。在芯片开启验证的时候,就应考虑末端出具的测试向量,应把验证的TestBench按照基于周期【Cyclebase】的方式来写,这样生成的向量也更容易转换和避免数据遗漏等等。在芯片流片Tapout阶段,芯片测试的方案就应制定完毕,ATE测试的程序开发与CP/FT硬件制作同步执行,确保芯片从晶圆产线下来就开启调试,把芯片开发周期极大的缩短。后进入量产阶段测试就更重要了,如何去监督控制测试良率,如何应对客诉和PPM低的情况,如何持续的优化测试流程,提升测试程序效率,缩减测试时间,降低测试成本等。所以说芯片测试不只是成本的问题,其实是质量+效率+成本的平衡艺术!

芯片测试需要大量经验积累。测试企业依赖人才和经验,需要不断研发以适应新制程、新工艺需求。研发方面,芯片测试随芯片产品多样化和摩尔定律发展不断更新换代,测试企业需要不断研发、引入和调试新的测试平台以适应新产品、新工艺、新制程的测试需求;人才方面,芯片测试贯穿芯片生产的各个环节,测试工程师不仅要具备测试方案开发、设备调试等测试相关能力,还要兼备芯片设计、制造等领域的知识和经验,我国目前集成电路人才断档明显,测试工程师培养薄弱,具有市场化经验的人才更是稀少;经验方面,芯片测试和传统制造业一样需要经历产能爬坡和工艺优化的过程,需要具备不同客户、不同产品的测试经验。无论是自动化测试+烧录,还是工程技术,生产服务,优普士永远保持较强势的市场竞争力。

自动化测试设备,是一个高性能计算机控制的设备的集全,可以实现自动化的测试。Tester:测试机,是由电子系统组成,这些系统产生信号,建立适当的测试模式,正确地按顺序设置,然后使用它们来驱动芯片本身,并抓取芯片的输出反馈,或者进行记录,或者和测试机中预期的反馈进行比较,从而判断好品和坏品。TestProgram:测试程序,测试机通过执行一组称为测试程序的指令来控制测试硬件。DUT:DeviceUnderTest,等待测试的器件,我们统称已经放在测试系统中,等待测试的器件为DUT优普士电子(深圳)有限公司一群人,一条心,一件事,一起拼,一定赢!佛山什么是芯片测试过程

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芯片CP/FT测试的基本概念理解:chipprobing基本原理是探针加信号激励给pad,然后做测试功能。a.测试对象,wafer芯片,还未封装的。b.测试目的,筛选,然后决定是否封装。可以节省封装成本(MPW阶段,不需要;fullmask量产阶段,才有节省成本的意义)。c.需要保证:基本功能成功即可,主要是机台测试成本高。高速信号不可能,较大支持100~400Mbps;高精度的也不行。总之,通常CP测试,只用于基本的连接测试和低速的数字电路测试。finaltesta.测试对象,封装后的芯片;b.测试目的,筛选,然后决定芯片可用做产品卖给客户。c.需要保证:spec指明的全部功能都要验证到。陕西自动化芯片测试设备厂家

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