深圳自动化芯片测试口碑推荐

芯片CP/FT测试的基本概念理解：chipprobing基本原理是探针加信号激励给pad，然后做测试功能。a.测试对象，wafer芯片，还未封装的。b.测试目的，筛选，然后决定是否封装。可以节省封装成本（MPW阶段，不需要；fullmask量产阶段，才有节省成本的意义）。c.需要保证：基本功能成功即可，主要是机台测试成本高。高速信号不可能，较大支持100~400Mbps；高精度的也不行。总之，通常CP测试，只用于基本的连接测试和低速的数字电路测试。finaltesta.测试对象，封装后的芯片；b.测试目的，筛选，然后决定芯片可用做产品卖给客户。c.需要保证：spec指明的全部功能都要验证到。在芯片设计阶段，需要对设计进行验证，以确保其功能正确、性能满足要求。深圳自动化芯片测试口碑推荐

芯片测试前需要了解的在开始芯片测试流程之前应先充分了解芯片的工作原理。要熟悉它的内部电路，主要参数指标，各个引出线的作用及其正常电压。首先工作做的好，后面的检查就会顺利很多。芯片很敏感，所以测试的时候要注意不要引起引脚之间的短路，任何一瞬间的短路都能被捕捉到，从而造成芯片烧坏。另外，如果没有隔离变压器时，是严禁用已经接地的测试设备去碰触底盘带电的设备，因为这样容易造成电源短路，从而波及广，造成故障扩大化。焊接时，要保证电烙铁不带电，焊接时间要短，不堆焊，这样是为了防止焊锡粘连，从而造成短路。但是也要确定焊牢，不允许出现虚焊的现象。在有些情况下，发现多处电压发生变化，此时不要轻易下结论就是芯片已经坏掉了。要知道某些故障也能导致各个引脚电压测试下来与正常值一样，这时候也不要轻易认为芯片就是好的。芯片的工作环境要求有良好的散热性，不带散热器并且大功率工作的情况只能加速芯片的报废。芯片其实很灵活，当其内部有部分损坏时，可以加接外边小型元器件来代替这已经损坏的部分，加接时要注意接线的合理性，以防造成寄生耦合广东大批量芯片测试过程芯片测试的重要性不言而喻。

关于IC测试座的八个特点，Ic测试座的8个主要特点

1、有自动，OK测试，FAIL测试三种模式选用

2、测试机的接口信号高低电平可以由用户设定

3、有及暂停模式，分别用于检修机器及临时排除卡料之用

4、可显示OK/FAIL料的测试数量及总测试次数

5、FAIL料可以由用户设定重测次数

6、有一条进料管，一条OK出料管及一条FALL出料管，由电磁铁驱动分选棱到OK/FAIL管

7、机械异常时由LED显示异常代码，方便用户排除故障

8、出料管满管数量可由客户来设定

测试相关的各种名词：ATE-----------AutomaticTestEquipment,自动化测试设备，是一个高性能计算机控制的设备的J合，可以实现自动化的测试。Tester---------测试机，是由电子系统组成，这些系统产生信号，建立适当的测试模式，正确地按顺序设置，然后使用它们来驱动芯片本身，并抓取芯片的输出反馈，或者进行记录，或者和测试机中预期的反馈进行比较，从而判断好品和坏品。TestProgram---测试程序，测试机通过执行一组称为测试程序的指令来控制测试硬件。DUT-----------DeviceUnderTest,等待测试的器件，我们统称已经放在测试系统中，等待测试的器件为DUT。芯片测试是通过对芯片进行电气特性测试、功能测试、时序测试等手段来评估芯片的性能和可靠性。

怎么样进行芯片测试?这需要专业的ATE也即automatictestequipment.以finaltest为例,先根据芯片的类型,比如automotive,MixedSignal,memory等不同类型,选择适合的ATE机台.在此基础上,根据芯片的测试需求,(可能有一个叫testspecification的文档,或者干脆让测试工程师根据datasheet来设计testspec),做一个完整的testplan.在此基础上,设计一个外围电路loadboard,一般我们称之为DIBorPIBorHIB,以连接ATE机台的instrument和芯片本身.同时,需要进行test程序开发,根据每一个测试项,进行编程,操控instrument连接到芯片的引脚,给予特定的激励条件,然后去捕捉芯片引脚的反应,例如给一个电信号,可以是特定的电流,电压,或者是一个电压波形,然后捕捉其反应.根据结果,判定这一个测试项是pass或者fail.在一系列的测试项结束以后,芯片是好还是不好,就有结果了.好的芯片会放到特定的地方,不好的根据fail的测试类型分别放到不同的地方。在芯片生产和使用过程中，需要对芯片进行测试，以确保其质量符合要求。珠海高端定制芯片测试

静态测试主要是对芯片的电气特性进行测试，如电压、电流、功耗等。深圳自动化芯片测试口碑推荐

怎么样进行芯片测试?这需要专业的ATE也即automatictestequipment.以finaltest为例,先根据芯片的类型,比如automotive,MixedSignal,memory等不同类型,选择适合的ATE机台.在此基础上,根据芯片的测试需求,(可能有一个叫testspecification的文档,或者干脆让测试工程师根据datasheet来设计testspec),做一个完整的testplan.在此基础上,设计一个外围电路loadboard,一般我们称之为DIBorPIBorHIB,以连接ATE机台的instrument和芯片本身.同时,需要进行test程序开发,根据每一个测试项,进行编程,操控instrument连接到芯片的引脚,给予特定的激励条件,然后去捕捉芯片引脚的反应,例如给一个电信号,可以是特定的电流,电压,或者是一个电压波形,然后捕捉其反应.根据结果,判定这一个测试项是pass或者fail.在一系列的测试项结束以后,芯片是好还是不好,就有结果了.好的芯片会放到特定的地方,不好的根据fail的测试类型分别放到不同的地方深圳自动化芯片测试口碑推荐