深圳自动化芯片测试

IC产业继续高度细化分工，芯片测试走向专业化也必定是大势所趋。首先，IC制程演进和工艺日趋复杂化，制程过程中的参数控制和缺陷检测等要求越来越高，IC测试专业化的需求提升；其次，芯片设计趋向于多样化和定制化，对应的测试方案也多样化，对测试的人才和经验要求提升，则测试外包有利于降低中小企业的负担，增加效率。此外，专业测试在成本上具有一定优势。目前测试设备以进口为主，单机价值高达30万美元到100万美元不等，重资产行业特征明显，资本投入巨大，第三方测试公司专业化和规模化优势明显，测试产品多元化加速测试方案迭代，源源不断的订单保证产能利用率。因此，除Fabless企业外，原有IDM、晶圆制造、封装厂出于成本的考虑倾向于将测试部分交由第三方测试企业。 实惠的价格、优良的质量，真诚期待与您合作，欢迎您的来电垂询及业务洽谈！深圳自动化芯片测试

自动化测试设备，是一个高性能计算机控制的设备的集全，可以实现自动化的测试。Tester：测试机，是由电子系统组成，这些系统产生信号，建立适当的测试模式，正确地按顺序设置，然后使用它们来驱动芯片本身，并抓取芯片的输出反馈，或者进行记录，或者和测试机中预期的反馈进行比较，从而判断好品和坏品。TestProgram：测试程序，测试机通过执行一组称为测试程序的指令来控制测试硬件。DUT：DeviceUnderTest,等待测试的器件，我们统称已经放在测试系统中，等待测试的器件为DUT。 深圳Flash芯片测试芯片测试是指在芯片生产出来之后利用ATE对芯片功能进行的一种物理检查。

芯片测试的过程是将封装后的芯片置于各种环境下测试其电气特性，如消耗功率、运行速度、耐压度等。经测试后的芯片，依其电气特性划分为不同等级。而特殊测试则是根据客户特殊需求的技术参数，从相近参数规格、品种中拿出部分芯片，做有针对性的专门测试，看是否能满足客户的特殊需求，以决定是否须为客户设计专门使用的芯片。经一般测试合格的产品贴上规格、型号及出厂日期等标识的标签并加以包装后即可出厂。而未通过测试的芯片则视其达到的参数情况定作降级品或废品。

怎么样进行芯片测试?

这需要专业的ATE也即automatictestequipment.以finaltest为例,先根据芯片的类型,比如automotive,MixedSignal,memory等不同类型,选择适合的ATE机台.在此基础上,根据芯片的测试需求,(可能有一个叫testspecification的文档,或者干脆让测试工程师根据datasheet来设计testspec),做一个完整的testplan.在此基础上,设计一个外围电路loadboard,一般我们称之为DIBorPIBorHIB,以连接ATE机台的instrument和芯片本身.同时,需要进行test程序开发,根据每一个测试项,进行编程,操控instrument连接到芯片的引脚,给予特定的激励条件,然后去捕捉芯片引脚的反应,例如给一个电信号,可以是特定的电流,电压,或者是一个电压波形,然后捕捉其反应.根据结果,判定这一个测试项是pass或者fail.在一系列的测试项结束以后,芯片是好还是不好,就有结果了.好的芯片会放到特定的地方,不好的根据fail的测试类型分别放到不同的地方。 公司一直秉承“诚信为本 永续经营”的宗旨。

封装与测试的定义➤封装（Package）：将晶圆厂生产的芯片、塑料、陶瓷、金属外壳包装起来，以保护芯片在工作时不受外界的水气、灰尘、静电等影响，封装的材质必须考虑成本与散热的效果。➤测试（Test）：将制作好的芯片进行点收测试，检验语芯片是否可以正常工作，以确定每片晶圆的可靠度与良率，通常封装前要先测试，将不良的芯片去除，只封装好的芯片，封装后还要再测试，以确定封装过程是否发生问题。封装后测试是出厂前Z后的测试工作，另外包括脚位扫瞄检查、品管抽样测试等，通过测试的IC就可以出厂销售了。 提供全流程一站式芯片烧录测试服务！中国台湾自动化芯片测试过程

无论是自动化测试+烧录，还是工程技术，生产服务，永远保持较强势的市场竞争力。深圳自动化芯片测试

设计公司主要目标是根据市场需求来进行芯片研发，在整个设计过程中，需要一直考虑测试相关的问题，主要有下面几个原因：1）随着芯片的复杂度原来越高，芯片内部的模块越来越多，制造工艺也是越来越先进，对应的失效模式越来越多，而如何能完整有效地测试整个芯片，在设计过程中需要被考虑的比重越来越多。2）设计、制造、甚至测试本身，都会带来一定的失效，如何保证设计处理的芯片达到设计目标，如何保证制造出来的芯片达到要求的良率，如何确保测试本身的质量和有效，从而提供给客户符合产品规范的、质量合格的产品，这些都要求必须在设计开始的时候就要考虑测试方案。3）成本的考量。越早发现失效，越能减少无谓的浪费；设计和制造的冗余度越高，越能提供产品的良率；同时，如果能得到更多的有意义的测试数据，也能反过来提供给设计和制造端有用的信息，从而使得后者有效地分析失效模式，改善设计和制造良率。 深圳自动化芯片测试