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一款芯片是怎样诞生的呢？需要进行哪些IC测试？需要经过哪些生产环节？大致来看，芯片成为商品之前，需要通过芯片设计公司完成设计，高通，联发科等都是芯片设计公司，采用EDA工业软件，芯片架构之后完成一款芯片的设计研发。然后将设计好的芯片交给台积电，三星这些芯片制造商，由他们负责代加工，进行实际生产制造。芯片测试，设计初期系统级芯片测试。由于每个功能元件都有其自身的测试要求，设计工程师必须在设计初期就做出测试规划。

一．芯片要想顺利上市应用，这三大测试缺一不可。

1、性能测试芯片在生产制造过程中，有无数可能会引入缺陷的步骤，即使是同一批晶圆和封装成品，芯片也各有好坏，需要进行测试筛选。

2、功能测试芯片制作出来后，为了应用不同场景，对它的各项参数、指标、功能都有一定要求，需要测试是否达标。

3、可靠性测试芯片通过了功能与性能测试，得到了好的芯片，但是芯片会不会被冬天里讨厌的静电弄坏，在雷雨天、三伏天、风雪天能否正常工作，以及芯片能用一个月、一年还是十年等等，这些都要通过可靠性测试进行评估。 优普士电子专业做芯片烧录测试，价格合理，型号覆盖广。金湾区IC测烧有哪家

功能测试、延迟测试、参数测试的定义及作用

Function Test（功能测试）芯片在生产制造过程中会引入各种故障，通常会引起功能的失效。这些失效包括Stuck-atFault，OpenFault，BridgeFault等。这些故障通常可以基于芯片设计时插入的ScanChain，用ATPG（对于memory用mbist方法，对于Flash按照vendor的测试方法设计bist）产生测试Pattern进行筛选测试，从而剔除有功能故障的芯片。

DelayTest（延迟测试）：除了功能故障之外，先进工艺的芯片还会有时序故障。Delay test的目的是剔除有Timing related defect 的芯片（即时序不满足要求的芯片）。基于Scan-at-speed的策略使用Launch from capture 和Lanuch from shift的方法来实现at-speed测试。在设计层面需要在Scan模式下利用on-chip PLL提供at-speed模式需要的高速工作时钟。 青白江区IC测烧报价IC测试治具的测试针是用于测试PCBA的一种探针。

Parameter Test（参数测试）：除了基于功能和时序的测试，还需要进行基于电流、电压的测试来筛选掉一些“顽固”的芯片。通过IDDQ测试，剔除静态电流不符合规范的芯片，通过Very Low Voltage test可以更容易发现时序不满足的芯片，通过Stress test（高压高温）加速芯片的寿命更容易剔除gate oxide 失效。

代客烧录服务优势

1、拥有本行业经验丰富的工程师并保证IC代烧的稳定。

2、烧录设备齐全，可代工超难、超偏的IC。

3、品质管控严格：严格的流程化管理，良率十分高。

4、产能高：采用自动IC烧录机，公司拥有配套齐全的烧录机台共计500多台，能提供批量快速服务。

5、交货速度快：提供快速送货服务。

6、IC上板后出现不明故障，可配合厂商作不良分析。

优普士电子（深圳）有限公司是崇碁集团之大陆分公司，为广大客户群体提供FT测试、IC烧录、lasermarking、编带、烘烤、视觉检测（WLCSP\BGA\LQFP)等半导体芯片后段整合的一站式业务，欢迎你的咨询。

芯片分选机的技术难点：

1、集成电路封装形式的多样性要求分选机具备对不同封装形式集成电路进行测试时能够快速切换的能力，从而形成较强的柔性化生产能力及适应性；

2、由于集成电路的小型化和集成化特征，分选机对自动化高速重复定位控制能力和测压精度要求较高，误差精度普遍要求在0.01mm等级；

3、分选机的批量自动化作业要求其具备较强的运行稳定性，例如对UPH（每小时运送集成电路数量）和JamRate（故障停机比率）的要求很高；

4、集成电路测试对外部测试环境有一定要求，例如部分集成电路测试要求在-55—150℃的多种温度测试环境、无磁场干扰测试环境、多种外场叠加的测试环境中进行，如何给定相应的测试环境是分选机技术难点。 在芯片生产和使用过程中，优普士提供令客户满意的测试服务，以确保芯片的质量和性能符合要求。

cp测试和ft测试的区别

1）因为封装本身可能影响芯片的良率和特性，所以芯片所有可测测试项目都是必须在FT阶段测试一遍的，而CP阶段则是可选。

2）CP阶段原则上只测一些基本的DC，低速数字电路的功能，以及其它一些容易测试或者必须测试的项目。凡是在FT阶段可以测试，在CP阶段难于测试的项目，能不测就尽量不测。一些类似ADC的测试，在CP阶段可以只给几个DC电平，确认ADC能够基本工作。在FT阶段再确认具体的SNR/THD等指标。

3）由于CP阶段的测试精度往往不够准确，可以适当放宽测试判断标准，只做初步筛选。精细严格的测试放到FT阶段。

4）如果封装成本不大，且芯片本身良率已经比较高。可以考虑不做CP测试，或者CP阶段只做抽样测试，监督工艺。

5）新的产品导入量产，应该先完成FT测试程序的开发核导入。在产品量产初期，FT远远比CP重要。等产品逐渐上量以后，可以再根据FT的实际情况，制定和开发CP测试。了解了它们之间的不同，我们还可以根据测试项目的不同和重复内容等因素，在具体测试项目中进行判断和取舍了。毕竟增加一个复杂的高速或高精度模拟测试，不仅会增加治具的成本，还会增加测试机台的费率和延长测试时间，影响出产成果。 主要客户群体是：芯片原厂、IC方案公司，智能终端，元器件，显示器件等。揭阳高端定制芯片IC测烧

优普士电子（深圳）有限公司提供专业的芯片烧录、测试方案，具体咨询请联系我们。金湾区IC测烧有哪家

耐久性测试项目（Endurancetestitems）包含哪些测试？

1、周期耐久性测试（EnduranceCyclingTest）目的：评估非挥发性memory器件在多次读写算后的持久性能测试方法：将数据写入memory的存储单元，在擦除数据，重复这个过程多次测试条件：室温，或者更高，每个数据的读写次数达到100k~1000k具体的测试条件和估算结果可参考以下标准：MIT-STD-883EMethod1033

2、数据保持力测试（DataRetentionTest）目的：在重复读写之后加速非挥发性memory器件存储节点的电荷损失测试方法：在高温条件下将数据写入memory存储单元后，多次读取验证单元中的数据测试条件：150℃ 金湾区IC测烧有哪家