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芯片测试基本参数
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  • 型号
  • MCU
  • 封装形式
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芯片测试企业商机

集成电路的测试设备主要包括测试机、分选机和探针台等。作为重要的专门使用的设备,集成电路测试设备不仅可判断被测芯片或器件的合格性,还可提供关于设计、制造过程的薄弱环节信息,有助于提高芯片制造水平。其中:测试机是检测芯片功能和性能的专门使用设备。测试机对芯片施加输入信号,采集被测试芯片的输出信号与预期值进行比较,判断芯片在不同工作条件下功能和性能的有效性。分选机和探针台是将芯片的引脚与测试机的功能模块连接起来并实现批量自动化测试的专门使用设备。在设计验证和成品测试环节,测试机需要和分选机配合使用;在晶圆检测环节,测试机需要和探针台配合使用。公司以高稳定性的特点,为客户提供弹性的业务合作模式。广东大批量芯片测试设备厂家

传统半导体芯片的测试是通过编写测试程序,操纵自动测试机的测试资源,对待测试芯片进行功能和特性的筛选和表征,进行生产质量的把关以及设计性能的验证。随着摩尔定律的演进,对芯片良率、可靠性等质量要求的持续提高,除了传统的良率测试以外,能够在线进行大量芯片特性数据的收集,用于进行良率提升以及生产质量稳定性管控,成为了一种迫切需求。因此需要对芯片进行测试以获得关于芯片特异性数据的测试结果,然而传统芯片的良率测试和数据的存储,在测试过程中是串行执行的,都是计算在良率测试总时间之内。因此芯片测试形成的测试结果数据过大时其收集测试结果势必严重影响测试总时间,增加良率测试的成本、降低其可操作性。中国台湾大容量芯片测试我司主要从事半导体集成电路测试+烧录代工服务。

芯片测试是一个比较大的问题,直接贯穿整个芯片设计与量产的过程中,首先芯片fail可以是下面几个点:

1.功能fail,某个功能点点没有实现,这往往是设计上导致的,通常是在设计阶段前仿真来对功能进行验证来保证,所以通常设计一块芯片,仿真验证会占用大约80%的时间。2.性能fail,某个性能指标要求没有过关,如2G的cpu只能跑到1.5G,数模转换器在要求的转换速度和带宽的条件下有效位数enob要达到12位,却只有10位,以及lna的noise figure指标不达标等等。这种问题通常是由两方面的问题导致的,一个是前期在设计系统时就没做足余量,一个就是物理实现版图太烂。这类问题通常是用后仿真来进行验证的。3.生产导致的fail。这个问题出现的原因就要提到单晶硅的生产了。学过半导体物理的都知道单晶硅是规整的面心立方结构,它有好几个晶向,通常我们生长单晶是是按照111晶向进行提拉生长。但是由于各种外界因素,比如温度,提拉速度,以及量子力学的各种随机性,导致生长过程中会出现错位,这个就称为缺陷。

缺陷产生还有一个原因就是离子注入导致的,即使退火也未能校正过来的非规整结构。这些存在于半导体中的问题,会导致器件的失效,进而影响整个芯片。所以就必须要进行芯片测试了。

芯片老化测试是一种采用电压和高温来加速器件电学故障的电应力测试方法。老化过程基本上模拟运行了芯片整个寿命,因为老化过程中应用的电激励反映了芯片工作的Z坏情况。根据不同的老化时间,所得资料的可靠性可能涉及到的器件的早期寿命或磨损程度。老化测试可以用来作为器件可靠性的检测或作为生产窗口来发现器件的早期故障。一般用于芯片老化测试的装置是通过测试插座与外接电路板共同工作,体积较大,不方便携带,得到的芯片数据需要通过外接电路板传输到特定的设备里,不适用于携带使用。 公司拥有配套齐全的测试烧录机。

测试相关的各种名词:ATE-----------AutomaticTestEquipment,自动化测试设备,是一个高性能计算机控制的设备的J合,可以实现自动化的测试。Tester---------测试机,是由电子系统组成,这些系统产生信号,建立适当的测试模式,正确地按顺序设置,然后使用它们来驱动芯片本身,并抓取芯片的输出反馈,或者进行记录,或者和测试机中预期的反馈进行比较,从而判断好品和坏品。TestProgram---测试程序,测试机通过执行一组称为测试程序的指令来控制测试硬件。DUT-----------DeviceUnderTest,等待测试的器件,我们统称已经放在测试系统中,等待测试的器件为DUT。为广大客户群体提供芯片测试、代工烧录、Memory高低温设备系统、激光印字,包装转换、烘烤、等服务。深圳本地芯片测试联系方式

优普士电子(深圳)有限公司的服务态度好,技术专业。广东大批量芯片测试设备厂家

自动化测试设备,是一个高性能计算机控制的设备的集全,可以实现自动化的测试。Tester:测试机,是由电子系统组成,这些系统产生信号,建立适当的测试模式,正确地按顺序设置,然后使用它们来驱动芯片本身,并抓取芯片的输出反馈,或者进行记录,或者和测试机中预期的反馈进行比较,从而判断好品和坏品。TestProgram:测试程序,测试机通过执行一组称为测试程序的指令来控制测试硬件。DUT:DeviceUnderTest,等待测试的器件,我们统称已经放在测试系统中,等待测试的器件为DUT。 广东大批量芯片测试设备厂家

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