企业商机
IC测烧基本参数
  • 品牌
  • 优普士电子
  • 型号
  • IC芯片
  • 封装形式
  • 多种,TSOP,PLCC,SOP/SOIC,QFP/PFP,TQFP,CSP,QFP,BGA
IC测烧企业商机

IC产品可靠性等级测试之使用寿命测试项目:

1、EFR:早期失效等级测试(EarlyfailRateTest)

目的:评估工艺的稳定性,加速缺陷失效率,去除由于天生原因失效的产品。

测试条件:在特定时间内动态提升温度和电压对产品进行测试

失效机制:材料或工艺的缺陷,包括诸如氧化层缺陷,金属刻镀,离子玷污等由于生产造成的失效。

2、HTOL/LTOL:高/低温操作生命期试验(High/LowTemperatureOperatingLife)

目的:评估器件在超热和超电压情况下一段时间的耐久力测试条件:125℃,1.1VCC,动态测试

失效机制:电子迁移,氧化层破裂,相互扩散,不稳定性,离子玷污等

参考标准:125℃条件下1000小时测试通过IC可以保证持续使用4年,2000小时测试持续使用8年;150℃1000小时测试通过保证使用8年,2000小时保证使用28年。 OPS拥有全系列IC自动烧录机、测试机,支持各类包装(管状、托盘、卷带)的芯片。河源IC测烧加工厂

编程器厂家需要掌握负载功率内阻测试的步骤?

电压测量法电压测量法是另一种常用的负载功率内阻测试方法。通过连接合适的测试仪器,如电压表,测量编程器输出电压的变化,以评估其内阻。该方法具有测量精度高、测试速度快的优点,适用于对测试精度要求较高的编程器。测试步骤为了保证测试的准确性和可靠性,编程器厂家可以按照以下步骤进行负载功率内阻测试:

1、准备测试设备在进行负载功率内阻测试之前,编程器厂家需要准备合适的测试设备,包括电流表、电压表、连接线等。

2、连接测试线路将测试仪器与编程器进行正确的连接,确保电流和电压的测量准确。

3、设定测试参数根据产品的需求,设定合适的测试参数,如测试电流、测试电压等。

4、进行测试开始进行负载功率内阻测试,记录测试过程中的电流和电压变化。

5、分析测试结果根据测试结果,评估编程器的性能和质量。如果测试结果符合要求,则编程器可以进入下一步工艺流程;如果测试结果不符合要求,则需要进行问题排查和修复。负载功率内阻测试是评估编程器性能和质量的重要手段。

合理选择测试方法和设备,编程器厂家能准确评估产品的性能和质量,提供高质量的编程器,满足用户的需求。 金华IC测烧服务烧录机是一种量产式的芯片程序烧录生产设备。

想要实现芯片的性能,功能,可靠性测试,我们具体要用哪些手段呢?

板级测试:主要应用于功能测试,使用PCB板+芯片搭建一个“模拟”的芯片工作环境,把芯片的接口都引出,检测芯片的功能,或者在各种严苛环境下看芯片能否正常工作。需要应用的设备主要是仪器仪表,需要制作的主要是EVB评估板。

CP测试
常应用于功能测试与性能测试中,了解芯片功能是否正常,以及筛掉芯片晶圆中的故障芯片。CP顾名思义就是用探针来扎Wafer上的芯片,把各类信号输入进芯片,把芯片输出响应抓取并进行比较和计算,也有一些特殊的场景会用来配置调整芯片。需要应用的设备主要是自动测试设备+探针台+仪器仪表,需要制作的硬件是探针卡。

FT测试

常应用与功能测试、性能测试和可靠性测试中,检查芯片功能是否正常,以及封装过程中是否有缺陷产生,并且帮助在可靠性测试中用来检测经过“火雪雷电”之后的芯片是不是还能工作。需要应用的设备主要是自动测试设备+机械臂+仪器仪表,需要制作的硬件是测试板+测试插座等

系统级SLT测试

烧录测试座保养:

每次使用完烧录座后,应清洁烧录座,保持烧录座表面干净无污不可使用腐蚀性之清洗剂,虽可获得短暂效果但会带来严重的损伤,缩短使用寿命。只可用静电毛刷,精密清洁剂进行清洁对烧录座金属弹片进行清扫清洁(不要使用酒精或润滑剂清洗表面污物)清洁完的烧录座比较好能放在防潮箱或干燥的保管箱存放烧录座长时间不使用时,合上盖子,用盒子装好,尽量存放在密封,干燥阴凉的地方,防止因存放环境而引起的氧化。再次使用时应先观察烧录座表面是否有污物或氧化(呈黑色)用精密清洁剂进行清洁后再使用。

烧录座的更换:

如果正确使用和妥善保管,烧录座的使用寿命就可以达到甚至超过超过参考标准。PS:烧录座是耗材,只有正确使用和妥善保养,才会延长使用寿命。 经过多年发展,现拥有多项发明专利和丰富的烧录测试资源。

IC芯片可靠性测试包含哪些?

主要针对芯片施加各种苛刻环境,比如ESD静电,就是模拟人体或者模拟工业体去给芯片加瞬间大电压。再比如HTOL的测试座,高温工作寿命测试,即利用高温,电压加速的方式,在一定时间内通过加速测试,来预估这个电子器件在未来长时间内的正常工作寿命。HTOL 测试

1、采用开模Socket+探针的结构,精度高,测试稳定,同时 IC 较大降低设计、加工成本,降低了使用费用 

2、根据实际测试情况,选用不同探针,可以对IC进行有锡球 PAD尖头无锡球不同测试

3、外带散热片解决高功率元器件散热问题 

4、安装方便,无需焊接,有Open-top/翻盖结构,适合手动/自动操作 专业芯片烧录测试加工厂,生产售后无忧,服务好,您的满意之选,找我们就对了!大批量芯片IC测烧报价

OPS利用高效率,好品质的先进科技协助客户提升生产效率及品质。河源IC测烧加工厂

小外形封装是一种很常见的元器件封装形式。表面贴装型封装之一,引脚从封装两侧引出呈海鸥翼状(L字形)。材料有塑料和陶瓷两种。另外也叫SOL和DFP。SOP除了用于存储器LSI外,主要用于规模不太大的ASSP等电路。在输入输出端子不超过10~40的领域,SOP是普及很广的表面贴装封装。引脚中心距1.27mm,引脚数从8~44。另外,引脚中心距小于1.27mm的SOP也称为SSOP;装配高度不到1.27mm的SOP也称为TSOP。还有一种带有散热片的SOP。

SOP封装的应用范围很广,而且以后逐渐派生出SOJ(J型引脚小外形封装)、TSOP(薄小外形封装)、VSOP(甚小外形封装)、SSOP(缩小型SOP)、TSSOP(薄的缩小型SOP)及SOT(小外形晶体管)、SOIC(小外形集成电路)等在集成电路中都起到了举足轻重的作用。像主板的频率发生器就是采用的SOP封装。

引脚中心距小于1.27mm的SSOP(缩小型SOP);

装配高度不到1.27mm的TSOP(薄小外形封装);

VSOP(甚小外形封装);TSSOP(薄的缩小型SOP);

SOT(小外形晶体管);带有散热片的SOP称为HSOP;

部分半导体厂家把无散热片的SOP称为SONF(SmallOut-LineNon-Fin);

部分厂家把宽体SOP称为SOW(SmallOutlinePackage(Wide-Jype))


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