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功能测试、延迟测试、参数测试的定义及作用

Function Test（功能测试）芯片在生产制造过程中会引入各种故障，通常会引起功能的失效。这些失效包括Stuck-atFault，OpenFault，BridgeFault等。这些故障通常可以基于芯片设计时插入的ScanChain，用ATPG（对于memory用mbist方法，对于Flash按照vendor的测试方法设计bist）产生测试Pattern进行筛选测试，从而剔除有功能故障的芯片。

DelayTest（延迟测试）：除了功能故障之外，先进工艺的芯片还会有时序故障。Delay test的目的是剔除有Timing related defect 的芯片（即时序不满足要求的芯片）。基于Scan-at-speed的策略使用Launch from capture 和Lanuch from shift的方法来实现at-speed测试。在设计层面需要在Scan模式下利用on-chip PLL提供at-speed模式需要的高速工作时钟。 为广大客户群体提供芯片烧录测试、代工烧录、Memory高低温设备系统、激光印字，包装转换、烘烤、等服务。广东IC测烧一体化

Parameter Test（参数测试）：除了基于功能和时序的测试，还需要进行基于电流、电压的测试来筛选掉一些“顽固”的芯片。通过IDDQ测试，剔除静态电流不符合规范的芯片，通过Very Low Voltage test可以更容易发现时序不满足的芯片，通过Stress test（高压高温）加速芯片的寿命更容易剔除gate oxide 失效。

IC产品可靠性等级测试有哪几种？

1、TCT:高低温循环试验（TemperatureCyclingTest）

目的：评估IC产品中具有不同热膨胀系数的金属之间的界面的接触良率。方法是通过循环流动的空气从高温到低温重复变化。

测试条件：

ConditionB：-55℃to125℃

ConditionC：-65℃to150℃

失效机制：电介质的断裂，导体和绝缘体的断裂，不同界面的分层

2、TST:高低温冲击试验（ThermalShockTest）

目的：评估IC产品中具有不同热膨胀系数的金属之间的界面的接触良率。

方法是通过循环流动的液体从高温到低温重复变化。

测试条件:

ConditionB：-55℃to125℃

ConditionC：-65℃to150℃

失效机制：电介质的断裂，材料的老化（如bondwires）,导体机械变形

3、HTST:高温储存试验（HighTemperatureStorageLifeTest）

目的：评估IC产品在实际使用之前在高温条件下保持几年不工作条件下的生命时间。

测试条件：150℃

失效机制：化学和扩散效应，Au-Al共金效应

4、可焊性试验（SolderabilityTest）

目的：评估ICleads在粘锡过程中的可靠度测试

方法：Step1：蒸汽老化8小时Step2：浸入245℃锡盆中5秒失效标准（FailureCriterion）：至少95％良率

智能IC测烧哪家强OPS拥有良好的作业环境，ISO管理模式，各种先进的烧录测试设备。

为什么说烧录编程器价格成本较高，限制了销量？

1.技术研发成本烧录编程器的设计和技术研发需要大量的人力、物力和财力投入。高昂的研发成本使得制造商不得不考虑将这些成本转嫁给产品价格。此外，烧录编程器技术的不断更新也需要额外的研发投入，这进一步增加了价格成本。

2.生产成本烧录编程器的生产过程需要复杂的设备和生产线。这些设备和生产线的购买和维护费用也增加了烧录编程器的成本。此外，生产过程中还需要高素质的工人和技术人员，他们的工资也对成本产生了影响。

3.市场竞争烧录编程器市场竞争激烈，竞争对手众多。由于技术和品牌差异较小，制造商难以通过降价来增加销量，因为降价可能导致亏损。因此，制造商不得不依靠高价格以获得利润，并限制了销量增长。

烧录编程器价格成本高限制了其销量增长。高额的技术研发成本、生产成本和市场竞争是导致价格成本高的主要原因。然而，通过提高生产效率、加强研发合作、建立良好的供应链关系、探索新的销售渠道和市场，以及引入差异化产品等策略，可以降低烧录编程器价格成本，刺激销量增长。

小外形封装是一种很常见的元器件封装形式。表面贴装型封装之一，引脚从封装两侧引出呈海鸥翼状（L字形）。材料有塑料和陶瓷两种。另外也叫SOL和DFP。SOP除了用于存储器LSI外，主要用于规模不太大的ASSP等电路。在输入输出端子不超过10～40的领域，SOP是普及很广的表面贴装封装。引脚中心距1.27mm，引脚数从8～44。另外，引脚中心距小于1.27mm的SOP也称为SSOP；装配高度不到1.27mm的SOP也称为TSOP。还有一种带有散热片的SOP。

SOP封装的应用范围很广，而且以后逐渐派生出SOJ（J型引脚小外形封装）、TSOP（薄小外形封装）、VSOP（甚小外形封装）、SSOP（缩小型SOP）、TSSOP（薄的缩小型SOP）及SOT（小外形晶体管）、SOIC（小外形集成电路）等在集成电路中都起到了举足轻重的作用。像主板的频率发生器就是采用的SOP封装。

引脚中心距小于1.27mm的SSOP(缩小型SOP);

装配高度不到1.27mm的TSOP(薄小外形封装);

VSOP(甚小外形封装);TSSOP(薄的缩小型SOP);

SOT(小外形晶体管);带有散热片的SOP称为HSOP;

部分半导体厂家把无散热片的SOP称为SONF(SmallOut-LineNon-Fin);

部分厂家把宽体SOP称为SOW(SmallOutlinePackage(Wide-Jype))

OPS以“稳健诚信，永续经营”的态度经营。

Nand Flash存储结构浅析

NandFlash是一种常见的闪存存储器，它的存储结构可以简单理解为一个二维的阵列，其中包含了多个存储单元。存储单元：

NandFlash的存储单元是一个非常小的电子组件，用于存储数据。每个存储单元通常由一个MOSFET（Metal-Oxide-SemiconductorField-EffectTransistor）和一个电荷储存单元（通常是浮栅）组成。当电荷储存单元中存在电荷时，表示存储单元为1，否则为0。

页（Page）：NandFlash的存储单元按照一定规则进行组织，形成了一个页（Page）。一个页通常包含多个存储单元，以及相关的控制电路。典型的页大小为2KB、4KB或8KB。

块（Block）：NandFlash的页按照一定规则组织成块（Block）。一个块通常包含多个页，以及相关的控制电路。典型的块大小为64KB或128KB。块是NandFlash的擦除单位，即要擦除一个块，需要将整个块的数据都擦除。

平面（Plane）：NandFlash的块按照一定规则组织成平面（Plane）。一个平面通常包含多个块，以及相关的控制电路。典型的平面数量为1或2。

芯片（Chip）：NandFlash的平面按照一定规则组织成芯片（Chip）。

NandFlash的存储结构可以简单理解为存储单元组成的页，页组成的块，块组成的平面，平面组成的芯片。 优普士针对半导体工厂、芯片原厂、消费类电子生产商及EMS代工厂，等提供集成电路烧录、测试等服务提供商。梅州IC测烧厂家供应

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一款芯片是怎样诞生的呢？需要进行哪些IC测试？需要经过哪些生产环节？大致来看，芯片成为商品之前，需要通过芯片设计公司完成设计，高通，联发科等都是芯片设计公司，采用EDA工业软件，芯片架构之后完成一款芯片的设计研发。然后将设计好的芯片交给台积电，三星这些芯片制造商，由他们负责代加工，进行实际生产制造。芯片测试，设计初期系统级芯片测试。由于每个功能元件都有其自身的测试要求，设计工程师必须在设计初期就做出测试规划。

一．芯片要想顺利上市应用，这三大测试缺一不可。

1、性能测试芯片在生产制造过程中，有无数可能会引入缺陷的步骤，即使是同一批晶圆和封装成品，芯片也各有好坏，需要进行测试筛选。

2、功能测试芯片制作出来后，为了应用不同场景，对它的各项参数、指标、功能都有一定要求，需要测试是否达标。

3、可靠性测试芯片通过了功能与性能测试，得到了好的芯片，但是芯片会不会被冬天里讨厌的静电弄坏，在雷雨天、三伏天、风雪天能否正常工作，以及芯片能用一个月、一年还是十年等等，这些都要通过可靠性测试进行评估。 广东IC测烧一体化