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IC测烧基本参数
  • 品牌
  • 优普士电子
  • 型号
  • IC芯片
  • 封装形式
  • 多种,TSOP,PLCC,SOP/SOIC,QFP/PFP,TQFP,CSP,QFP,BGA
IC测烧企业商机

烧录座的使用方法:

1、正确放置烧录座在烧录器上。

2、左手轻压/打开烧录座,同时用右手挤压吸笔,来吸IC。注意:压烧录座的时候两边受力要均匀,且垂直或水平Socket方向压,不可斜角线压,否则容易压坏烧录座。

3、吸好IC,把IC水平的放入烧录座内,IC在距离烧录座内针上空1-2mm时,挤压吸笔释放IC,让其自由落入烧录座,切勿直接把IC按入烧录座中,再强行的移除吸笔。若感觉IC没有放稳,可用吸笔轻轻拨一下IC,或再吸起。

4、IC放入正确后,轻轻的松手,让烧录座两边的压轴,稳当的压在IC上。 优普士电子专业做芯片烧录,价格合理,型号覆盖广。珠海IC测烧生产厂家

IC测试治具中的探针主要起到了什么作用呢?

IC测试治具的测试针是用于测试PCBA的一种探针。表面镀金,内部有平均寿命3万~10万次的高性能弹簧。材质主要有W、ReW、CU、A+等几种类型。W,ReW弹性一般,容易偏移,粘金屑,需要多次的清洗,磨损损针长,寿命一般。而A+材质的免清针,这种材质弹性较好,测试中不容易偏移,并且不粘金屑,免清洗,因此寿命较长。IC测试治具的探针主要用于PCB板测试,主要可分为弹簧针(针)和通用针。

弹簧针在使用时,需要根据IC测试治具所测试的PCB板的布线情况制作测试模具,且一般情况下,一个模具只能测试一种PCB板;通用针在使用时,只需有足够的点数即可,故现在很多厂家都在使用通用针;弹簧针根据使用情况又分为PCB板探针、ICT探针、BGA探针,PCB板探针主要用于PCB板测试,ICT探针主要用于插件后的在线测试,BGA探针主要用于BGA封装的芯片测试。 潮州厂家IC测烧优普士电子(深圳)有限公司提供专业的芯片烧录、测试方案,具体咨询请联系我们。

功能测试、延迟测试、参数测试的定义及作用

Function Test(功能测试)芯片在生产制造过程中会引入各种故障,通常会引起功能的失效。这些失效包括Stuck-atFault,OpenFault,BridgeFault等。这些故障通常可以基于芯片设计时插入的ScanChain,用ATPG(对于memory用mbist方法,对于Flash按照vendor的测试方法设计bist)产生测试Pattern进行筛选测试,从而剔除有功能故障的芯片。

DelayTest(延迟测试):除了功能故障之外,先进工艺的芯片还会有时序故障。Delay test的目的是剔除有Timing related defect 的芯片(即时序不满足要求的芯片)。基于Scan-at-speed的策略使用Launch from capture 和Lanuch from shift的方法来实现at-speed测试。在设计层面需要在Scan模式下利用on-chip PLL提供at-speed模式需要的高速工作时钟。

Parameter Test(参数测试):除了基于功能和时序的测试,还需要进行基于电流、电压的测试来筛选掉一些“顽固”的芯片。通过IDDQ测试,剔除静态电流不符合规范的芯片,通过Very Low Voltage test可以更容易发现时序不满足的芯片,通过Stress test(高压高温)加速芯片的寿命更容易剔除gate oxide 失效。

IC电性能测试:

模拟电路测试一般又分为以下两类测试,一类是直流特性测试,主要包括端子电压特性、端子电流特性等;另一类是交流特性测试,这些交流特性和该电路完成的特定功能密切有关,比如一块色处理电路中色解码部分的色差信号输出,色相位等参数也是很重要的交流测试项目。

数字电路测试也包含直流参数、开关参数和特殊功能的特殊参数等。需要通过利用扫描链输入测试向量(testpattern)测试各个逻辑门、触发器是否工作正常。常见直流参数如高(低)电平比较大输入电压、高(低)电平输入电流等。开关参数包含延迟时间、转换时间、传输时间、导通时间等。触发器特殊的比较大时钟频率、**小时钟脉冲宽度等。还有噪声参数等等。 烧录过程在此处被称为编程,在某些地方也被称为IC复制。

芯片设计公司为什么要做芯片测试?

1、随着芯片复杂度的提高,内部模块数量不断增加,制造工艺也越来越先进,对应的失效模式变得越来越多。因此,在设计过程中,芯片设计公司需要更加重视完整有效的芯片测试。

2、设计、制造和测试都可能导致失效。为了确保设计的芯片达到预期目标,制造出的芯片达到要求的良率,以及确保测试的质量和有效性,提供符合产品规范和质量合格的产品给客户,这些都需要在设计的初期就考虑测试方案。3、成本也是一个重要的考量因素。越早发现失效,就能减少不必要的浪费;设计和制造的冗余度越高,终产品的良率就越高;同时,获取更多的有意义测试数据可以提供给设计和制造部门,从而有效分析失效模式,改善设计和制造良率。


芯片技术的迅猛发展和不断更新,给芯片烧录带来的技术性问题直接影响产品品质和生产周期。汕头IC测烧哪家靠谱

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芯片制造一般有六个重要步骤:

一是光刻(Photolithography):利用曝光和显影在光刻胶层上刻画几何图形结构,然后通过刻蚀工艺将光掩模上的图形转移到所在衬底上

二是离子注入(IonImplantation):离子束射到固体材料以后,受到固体材料的抵抗而速度慢慢减低下来,并停留在固体材料中的现象

三是扩散(Diffusion)

四是薄膜淀积(Deposition);

五是刻蚀(Etch);

六是化学机械研磨(ChemicalMechanicalPolishing,CMP)

这六个步骤在芯片制造的过程中会被反复用到,把各种不同的器件制作在硅晶圆上,然后通过金属沉积把做好的器件连接成电路。 珠海IC测烧生产厂家

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