企业商机
IC老化测试设备基本参数
  • 品牌
  • 优普士电子
  • 型号
  • IC老化测试设备
  • 封装形式
  • 多种
IC老化测试设备企业商机

FLA-6620AS高温老化设备,是一款专门针对eMMC、UFS、eMCP…等颗粒存储芯片进行高温老化的设备。设备采用专业工控机和Windows系统控制,能够同时支持3360颗芯片同步老化测试,腔体可在产生高温的同时确保温度准确。

性能特点

1:温度准确,产品周边温度稳定控制在±3°内

2:升温速度:可同时针对

3、360颗芯片进行老化测试

4:测试座可拔插替换式,方便更换与维护

5:预留MES系统对接接口

6:更換不同老化板即可兼容生产eMMC/eMCP/ePOP/UFS产品

7:单颗DUT电源设计,保护产品

设备型号FLA-6620AS使用产品类别eMMC/eMCP/ePOP/UFS温度范围常温~+85℃测试DUT数3360pcs电源三相380V功率30KV尺寸3320mm(长)x2350mm(高)x1300mm(深)重量1000kg。 OPS成为智能系统化高低温测试设备之比较好厂商。惠州自动化IC老化测试设备需要注意什么

半导体设备用高低温老化设备应用知识介绍:

半导体材料的温度会直接影响器件的电学特性和可靠性。以硅材料为例,它的导电性随着温度的升高而增强,而在温度较低时却表现出半导体的性质。此外,温度的变化还会导致硅材料晶体结构的改变,从而影响器件的性能。因此,通过IC老化测试设备可以对产品的可靠性进行测试。

用高低温老化设备可以适用于大规模的半导体检测。通过合理的设备布局和优化的控制算法,可以满足大规模制造过程中的需求。 四川哪里有IC老化测试设备要多少钱FLA-6620AS,能够同时支持3360颗芯片同步老化测试,腔体可在产生高温的同时确保温度准确。

高低温试验也称为高低温循环试验,是环境可靠性试验之一。基本上所有的产品都是在一定的温度环境下储存和保存,或者工作和运行。在某些环境中,温度不断变化,有时高,有时低。这种不断变化的温度环境会影响产品的功能、性能、质量和寿命,加速产品的老化,缩短产品的使用寿命。如果产品长期处于这种高温和低温交替变化较大的环境中,则需要有足够的耐高低温循环能力。这样我们就需要模拟一定的环境条件,对产品进行高低温测试。高低温试验是高温试验和低温试验的简称。测试的目的是评估高低温条件对设备在储存和运行过程中性能的影响。

高温试验:用于测定产品在高温气候条件下储存、运输和使用的适应性。测试的严格程度取决于温度和暴露在高温下的持续时间。

低温试验:用于测定产品在低温气候条件下储存、运输和使用的适应性。测试的严重程度取决于温度和暴露于低温的持续时间。

IC老化测试:

芯片在封装后可能存在潜在缺陷,这可能导致不稳定性能或潜在功能问题。如果这些有缺陷的芯片被用于关键设备,可能会导致故障,造成用户财产损失或生命危险。因此,老化测试的目的是在一定时间内,将芯片置于特定温度和特定电压下,以加速芯片的老化过程,使其提前进入故障偶发期,从而确保交给客户的芯片具有稳定性和可靠性。老化测试是在一定时间和温度下对芯片进行加速老化,以确保其稳定性和可靠性。如果芯片在封装后存在潜在缺陷,这可能导致性能不稳定或潜在功能问题。这些缺陷可能会在使用关键设备时导致故障,从而造成用户财产损失或生命危险。为了解决这个问题,老化测试被用来加速芯片的老化过程,使其提前进入故障偶发期,以确保交给客户的芯片具有稳定性和可靠性。

常见的老化使用标准:

1、在125℃温度条件下持续老化1000小时的IC可以保证持续使用4年;

2、在125℃温度条件下持续老化2000小时的IC可以保证持续使用8年;

3、在150℃温度条件下持续老化1000小时的IC可以保证持续使用8年;

4、在150℃温度条件下持续老化2000小时的IC可以保证持续使用28年;

优普士专业生产IC老化测试设备(存储颗粒高低温测试设备),是广大用户的优先选择,欢迎大家咨询。 SP-352A,ARM 内可建制BIB 自我检测功能,确保每一个socket 上板良率。

芯片测试座通常由以下三个主要部分组成:

1.承载器:用于承载芯片,确保芯片与测试座之间的稳定连接。

2.连接器:将测试座与测试仪器相连接,实现电气信号传输。

3.固定装置:用于固定芯片和承载器,确保测试过程中的稳定性和安全性。此外,根据不同的测试需求,芯片测试座还可能包括温度控制、电源供应、信号调节等功能模块。

芯片测试座能有效地将芯片与测试设备相连接,从而增加测试效率,提高测试精度,同时降低测试成本,能适应不同类型和规格的芯片测试需求,且结构简单,易于维护和操作。


优普士秉持“客户至上,服务优先”的精神!江苏高效IC老化测试设备要多少钱

SP-352A,老化板进行子母板设计制造,可向下兼容eMMC、eMCP、ePOP等多种芯片进行老化作业。惠州自动化IC老化测试设备需要注意什么

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IC老化测试设备产品展示
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