芯片融合时代:测试也要“上天”过去简单的电子技术就可以满足的需求,如今可能需要人工智能、机器学习、无人驾驶、医疗仪器、基础设施扩建等多元覆盖实现。终端应用领域对于半导体技术的要求亦呈指数增长。因此,半导体元器件必须具备极高的可靠性,半导体测试设备对于供应链的价值也由此变得更加重要。对应迅速更新迭代的智能世界,先进制程升级要求半导体检测技术快速迭代,因而对于ATE机台来说,平台通用化、模块化、灵活性高、可升级是未来技术发展的大趋势。系统级测试(SLT,systemleveltest)、大数据分析、ATPG编程自动化等,都是测试领域应对未来半导体市场发展面临的挑战,这需要测试设备厂商有超前的技术眼光,随时跟进市场需求。芯片测试具体请咨询优普士电子(深圳)有限公司。中国台湾本地芯片测试流程
芯片OS,FT测试,原理,OS英文全称为Open-ShortTest也称为ContinuityTest或者ContactTest,用以确认在器件测试时所有的信号引脚都与测试系统相应的通道在电性能上完成了连接,并且没有信号引脚与其他信号引脚、电源或地发生短路。芯片FT测试(FinalTest简称为FT)是指芯片在封装完成后以及在芯片成品完成可靠性验证后对芯片进行测功能验证、电参数测试。主要的测试依据是集成电路规范、芯片规格书、用户手册。即测试芯片的逻辑功能。 昆山附近芯片测试拥有各类芯片烧录+测试能力。
芯片CP/FT测试的基本概念理解:chipprobing基本原理是探针加信号激励给pad,然后测试功能。a.测试对象,wafer芯片,还未封装的。b.测试目的,筛选,然后决定是否封装。可以节省封装成本(MPW阶段,不需要;fullmask量产阶段,才有节省成本的意义)。c.需要保证:基本功能成功即可,主要是机台测试成本高。高速信号不可能,较大支持100~400Mbps;高精度的也不行。总之,通常CP测试,只用于基本的连接测试和低速的数字电路测试。finaltesta.测试对象,封装后的芯片;b.测试目的,筛选,然后决定芯片可用做产品卖给客户。c.需要保证:spec指明的全部功能都要验证到。
探针台 1)晶圆检测需具备多套视觉精密测量及定位系统,并具备视觉相互标定、多个坐标系互相拟合的功能;2)探针台精度要求非常严苛,重复定位精度要求达到0.001mm(微米)等级;3)探针台对设备工作环境洁净度要求较高,除需达到几乎无人干预的全自动化作业,对传动机构低粉尘提出要求,还需具备气流除尘等特殊功能。4)晶圆检测对于设备稳定性要求较高,各个执行器件均需进行多余度的控制,晶圆损伤率要求控制在1ppm(百万分之一)以内;芯片测试为客户提供一站式服务。
如何去分辨测试座是否是进口的?一般品牌进口的测试座在座子的表面都会有厂家品牌的标识。并且国内的测试座厂家是在自主生产测试座的时候一般是不会添加国外的标签。一般品牌进口的测试座在价格上是要比国产的价格要贵的。同型号的测试座,国内的测试座产品比国外进口的测试座在价格上是要便宜70%左右。一般品牌进口的测试座在使用的次数上也是要比国产的座子要多的多。国外进口的测试座测试的次数能够达到几万次,如果保养的比较好,使用次数可以更多。而国内的测试座在使用次数方面是远远达不到的。一般品牌进口的测试座在座子本身的材料上跟国产的座子是不一样的。这一点,一般的新手是不能凭感觉手感判断出来的。只有多年的老手,接触进口测试座比较多的才能判断出来芯片测试是IC行业必不可少的步骤。广西自动化芯片测试设备厂家
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芯片测试绝不是一个简单的鸡蛋里挑石头,不只是“挑剔”“严苛”就可以,还需要全流程的控制与参与。从芯片设计开始,就应考虑到如何测试,是否应添加DFT【DesignforTest】设计,是否可以通过设计功能自测试【FuncBIST】减少对外围电路和测试设备的依赖。在芯片开启验证的时候,就应考虑末端出具的测试向量,应把验证的TestBench按照基于周期【Cyclebase】的方式来写,这样生成的向量也更容易转换和避免数据遗漏等等。在芯片流片Tapout阶段,芯片测试的方案就应制定完毕,ATE测试的程序开发与CP/FT硬件制作同步执行,确保芯片从晶圆产线下来就开启调试,把芯片开发周期极大的缩短。后进入量产阶段测试就更重要了,如何去监督控制测试良率,如何应对客诉和PPM低的情况,如何持续的优化测试流程,提升测试程序效率,缩减测试时间,降低测试成本等。所以说芯片测试不只是成本的问题,其实是质量+效率+成本的平衡艺术! 中国台湾本地芯片测试流程