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粒度仪基本参数
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激光粒度仪的正确使用方法:正确地使用激光粒度仪不只可以稳定产品质量,提高产品性能,降低能源和产线消耗,提高生产效率,还可以根据测试数据有效地对产品进行分选,以此形成不同规格产品,提高产品附加值。如何正确地使用激光粒度仪对样品进行粒度分析是其中至关重要的一环。由于激光粒度仪测量的是在分散介质中的颗粒分散粒径,在粒度测试过程中,怎样优化分散方法是使粒度仪的应用数据能有效地反应颗粒样品相关性能的重点要素之一。麦奇克S3500系列激光粒度分析仪的特点:不易沉积颗粒。汕头图像粒度仪多少钱

粒度分析仪不同粒度分析仪技术的局限性:不同粒度分析技术都受其测量原理限制.如光衍射法不能测量小于光源自然线宽的颗粒;沉降法则既受制于大尺寸端乱流的影响,又受小尺寸端扩散(布朗运动)的限制。一些测量仪器也会因制作和操作规程带来一定限制。有时测量技术还对测量样品的准备提出限制,PCS测量必须使颗粒悬浮,电镜制样要求优良分散。因此,了解测量技术的局限性和严格满足其限制要求.对获取正确测量结果非常必要。催化剂与分子筛粒度的选择除与反应器的结构及单元设备的生产能力有关外.还取决于反应的宏观动力学。例如,管式反应器为降低反应床的阻力降,可采用粒度较大的催化剂。当反应速率受内扩散控制时.一般就选择粒度较小的催化剂.以提高内表面的利用率。长沙小型粒度仪原理麦奇克S3500系列激光粒度分析仪有多种语言的分析软件可供选择。

激光粒度分析仪:测量分析物理颗粒丰度的仪器,依据分散系统分为湿法测试仪器,干法测试仪器,干湿一体测试仪器。其原理是光在传播中,波前受到与波长尺度相当的隙孔或颗粒的限制,以受限波前处各元波为源的发射在空间干涉而产生衍射和散射,衍射和散射的光能的空间(角度)分布与光波波长和隙孔或颗粒的尺度有关。用激光做光源,光为波长一定的单色光后,衍射和散射的光能的空间(角度)分布就只与粒径有关。对颗粒群的衍射,各颗粒级的多少决定着对应各特定角处获得的光能量的大小,各特定角光能量在总光能量中的比例,应反映着各颗粒级的分布丰度。按照这一思路可建立表征粒度级丰度与各特定角处获取的光能量的数学物理模型,进而研制仪器,测量光能,由特定角度测得的光能与总光能的比较推出颗粒群相应粒径级的丰度比例量。

粒度仪分离颗粒的能力与粒度测试技术选择:依据对颗粒的分离能力.可将测量颗粒的技术分为单颗粒计数、颗粒分级和整体平均结果三类。图像分析、显微镜是典型的单颗粒技术方法;分级方法包括筛分、沉降、离心和颗粒色谱等;整体平均的粒度分析方法,从收集到的所有测量颗粒产生信号的总和计算粒度分析,即测量结果由解析得到,是被测颗粒整体的平均,因此易于实现自动化和在线分析,但分辨率较低。用于催化剂工业生产的颗粒分析仪选择整体平均的方法,实验室研究多数情况希望获得单颗粒技术与外貌信息,分级方法的选择,应当结合测量颗粒性质与测量方式考虑。LA-350-紧凑型激光粒度仪具有简单的操作。

激光粒度仪产品优劣有几个关键考验点?是否使用完全的米氏理论,因为米氏光散理论非常复杂,数据处理量大,所以有些厂家忽略颗粒本身折光和吸收等光学性质,采用近似的米氏理论,造成适用范围受限制,漏检几率增大等问题。准确性和重复性指标,准确性和重复性指标越高越好。采用NIST标准粒子检测。稳定性仪器稳定性包括光路的稳定性和分散系统的稳定性和周围环境的影响。一般来讲选用气体激光器,使用光学平台,有助于光路的稳定。内部发热部件(如50瓦的钨灯)将影响光路周围环境。稳定性指标在厂家仪器说明中没有,用户只能凭对于仪器结构的判断和参观或询问其他长时间使用过的用户来判断。激光粒度仪已经在其它粉体加工与应用领域得到普遍的应用。珠海自动粒度仪厂家有哪些

粒度仪是用物理的方法测试固体颗粒的大小和分布的一种仪器。汕头图像粒度仪多少钱

ViewSizer 3000 纳米颗粒追踪分析仪:ViewSizer™3000 实现了纳米颗粒追踪分析技术的突破性提升,包括特有的照射和检测方法,使得各种尺寸纳米颗粒的可视化、粒径和数量浓度测量成为可能。与传统的NTA一样,该仪器可对悬浮液中单个纳米颗粒的散射光进行可视化,然后利用这些数据来确定颗粒的运动并利用Stokes Einstein方程推断颗粒尺寸,在此基础上利用已知的照射和成像的样品体积确定颗粒数量浓度。一次测量可得到两个关键信息:颗粒粒径分布和颗粒浓度。汕头图像粒度仪多少钱

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当高能辐射(例如初级宇宙射线)贯穿主探测器与反符合屏蔽探测器,两个探测器都有信号输出时,后面的反符合电子学线路就会使这些信号不被谱仪记录,从而起到降低或屏蔽本底信号的作用。同样,当被测样品放出的γ射线入射到主探测器,其中发生康普顿效应的光子将产生非全能峰信号,而同时,其将同时被散射而进入到反符合屏蔽探测器而产生信号,后面的反符合电子学线路就会使这些信号不被谱仪记录,从而起到降低康普顿效应、提高峰康比的作用。评价低本底反康普顿谱仪的主要技术指标有积分本底、康普顿降低系数(定义为在康普顿反符合前后主探测器所测得的同一核素两个γ谱图中康普顿连续谱面积之比)、反康条件下的系统峰康比和zei低检出限等。...

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