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粒度仪基本参数
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粒度仪企业商机

购买激光粒度仪产品的几个关键考验点:(1)激光器选择:激光粒度仪的重要部件之一,主要有HE-NE激光器和半导体激光器两种,其中HE-NE激光器的各项性能均优于半导体激光器,且成本也远高于半导体激光器,半导体激光器单向性差的问题,对测试结果的稳定性影响很大。因此推荐用户选择HE-NE激光器。(2)光电探测器:国内产品采用的光电探测器的种类大同小异,一般就是半环式、点阵式等,半环式的优势是能够以较少的通道数达到很高的探测精度。而且在出现断环时可以临时采取并环操作,对测试结果影响很小。点阵式属于比较老的探测器类型,现在用的比较少。(3)仪器结构问题:主要分为整体式和分体式,整体式就是将分散系统和测试系统整合为一体,协同操作,分体式则是分散系统独特于测试系统,测试者需要先操作分散系统,将样品分散好再将分散好的样品通过管道导入测试系统进行测试。麦奇克S3500系列激光粒度分析仪具有多种语言的分析软件可供选择。海口智能型粒度仪

LA-350 全新激光散射粒径分布分析仪完美结合了性能,价格和外观设计优势,尤其擅长在质量管理上的应用,包括浆料,矿物,造纸等行业。基于以往LA系列先进的光路设计,LA-350在多功能、易操作、少维护和低成本之间达到了和谐的平衡。 LA-350 尺寸紧凑(297 mm x 420 mm),可以实现工作台空间高效利用。巧妙的设计、高精度和高的品质制造保证了操作的便捷,可靠和结果的准确,并有更宽的测量范围(0.1-1,000 μm)。 操作灵活:宽尺寸范围和灵活的软件随时适应测量需求的改变。操作简单:通过在软件中创建方法和序列选项,使一键操作成为可能。快速分析:快速测量和分析,即刻得到答案。汕头纳米粒度仪现价粒度仪可分为纳米粒度仪,激光粒度仪,单颗粒光阻法粒度仪和图像粒度仪等。

麦奇克S3500系列激光粒度分析仪的特点:具备3500系列激光粒度仪的所有特点和功能液相颗粒实时动态测量技术,有效观察悬浮液/乳化液中颗粒的分散状态;测量相同浓度的同一样品,结果具有可比性倾斜设计的测量窗口,方便调整清洗,不易沉积颗粒;视野清晰,实时显示被测样品在液体介质中的大小和形状,同时统计被测颗粒数量;利用对单个参数或多个参数的筛选或过滤,实时监测并量化样品中混入的杂质;多种语言的分析软件可供选择;软件不但可以提供长度,宽度,面积,周长,圆形度,凹凸度,环状等多于30种形状参数,还可以提供各种参数的分布图。

关于激光粒度仪你要知道的所有事:粒度检测的方法很多,常见的方法包括筛分法、显微镜法、沉降法、光阻法、电阻法、透气法、X射线小角散射法等。而激光粒度仪正是其中应用非常普遍的方法之一,具有操作简便,测试速度快,测试范围广,重复性和准确性好,可进行在线测量和干法测量等优点。对提高产品质量、降低能源消耗、控制环境污染、保护人类的健康等具有重要意义。激光粒度仪作为一种成熟的粒度测试仪器,已经在粉体加工、应用与研究领域得到普遍的应用。它的特点是测试速度快、测试范围宽、重复性和真实性好、操作简便等等。激光粒度仪作为一种成熟的粒度测试仪器,已经在粉体加工、应用与研究领域得到普遍的应用。

纳米颗粒分析仪:SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪是准确测量小颗粒物理性质的分析工具,如颗粒粒径、zeta电位的检测,分子量(Mw)以及第二维利系数(A2)的测定;还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。SZ-100 V2纳米颗粒分析仪典型应用包括:纳米颗粒,胶体,乳液以及亚微米悬浮液。产品特点:1.同台仪器可测三种参数——粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数。2.宽检测范围,宽浓度范围——样品浓度可达40%。3.自动滴定仪——可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定。4.软件操作简单功能强大,一键测量。5.双光路双角度粒径测量(90° 和173°)。6.采用微量样品池。粒度仪清洗要排干净循环杯中的水,从测试窗组件中取出测试窗。三明粒度仪湿法

LA-350 全新激光散射粒径分布分析仪完美结合了性能,价格和外观设计优势。海口智能型粒度仪

适合的激光粒度仪根据用途,选择粒度仪种类:用户不应该盲目跟风,选择高级型号,如果只是放到工厂里面进行常规产品检测,就不需要购买较新型的产品,老产品往往经过多年的改进,结构成熟,测试效果比较稳定,而且价格便宜。测试任务比较重的,则应该选择自动化智能型产品,能够大幅降低测试者的工作量。大多数高级产品是为高校或者科研院所等研究型客户准备的,这种产品大都分布范围广、精度高且结构复杂,而且往往价格比较昂贵。市面上的激光粒度仪大都是跨越3-4个数量级的,但是大多数工业测试的样品分布只在一个数量级内,如果样品分布范围窄而选择超宽量程的测试范围,则如同磅秤称一粒豆子,会降低精确度。海口智能型粒度仪

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当高能辐射(例如初级宇宙射线)贯穿主探测器与反符合屏蔽探测器,两个探测器都有信号输出时,后面的反符合电子学线路就会使这些信号不被谱仪记录,从而起到降低或屏蔽本底信号的作用。同样,当被测样品放出的γ射线入射到主探测器,其中发生康普顿效应的光子将产生非全能峰信号,而同时,其将同时被散射而进入到反符合屏蔽探测器而产生信号,后面的反符合电子学线路就会使这些信号不被谱仪记录,从而起到降低康普顿效应、提高峰康比的作用。评价低本底反康普顿谱仪的主要技术指标有积分本底、康普顿降低系数(定义为在康普顿反符合前后主探测器所测得的同一核素两个γ谱图中康普顿连续谱面积之比)、反康条件下的系统峰康比和zei低检出限等。...

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