系统支持多种裂尖定位算法,包括基于裂尖附近位移梯度奇异性的位移梯度法、利用 Williams 级数展开的奇异性特征识别法,以及通过理论位移场匹配的图像匹配法,用户可根据测试需求选择方案。在应力强度因子计算方面,系统集成了 J 积分法、位移关联法等多种成熟算法,其中 J 积分法通过围绕裂尖的闭合路径积分计算能量释放率,再通过转换公式获得应力强度因子,物理意义明确且计算精度高。这些功能为裂纹萌生、扩展机制研究提供了量化数据支撑,广泛应用于航空航天关键构件的疲劳寿命评估。应变测量有多种方法,比较常见的是使用应变计测量。重庆光学数字图像相关技术测量

作为当前主流的技术路径,数字图像相关(DIC)技术的工作流程已形成标准化范式:首先在被测物体表面制备随机散斑图案,这一图案如同 "光学指纹",为后续识别提供特征标记,可通过人工喷涂、光刻或利用材料自然纹理实现;随后采用高分辨率相机阵列同步采集变形前后的图像序列,捕捉每一个微小形变瞬间;通过零均值归一化互相关系数(ZNCC)等算法,追踪散斑在图像中的位移变化,经三维重建计算得到全场位移场与应变场数据。这种技术路径带来三大突破:其一,非接触特性消除了测量器件对测试系统的力学干扰,尤其适用于软材料、微纳结构等易损伤样品的测试;其二,全场测量能力实现了从 "点测量" 到 "面分析" 的跨越,单次测试可获取数百万个数据点,使变形分布可视化成为可能;其三,亚像素级测量精度突破了传统方法的极限,位移测量精度可达 0.01 像素,配合高分辨率相机可实现纳米级形变检测。这些优势让光学非接触测量成为解决复杂力学测试问题的方案。青海VIC-Gauge 3D视频引伸计应变测量系统研索仪器光学非接触应变测量系统无需贴片或预加工,避免接触式传感器对试样的干扰,适用于各种恶劣环境。

土木工程桥梁、建筑结构的荷载试验应变监测;混凝土、钢结构的长期变形跟踪;隧道、大坝的位移与应变安全监测。5. 电子电器芯片、电路板在温度循环中的热应变分析;手机、笔记本电脑外壳的抗压 / 抗摔应变测试;电池封装结构的变形监测。散斑制备:DIC 技术需在被测物体表面制作均匀散斑(喷漆 / 贴纸),影响测量精度;环境要求:激光干涉法对振动、温度变化敏感,需在实验室或稳定环境下使用;数据处理:选择自带专业分析软件的设备,减少后期数据处理工作量;校准需求:定期对设备进行校准(如激光干涉仪需每年校准一次),确保数据准确性。
在服务内容上,研索仪器提供从方案设计到数据解读的全流程服务。针对不同行业的特殊需求,公司的专业技术团队会进行深度需求调研,结合自身技术积累设计定制化解决方案。在设备交付后,会组织系统的操作培训,内容涵盖设备操作、散斑制备、参数设置、数据分析等各个环节,确保用户能够熟练掌握使用技能。此外,公司还提供长期的技术支持服务,通过电话、在线视频等多种方式解答用户在使用过程中遇到的问题,定期组织技术沙龙与培训课程,帮助用户提升测量技术应用水平。研索仪器科技光学非接触应变测量,软件分析功能强,快速出应变结果。

相位调制机制光波在传播过程中,材料变形引起的光程差会改变其相位分布。以干涉测量为例,两束相干光在变形表面反射后产生干涉条纹,条纹位移量与表面变形呈线性关系。通过相位解包裹算法,可将干涉条纹转化为连续相位场,进而计算应变分布。相位调制技术具有亚波长级灵敏度,但需严格控温以消除空气折射率波动干扰。频率调制机制多普勒效应是频率调制的典型体现。当激光照射到运动或变形表面时,反射光频率会发生偏移,偏移量与表面速度成正比。激光多普勒测振仪(LDV)通过检测频率偏移实现振动速度测量,而集成多普勒效应的应变测量系统则可进一步通过速度梯度计算应变率。此类技术适用于高速动态过程分析,但设备成本较高且对被测表面反射率敏感。研索仪器光学非接触应变测量系统可结合DIC或干涉技术,实现三维应变场可视化。西安VIC-2D非接触变形测量
研索仪器VIC-3D非接触全场变形测量系统可用于科研实验复合材料分层失效研究,微电子封装焊点疲劳评估。重庆光学数字图像相关技术测量
为了帮助用户提升测量精度与效率,研索仪器还提供完善的配套产品与技术支持。公司自主研发的 VIC-Speckle 散斑制备工具,能够制备出均匀稳定的随机散斑图案,为高质量测量数据的获取奠定基础。同时提供多种规格的标定板、光源等配套硬件,确保测量系统始终处于工作状态。在软件升级方面,公司会根据技术发展与用户需求,定期推出软件更新服务,不断丰富数据分析功能,提升系统性能。研索仪器的服务理念在教育科研领域得到了充分体现。公司荣膺达索系统 "行业贡献奖",这一荣誉正是对其在服务高校科研与教学数字化升级过程中表现的高度肯定。通过与高校共建联合实验室、参与科研项目攻关等方式,研索仪器不仅提供了先进的测量设备,更深度参与到科研过程中,为科研人员提供专业的技术指导,助力科研成果的快速转化。重庆光学数字图像相关技术测量