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AOI检测设备基本参数
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AOI检测设备企业商机

AOI工作的原理对比

1.统计建模方式:图像对比(ImageMatching)的处理方式。通过对OK模板与实际图像的对比,求出差异的程度,来进行检测。这种方式对使用人员要求低,但适应性,检测能力方面有诸多问题。早期,由于开发简单,我国有不少AOI制造商,加以改善(模板有多幅OJ图像叠加而成),美其名曰:“统计建模”。

2.逻辑算法方式:通过算法对图像的特征点的抽取,来进行检测。这种方式对使用人员要求有一定的经验。基于算法的检测方法经过很多年的发展,已经非常成熟稳定,并且在实际运用中取得了很好的效果。被行业前列的AOI制造商采用。

数据管理的对比

1.统计建模方式:在同一基板的相同元件无法统一的库做管理。在基板A中制作的数据无法在基板B中调用。制作新基板监测数据总是需要用一定数量的基板来建立模板数据。

2.逻辑算法方式:以元件库方式作管理,元件库与元件材料号相对于。相同元件,无论在同一基板中,或不同基板中都可以用同一元件库来进行检测。当制作元件材料号相同的基板数据时,只需要简单的链接元件库即可以(通常只需要10-20分钟)。 在线AOI与离线AOI的区别是什么呢?深圳直销AOI检测设备按需定制

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      早期的时候AOI大多被拿来检测IC(积体电路)封装后的表面印刷是否有缺陷,随着技术的演进,现在则被拿来用在SMT组装线上检测电路板上的零件组装(PCBAssembly)后的品质状况,或是检查锡膏印刷后有否符合标准。

      AOI比较大的优点就是可以取代以前SMT炉前炉后的人工目检作业,而且可以比人眼更精确的判断出SMT的打件组装缺点。但就如同人眼一般,AOI基本上也只能执行物件的表面检查,所以只要是物件表面上可以看得到的形状,它都可以正确无误的检查出来,但对于藏在零件底下或是零件边缘的焊点可能就有些力有未逮,当然现在有许多的AOI已经可以作到多角度的摄影来增加其对于IC脚翘的检出能力,并增加某些被遮闭元件的摄影角度,以提供更多的检出率,但效果总是不尽理想,难以达到100%的测试含盖率。

      其实,AOI比较大的缺点是有些灰階或是阴影明暗不是很明显的地方,也就比较容易出现误判的情况,这些或许可以使用不同颜色的灯光来加以判別,但较较麻烦的还是那些被其他零件遮盖到的元件以及位于元件底下的焊点,因为传统的AOI只能检测直射光线所能到达的地方,像是屏闭框肋条或是其边缘底下的元件,往往就会因为AOI检测不到而漏了过去。 深圳直销AOI检测设备按需定制如何根据AOI的功能选择设备。

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AOI为什么会逐渐取代人工目检?

      现在的人工越来越贵,并且人员管理也越来越难,人工目检还会出现漏检或错检,因此在线AOI逐渐取代人工目检,达到节约成本、提高生产效率、降低误判率、提高直通率等等,在现代的EMS加工厂中,大量的AOI逐渐取代人工目检,效率也更快。

AOI检测设备的优点

1、解决了微型封装器件的结构性检查问题,保证生产质量;

2、提高了后端测试的直通率,降低维修成本;

3、随着技术的发展,AOI测试程序快捷简便,降低了生产所需的大量测试成本;

AOI检测设备的缺点

1.灰阶或是阴影明暗不是很明显的地方,比较容易出现误判,

2.被其他零件遮盖到的元件以及位于元件底下的焊点,比较容易出现漏检

      人工目检+AOI自动检测结合是目前的主流方式,如果放置了AOI自动检测仪,人工目检人员岗可以设置较少人员

      随着电子精密化趋势发展,越来越多的使用了屏蔽罩,因此有实力的加工厂还会在多功能机前加一个炉前AOI,用来专门检测屏蔽罩下的元件贴装品质。

AOI虽然具有比人工检测更高的效率,但毕竟是通过图像采集和分析处理来得出结果,而图像分析处理的相关软件技术目前还没达到人脑的级别,因此,在实际使用中的一些特殊情况,AOI的误判、漏判在所难免。

目前AOI使用中存在的问题有:

(1)多锡、少锡、偏移、歪斜的工艺要求标准界定不同,容易导致误判。

(2)电容容值不同而规格大小和颜色相同,容易引起漏判。

(3)字符处理方式不同,引起的极性判断准确性差异较大。

(4)大部分AOI对虚焊的理解发生歧义,造成漏判推诿。

(5)存在屏蔽圈、屏蔽罩遮蔽点的检测问题。

(6)BGA、FC等倒装元件的焊接质量难以检测。

(7)多数AOI编程复杂、繁琐且调整时间长,不适合科研单位、小型OEM厂、多规格小批量产品的生产单位。

(8)多数AOI产品检测速度较慢,有少数采用扫描方法的AOI速度较快,但误判、漏判率更高。 AOI工作流程进料→AOI检验→VRS确认→荧光幕监视修补→出货为什么需要AOI?

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AOI的发展需求

集成电路(IC)当然是现今人类工业制造出来结构较为精细的人造物之一,而除了以IC为主的半导体制造业,AOI亦在其他领域有很重要的检测需求。

①微型元件或结构的形貌以及关键尺寸量测,典型应用就是集成电路、芯片的制造、封装等,既需要高精度又需要高效率的大量检测

②精密零件与制程的精密加工与检测,典型应用就是针对工具机、航空航天器等高精度机械零件进行相关的粗糙度、表面形状等的量测,具有高精度、量测条件多变等特点

③生物医学检测应用,典型应用就是各式光学显微镜,结合相关程序编程、AI即可辅助判断相关的生物、医学信息判断。

④光学镜头或其他光学元件的像差检测 AOI自动光学检测仪及其工作原理AOI经过十几年的发展,技术水平仍处于高速发展阶段。深圳直销AOI检测设备按需定制

AOI的发展需求——集成电路。深圳直销AOI检测设备按需定制

AOI检测设备误判的定义

AOI检测误判的定义及存在原困、 检测误判的定义及存在原困、检测误判的定义及存在原困误判的三种理解及产生原因可以分为以下几点:

1、元件及焊点本来有发生不良的倾向,但处于允收范围。如元件本来发生了偏移,但在允收范围内;此类误判主要是由于阙值设 定过严造成的,也可能是其本身介于不良与良品标准之间,AOI与MV(人工目检)确认造成的偏差,此类误判是可以通过调整及 与MV协调标准来降低。

2、元件及焊点无不良倾向,但由于DFM设计时未考虑AOI的可测性,而造成AOI判定良与否有一定的难度,为保证检出效果,将 引入一些误判。如焊盘设计的过窄或过短,AOI进行检测时较难进行很准确的判定,此类情况所造成的误判较难消除,除非改进 DFM或放弃此类元件的焊点不良检测。

3、由于AOI依靠反射光来进行分析和判定,但有时光会受到一些随机因素的干扰而造成误判。如元件焊端有脏物或焊盘侧的印制 线有部分未完全进行涂敷有部分裸露,从而造成搜索不良等。并且检测项目越多,可能造成的误报也会稍多。此类误报属随机误 报,无法消除。 深圳直销AOI检测设备按需定制

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三、制造企业进入到主动地应用AOI检测阶段从AOI开始发展至今,企业对于AOI检测系统的应用经历了三个大的阶段:由开始的被动应用阶段,到被迫应用阶段,再到现在主动地要求应用阶段,过程中伴随着PCB、FPD制造企业对AOI检测设备的接受程度逐步加深,同时也说明了AOI检测设备的渗透率在逐步提升。企业开始运用AOI是因其神秘感购买,同时对AO检测设备了解比较有限,管控和操作上存在难度,很少主动地应用;后来,由于客户对产品的质量要求提升,企业为了能够获得订单,很多OEM制造厂商不得不购买AOI检测设备对成品开展品质检测;再随着技术的发展,SMT组装逐步精细化和细小化,人眼检测无法满足产品质量的要...

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