东莞自动化SPI检测设备保养

应用于3DSPI/AOI领域的DLP结构光投影模块编码结构光光源蓄势待发在2D视觉时代，光源主要起到以下作用：1、照亮目标，提高亮度；2、形成有利于图像处理的成像效果，降低系统的复杂性和对图像处理算法的要求；3、克服环境光干扰，保证图像稳定性，提高系统的精度、效率；通过恰当的光源照明设计，可以使图像中的目标信息与背景信息得到比较好分离，这样不仅极大降低图像处理的算法难度，同时提高系统的精度和可靠性随着3D视觉的兴起，光源不仅用于照明，更重要的是用来产生编码结构光，例如格雷码、相移条纹、散斑等。DLP技术即因其高速、高分辨率、高精度、成熟稳定、灵活性高等特性，在整个商用投影领域占据优先地位。随着市场需求的扩大，也被大量用于工业3D视觉领域，他的作用主要是投影结构光条纹。主流3D-SPI产品的检测原理有相位轮廓测量术（PhaseMeasuringProfilometry，PMP）和激光三角轮廓测量术。AOI检测误判的定义及存在原困？东莞自动化SPI检测设备保养

那么SPI具有哪些作用呢?1.减少不良锡膏印刷是整个贴片组装的第一步，而SPI是PCBA制造过程中质量管控的第一步。SPI锡膏检测设备的诞生，是为了在锡膏印刷过程中能够密切监视锡膏的印刷情况，在这一环节中利用机器检测出锡膏印刷不良，如锡膏不足、锡膏过多、桥连等。实现在源头上拦截锡膏不良，能够避免不良印刷的PCB板流向下一个工序继续生产而导致的产品不良。2.提高效率经过回流焊接后检查出来的不良板，需要经过排计划、拆料、洗板等工序，同时SMT加工有很多0201、01005的物料，这对厂家来说是一个长时间的返修工作。那么使用SPI提前检测出来的不良板的维修时间要短很多且容易返修，可以立即返工并重新投进生产，节省了很多时间的同时提高了生产效率。茂名在线式SPI检测设备技术参数在线SPI设备在实际应用中出现的一些问题有哪些呢？

SPI锡膏检查机有何能力？可以检查出那些锡膏印刷不良？锡膏检查机只能做表面的影像检查，如果有被物体覆盖住的区域是无法检查得到的，不过锡膏检查机的使用时机应该是在零件还没摆放上去以前，所以不会有锡膏被覆盖的情形发生锡膏检查机可以量测下列的数据：锡膏印刷量锡膏印刷的高度锡膏印刷的面积/体积锡膏印刷的平整度锡膏检查机可以侦测出下列的不良：锡膏印刷是否偏移锡膏印刷是否高度偏差(拉尖)锡膏印刷是否架桥锡膏印刷是否缺陷破损

8种常见SMT产线检测技术1.SPI锡膏检测仪：SPI锡膏检测仪利用光学的原理，通过三角测量的方法把印刷在PCB板上的锡膏高度计算出来，它的作用是能检测和分析锡膏印刷的质量，提前发现SMT工艺缺陷，让使用者实时监控生产中的问题，减少由于锡膏印刷不良造成的缺陷，给操作人员强有力的品管支持，增强制程性能。2.人工目检：人工目检即利用人的眼睛借助带照明或不带照明放大镜，用肉眼观察检验印制电路板及焊点外观、缺件、错件、极性反、偏移、立碑等方面质量问题。3.数码显微镜：数码显微镜是将显微镜看到的实物图像通过数模转换，它将实物的图像放大后显示在计算机的屏幕上，可以将图片保存，放大，打印.配测量软件可以测量各种数据。适用于电子工业生产线的检验、印刷线路板的检测、印刷电路组件中出现的焊接缺陷的检测等。4.SMT首件检测仪：通过智能集成CAD坐标、BOM清单和首件PCB扫描图，系统自动录入测量数据，实现SMT生产线产品首件检查化繁为简，LCR读取数据自动对应相应位置并进行自动判断检测结果。杜绝误测和漏测，并自动生成测试报表存于数据库测试报表存于数据库。spi检测设备在贴片打样中的应用。

SPI锡膏检查机的检测原理锡膏检查机增加了锡膏测厚的雷射装置，所以SPI可能遇到的问题与AOI类似，就是要先取一片拼板目检，没有问题后让机器拍照当成标准样品，后面的板子就依照首片板子的影像及资料来作判断，由于这样会有很多的误判率，所以需要不断的修改其参数，直到误判率降低到一定范围，因此并不是把SPI机器买回来就可以马上使用，还需要有工程师维护。SPI锡膏检测仪只能做表面的影像检查，如果有被物体覆盖住的区域设备是无法检查到的。SMT锡膏的印刷是SMT制程中首道工序也是SMT生产工艺的重要环节，锡膏印刷质量直接影响焊接质量。珠海全自动SPI检测设备技术参数

2、SPI检测仪通过利用光学原理，经过测量锡膏的厚度等参数来检测和分析锡膏印刷的质量来发现锡膏印刷缺陷。东莞自动化SPI检测设备保养

PCBA工艺常见检测设备ATE检测：AutomaticTestEquipment集成电路(IC)自动测试机，用于检测集成电路功能之完整性，为集成电路生产制造之终流程，以确保集成电路生产制造之品质。在所有的电子元器件(Device)的制造工艺里面，存在着去伪存真的需要，这种需要实际上是一个试验的过程。为了实现这种过程，就需要各种试验设备，这类设备就是所谓的ATE(AutomaticTestEquipment)。这里所说的电子元器件DUT(DeviceUnderTest)，当然包括IC类别，此外，还包括分立的元件，器件。ATE存在于前道工序(FrontEnd)和后道工序(BackEnd)的各个环节，具体的取决于工艺(Process)设计的要求。在元器件的工艺流程中，根据工艺的需要，存在着各种需要测试的环节。目的是为了筛选残次品，防止进入下一道的工序，减少下一道工序中的冗余的制造费用。这些环节需要通过各种物理参数来把握，这些参数可以是现实物理世界中的光，电，波，力学等各种参量，但是，目前大多数常见的是电子信号的居多。ATE设计工程师们要考虑的较多的，还是电子部分的参数比如，时间，相位，电压电流，等等基本的物理参数。就是电子学所说的，信号处理。东莞自动化SPI检测设备保养