阳江半导体SPI检测设备生产厂家

8种常见SMT产线检测技术（3）7.ICT在线测试仪ICT在线测试仪，ICT，In-CircuitTest，是通过对在线元器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试手段。使用专门的针床与已焊接好的线路板上的元器件焊点接触，并用数百毫伏电压和10毫安以内电流进行分立隔离测试，从而精确地测了所装电阻、电感、电容、二极管、可控硅、场效应管、集成块等通用和特殊元器件的漏装、错装、参数值偏差、焊点连焊、线路板开短路等故障。8.FCT功能测试(FunctionalTester)功能测试（FCT：FunctionalCircuitTest）指的是对测试电路板的提供模拟的运行环境，使电路板工作于设计状态，从而获取输出，进行验证电路板的功能状态的测试方法。简单说就是将组装好的某电子设备上的专门使用线路板连接到该设备的适当电路上，然后加电压，如果设备正常工作就表明线路板合格。AOI在SMT贴片加工中的使用优点有哪些呢？阳江半导体SPI检测设备生产厂家

SPI技术主流：1.基于激光扫描光学检测2.基于摩尔条纹光学检测SPI市场主流：激光扫描光学检测，摩尔条纹光学检测为主SPI应用模式：当生产线投入使用全自动印刷机时：1.桌上型离线用：新产品投产时1-20片全检；进入量品连续检查5片；2.连线型全检用：杜绝不良锡膏印刷进入SMT贴片机；3.连线印刷闭环；连线三点联网遥控；锡膏中助焊剂的构成及其作用助焊剂的作用①清洁作用→去除表面氧化膜②再氧化防止作用→防止再氧化发生③降低表面张力作用→在无铅焊接中助焊剂的效果不明显惠州多功能SPI检测设备设备厂家AOI的发展需求集成电路，欢迎来电咨询。

那么SPI具体是如何检测的呢？目前SPI领域中主要的检查方法有激光检査和条纹光检查两种。其中激光方法是用点激光实现的。由于点激光加CCD取像须有X、Y逐点担的机构，并未明显増加量测速度。为了增加量测速度，需将点激光改成扫描式线激光光线。这两种是经常用到的方法，此外还有360°轮廓测量理论、对映函数法测量原理( coordinate Mapping)、结构光法( Structure Lighting)、双镜头立体视觉法。但这些方法会受到速度的限制而无法被应用到在线测试上，只适合单点的3D测量。

SPI在市面上常见的分为两大类，主要区分为离线式锡膏检查机和在线型锡膏检测机。设备大部分均采用3D图像处理技术，3D锡膏检查机能通过自动X-Y平台的移动及激光扫描SMT贴片锡膏焊点获得每个点的3D数据，同时也可用来测量整个焊盘贴片加工过程中施加锡膏的平均厚度，使SMT贴片加工锡膏印刷过程能够良好受控3DSPH采用程序化设计方式，同种产品一次编程成功，可以无限量扫描，速度较快。而2D锡膏检查设备只是测量锡膏上的某一条线的高度，来依据整个焊盘的锡膏厚度。其工作原理是激光发射器发射出来的激光束照射到PCB、铜和锡膏三个不同平面上，依靠不同平面反射回来的激光亮度值换算出锡膏的相对高度。由于2DSPI是点扫描方式，锡膏拉尖或者锡膏斜面都会导致锡膏厚度的测量结果不准确。2DSPI多采用手动旋钮来调整PCB平台来对正需要测量的锡膏点，速度较慢。可编程结构光栅(PSLM)技术PMP技术中主要的一个基础条件就是要求光栅的正弦化。

SPI为什么会逐渐取代人工目检？现在的人工越来越贵，并且人员管理也越来越难，人工目检还会出现漏检或错检，因此在线SPI逐渐取代人工目检，达到节约成本、提高生产效率、降低误判率、提高直通率等等，在现代的EMS加工厂中，大量的SPI逐渐取代人工目检，效率也更快。SPI检测设备的优点1、解决了微型封装器件的结构性检查问题，保证生产质量；2、提高了后端测试的直通率，降低维修成本；3、随着技术的发展，SPI测试程序快捷简便，降低了生产所需的大量测试成本；SPI检测设备的缺点1.灰阶或是阴影明暗不是很明显的地方，比较容易出现误判，2.被其他零件遮盖到的元件以及位于元件底下的焊点，比较容易出现漏检人工目检+SPI自动检测结合是目前的主流方式，如果放置了SPI自动检测仪，人工目检人员岗可以设置较少人员随着电子精密化趋势发展，越来越多的使用了屏蔽罩，因此有实力的加工厂还会在多功能机前加一个炉前AOI，用来专门检测屏蔽罩下的元件贴装品质。SPI的作用和检测原理是什么？汕尾多功能SPI检测设备

为什么要使用3D-SPI锡膏厚度检测仪？阳江半导体SPI检测设备生产厂家

AOI检测误判的定义及存在原困、检测误判的定义及存在原困、检测误判的定义及存在原困误判的三种理解及产生原因可以分为以下几点：1、元件及焊点本来有发生不良的倾向，但处于允收范围。如元件本来发生了偏移，但在允收范围内；此类误判主要是由于阙值设定过严造成的，也可能是其本身介于不良与良品标准之间，AOI与MV(人工目检)确认造成的偏差，此类误判是可以通过调整及与MV协调标准来降低。2、元件及焊点无不良倾向，但由于DFM设计时未考虑AOI的可测性，而造成AOI判定良与否有一定的难度，为保证检出效果，将引入一些误判。如焊盘设计的过窄或过短，AOI进行检测时较难进行很准确的判定，此类情况所造成的误判较难消除，除非改进DFM或放弃此类元件的焊点不良检测。3、由于AOI依靠反射光来进行分析和判定，但有时光会受到一些随机因素的干扰而造成误判。如元件焊端有脏物或焊盘侧的印制线有部分未完全进行涂敷有部分裸露，从而造成搜索不良等。并且检测项目越多，可能造成的误报也会稍多。此类误报属随机误报，无法消除。阳江半导体SPI检测设备生产厂家

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