电迁移、电化学腐蚀和金属化重构，IGBT 功率模块芯片顶部存在一层 Al 金属薄膜用以与外部进行连接。在电流和温度梯度的作用下，Al 金属离子会沿着导体运动，如沿着键合线运动，产生净质量输运，导致薄膜上出现空洞、小丘或晶须。随着器件的老化，有机硅凝胶的气密性下降，外部的物质会与 Al 金属薄膜接触，使其发生电化学腐蚀。常见的有 Al 的自钝化反应、单一阳极腐蚀电池反应以及与沾污的离子发生反应。金属化重构是由于 Al 与芯片上 SiO2 的 CTE 值相差两个数量级，导致界面处产生循环应力，使得Al 原子发生扩散，造成小丘、晶须和空洞，然后产生塑性形变，引发裂纹。以上所述三种因素导致的 Al 薄膜失效方式会加剧键合点处的疲劳情况，较终导致键合线脱落或电场击穿失效。动态测试IGBT自动化设备可精确测量器件的开关速度和损耗。辽宁动态测试超声波键合机
一般共晶炉设定的焊接温度根据焊件的热容量大小而高于焊料合金的共晶温度30。～50℃。芯片耐受温度和焊接材料的共晶温度也是共晶时应该注意的问题。如果焊接材料的共晶温度过高，会影响芯片材料的物理化学性质，使芯片失效。因此，焊接材料的选择应考虑涂层的成分和焊接零件的耐受温度。此外，如果焊接材料储存时间过长，表面的氧化层会过厚。由于焊接过程中没有人工干预，很难去除氧化层，焊接材料熔化后留下的氧化膜焊接后会形成空洞。在焊接过程中，在炉腔中加入少量氢气，可以减少一些氧化物的恢复，但[敏感词]使用。贵州动态测试工业模块自动组装线IGBT自动化设备能够将多个IGBT芯片单元并串联起来，实现稳定的交流电输出。
焊接 IGBT 功率模块封装失效机理：键合线失效，一般使用 Al 或 Cu 键合线将端子与芯片电极超声键合实现与外部的电气连接，两种材料均与 Si 及Si 上绝缘材料，如 SiO2 的 CTE 差别较大。当模块工作时，IGBT 芯片功耗以及键合线的焦耳热会使键合线温度升高，并在接触点和键合线上产生温度梯度，形成剪切应力。长时间处于开通与关断循环的工作状态，产生应力及疲劳形变累积，会导致接触点产生裂纹，增大接触热阻，焦耳热增多，温度梯度加大较终导致键合线受损加剧，形成正向反馈循环，较终导致键合线脱落或断裂。研究表明，这些失效是由材料 CTE 不匹配导致的结果。键合线断裂的位置出现在其根部，这种根部断裂是键合线失效的主要表现。一些研究指出，可以通过优化键合线的形状来改善其可靠性。具体而言，键合线高度越高、键合线距离越远，键合线所受应力水平越低，可靠性越高。
IGBT的应用场景：1. 电力转换：IGBT在变压器、换流器、电抗器、电容器、调速器、变流器等电力转换设备中普遍使用。2. 电力控制：IGBT在发电机控制、高压开关控制、可调节比例控制等电力控制领域有普遍的应用。3. 工业控制：IGBT在工业自动化控制、机器人控制、工业机器人、伺服控制等领域有着重要的应用。4. 电动汽车：由于其高效率、低损耗和可靠性，IGBT在电动汽车控制、动力转换和充电系统等方面有着重要的应用。5. 消费电子：IGBT在电视机、计算机、照明、打印机、台式机、复印机、数码相机等消费类电子产品中有着重要的应用。IGBT自动化设备通过真空回流焊接确保了贴片的可靠连接和高质量的焊接效果。
wafer阶段测试。目前wafer阶段测试，大部分晶圆厂或封装厂采用的都是静态测试。但是静态测试的条件比较有限，IGBT只能在低电压大电流或者高电压小电流的条件下工作，对芯片的筛选能力有限。而动态测试条件下，IGBT要在高电压和大电流下开通和关断，对其性能要求更加严苛，筛选标准更严格，若再配合高温短路测试，则筛选能力大幅提高。但是针对wafer的动态测试技术难度很高，实现起来非常困难，且测试设备极其昂贵，也不容易买到。所以wafer阶段的动态参数测试，现阶段不容易实现。在自动贴片过程中，IGBT自动化设备能够高效地完成芯片的贴装工作。北京动态测试DBC底板贴装机
IGBT自动化设备推动了IGBT模块技术的发展，使其具备通态压降低、开关速度快等优点。辽宁动态测试超声波键合机
IGBT模块工艺流程简介：（1）超声波清洗：将焊接完成后的半成品置于插针机中，对模块上的针脚进行加盖超声波清洗，主要清洗焊接后针脚上残留的松香。清洗设备有效容积约3.2L，以无水乙醇作为清洁剂，单次清洗约24根针脚，时间约一分钟。（2）真空回流焊（二次）：根据客户需求，将键合完的DBC基板送入回流炉中，在炉内进行加热熔化（二次回流炉使用电加热，工作温度245℃，持续工作8分钟左右），以气态的甲酸与锡片金属表面的氧化物生成甲酸金属盐，并在高温下裂解还原金属，以此将DBC基板焊接到铜基板上，需向炉内注入氮气作为保护气以保证焊接质量。辽宁动态测试超声波键合机
