GV46-24K金失色检测机
「参数」●快速、稳定、精细●真假24K元素●分辨24K失色；◆24K面积覆盖比例◆污染失色◆缺金漏Ni面积●软件分析24K金色元素，其他不符合24K金色去除●实际分析受污染面积来决定NG●检验失色精度高，一根ACF由2000个像素单位组成「适用范围」●软硬板金手指及焊盘
AVI3315二维码测量及表面缺陷检测机
「参数」●每秒可进行160次数据检查●二维测量及表面缺陷检测●高度灵活的视界备置●定制UV和NIR检测●X-Y行程300mm*300mm●Z行程150mm●X-Y运行精度1.2um●Z运行精度5um
「适用范围」●软板、IC器件、小型机械零件、微型元器件
苏州茂鼎电子公司可靠么？精密测试治具 茂鼎产品ST7610高精密LCR测试参数
ST8410A 高 精 密 多 通 道 LCR 测 试 机
ST8410A简介
ST8410A高精密多通道LCR测试机是一款测试精度高通道多的测试机，快测试速度达12ms，测试点数多达360点，点数多速度快，是高生产效率的比较好选择测试机。适用於产品点位多，或一次性要测试多个产品。是一款电脑化控制多通道LCR测试机，测试数据直接传输到电脑，测试结果可以选择储存与不储存。与市场上大部份的LCR测试机有所区别，优势如下：1。测试主机使用GPIB通讯协定。2。测试主机有输出输入控制端口，由外部设备控制测试主机进行测试，完成自动化测试。 苏州自动化设备 茂鼎ST6410气密测试仪参数苏州茂鼎电子科技公司产品质量过关么？
一种电容触控传感器测试仪
本发明涉及一种电容触控传感器测试仪，包括DSP处理器，以及源程序存储器、校正接口、静态随机存储器、CPLD逻辑器件和第二CPLD逻辑器件实现信号的输出以及反馈，CPLD逻辑器件与扫描卡控制接口、掉电自动存储器以及通讯电路连接实现信号的输出以及反馈，第二CPLD逻辑器件分别与直接数字频率合成器DDS、程控放大电路、程控I/V转换电路、输出选择开关以及数模转换D/A连接实现信号传递。DSP处理器发出测量信号，被测物体通过扫描卡测量到的信号传递到程控放大器转换成合适测量的电压信号，由主LFP低通电路将模拟信号通过ADC数模转换器转化为数字信号，通过DSP处理器处理活动准确度较高的阻抗、电感量、电容量等，测试高效快捷，方便观察、计量以及后期分析。
PCB板(LCZmain)
1.本外观设计名称为PCB板(LCZmain)。2.本外观设计用于检测设备中作为电容触摸传感器及FPCB软板测试。3.本外观设计的设计要点在于外形。本外观设计请求保护其外形。4.本外观设计的主视图能表达其设计要点。5.本外观设计为薄片，左视图、右视图、俯视图和仰视图无设计要点，故省略左视图、右视图、俯视图和仰视图。
PCB板(TS scan)
本外观设计名称为PCB板(TS scan)。本外观设计用于检测设备中作为电容触摸传感器及FPCB软板测试。本外观设计的设计要点在于外形。本外观设计请求保护其外形。本外观设计的主视图能表达其设计要点。本外观设计为薄片，左视图、右视图、俯视图和仰视图无设计要点，故省略左视图、右视图、俯视图和仰视图。 苏州茂鼎电子科技售后服务。
脉冲输出模块简介
随着变频与伺服控制技术的发展，各类型变频设备、伺服设备广泛应用于自动化控制，高速脉冲输出讯号源的应用也越来越，LAN-3304脉冲输出模块有四个脉冲输出通道，应用于各类变频设备与伺服设备，与上位机连接采用网线，使用TCP通信协定，可使用或连接上位机。LAN-3304脉冲输出模块共有4组脉冲输出通道，可控制四个电机，产品体积小，96.5x37.9x101.1(mm)，节省空间。考虑连线合理性、安全性、稳定性，与上位机连线采用Internet通信协议，直接使用网线，控制端与设备端的距离可以更长，可以与设备端的距离更近，无需担心讯号传输问题，让设备的设计更加容易、简单。 苏州茂鼎电子科技联系方式是多少？苏州自动化设备 茂鼎ST6410气密测试仪参数
苏州茂鼎公司的服务如何？精密测试治具 茂鼎产品ST7610高精密LCR测试参数
一种LCR测试仪，其特征在于：包括DSP处理器，以及与DSP处理器相连接的实时时钟、源程序存储器、静态随机存储器、CPLD逻辑器件、信号输入输出接口、通讯电路、程控I/V转换电路、ADC模数转换器、程控信号发生器、程控信号处理电路、输出程控放大电路和程控差分放大电路。本实用新型利用程控信号发生器的输出端分别信号连接到输出程控放大电路和程控信号处理电路的输入端，对被测物输入正弦信号，程控差分放大电路和程控I/V转换电路将电流信号转换成电压信号后，再由低通滤波电路将获得模拟量信号由ADC模数转换器转化为数字信号，从而通过DSP处理器后由显示器获得高准确度的阻抗、电感量、电容量等，测试高效快速，显示结果方便读出、计量和后期分析。精密测试治具 茂鼎产品ST7610高精密LCR测试参数
