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在充分听取业界**、技术人员意见基础上，我主编的GJB/Z164《印制电路组件装焊工艺技术指南》中，不一概要求“除金”了，为长期困惑工艺和操作者们的这条“紧箍*”松了绑！对“除金”问题进行了有条件的操作：a.当元器件引出脚或引出端是镀金时，其金镀层小于μm的，采用手工焊接时，不需要除金。b.当元器件引脚的镀金层（金）含量与被焊端子焊料之比小于2%时，这时的镀金引脚对焊接是有利的，不需要引脚除金。二.剖析答疑1.“金脆化”所造成的焊点不可靠案例1）金脆化引起的焊接不可靠现象2）镀金天线簧片金脆化某镀金天线簧片***应用于通信终端产品中，采用再流焊接将其焊在PCB上，如图2所示。镀金天线簧片在再流焊接后轻轻一碰就掉，焊接面发现存在明显的不润湿或反润湿现象，断裂界面呈现出典型的脆性断裂失效特征，如图3和图4所示。用X-Ray检测镀金天线簧片的焊接处空洞很多，不良率6%，有时竟能高达50%。优化再流焊曲线后仍没有好转。对焊点进行金相切片分析，其焊点切片和切面金相图如图3和图4所示。对焊点进行纵向断面金相切片如图5所示，簧片弯曲部裂缝非常明显。图6可见，发生在PCB焊盘一侧以及簧片侧的两个焊接接结合界面存在较明显的差异。用EDS分析。在进行压接操作之前，需要对导线进行处理，包括去皮、修剪、清洗等。去皮时需要使用专业的剥线钳或刀具。广东机械搪锡机用户体验

这是非常可怕的。随着国内电子制造业界对去金搪锡重要性认识程度的日益加深，随着**上**工业**推出的，用于所有通孔插装元器件和表面贴装元器件去金搪锡处理设备的引进，国内电子制造业界争议十年之久的关于“去金没有必要”和“难以实现”的争论可以终结了。其实上述各种去金搪锡工艺的前提是元器件引线或焊端上都已经镀上了金，如果一个企业能够与元器件的供应商签订长期供货协议，要求所提供的元器件的引线或焊端都是镀锡合金，那就不需要采取锡焊铅的去金搪锡工艺，这一条特别适合那些具有大批量生产需求的企业，例如华为和中兴公司，一则他们的产品是民品，元器件的货源能够得到保证，二则可以固定供应商，求所提供的元器件的引线或焊端都是镀锡合金，所以就可以免除繁杂的去金搪锡工艺和设备。然而，**，尤其是航天航空产品不具备上述条件。笔者在电子装联/SMT领域已经浸润半个多世纪，但并非焊接人士，对于金脆化机理的分析是“借花献佛”，在众多焊接人士面前属于“班门弄斧”，错误在所难免，敬请批评指正。。甘肃制造搪锡机配件金是一种很好的导电材料，并且具有很好的抗腐蚀性和抗化学性。

**工程物理研究院电子工程研究所董义和尹桂荣两位工艺人员在《板级装配中电子元器件镀金引线处理》一文中指出：“目前国内电子行业中对镀金引线的“去金”要求执行很差，争议也很大。有些工艺人员甚至不知道有镀金引线的“去金”要求。有些单位也从未**过相关问题的讨论，在工艺文件中也没有“去金”工艺要求。行业内对“金脆”的认识肤浅，相关的“去金”工艺要求更加薄弱，总以为数十年的产品并没有“去金”要求，焊点的质量也没有出过问题。有的工艺人员认为自己搞了几十年，也并没有遇见过“金脆””。航天二院706研究所张永忠研究员说：“很多单位因为间距太密认为去金没有必要，其实这是个误区，实际上是把必要性和可行性混杂了”。航天产品和民用手机由于“金脆”暴露的巨大**给工艺人员敲响了警钟。为了满足广大电路设计人员和电装工艺人员的需求，笔者在航天五院和航天九院的协助下对此进行了长达4年的专题研究和分析，依据现有试验数据和国内外标准详细研究了镀金引线的除金处理方法。实施“镀金引线的除金处理”绝非小事；航天五院总工艺师范燕平曾与我通电话，说到**电科某研究所一位已经退休的工艺人员发表一篇题为《试论电子装联禁（限）用工艺的应用》**。

有足够的金元素向焊料中扩散而产生脆性。5）搪锡锡锅焊料中的金含量当锡锅搪锡时，对锅内焊料应定期更换，当溶于焊料中的金含量达到3%时，也会引起金脆。4.“金脆化”产生机理以图10所示的Au-Pb-Sn合金相图（176℃等温截面）为例，在含Sn量较多时，焊料中的Sn和Au容易形成针状AuSn4、AuSn2、AuSn等金属间化合物，在含金量较少的情况下，生成的AuSn4为多数；针状的AuSn4为脆性化合物，在测试、应用及试验的环境条件下极易脆断，导致焊接断裂失效。焊接时，Au与Sn-Pb焊料的相容性非常好，金在熔融状态的Sn-Pb合金中属于一种可熔金属，而且溶解速率很快。浸析的速度，通常可以用固体金属在焊料中的溶解率来表征。溶解率通常是用一根规定直径的导线完全溶解在焊料中所需的时间来表示。各种金属在Sn-Pb焊料中的溶解速度见图11。从图11可以看出，在焊接过程中，**先溶解到焊料中的是金，形成如图10所示的Au-Sn化合物。金在焊料中的熔解率随温度变化，在高温度下，6ms～7ms内，金的熔解和Au-Sn化合物的形成过程就可以结束。在直接焊接金镀层时，生成的Au-Sn合金层非常薄，当金的含量达到3%时，表面上焊点形成很好，但明显地表现出脆性，埋下**。必然带来结合部的性能变脆。光纤接头：光纤接头是连接光纤的重要元件，通过搪锡可以保护光纤接头的金属部分不受腐蚀和氧化。

一种定子用搪锡机，包括机架和设于机架上的顶升装置、固定装置、移动机构、抓取机构、定位机构、助焊剂料盒和焊锡炉，所述机架包括上台板、下台板和支撑杆，所述顶升装置固设于下台板处用于顶升固定装置，所述固定装置包括固定件和设于固定件上的工装，所述固定件通过固定导杆与下台板连接；所述抓取机构包括导杆架、固定板、旋转机构、夹持机构和滑动气缸，所述导杆架与设于上台板处的移动机构连接，所述旋转机构与夹持机构连接并固设于固定板上，所述固定板与导杆架滑动连接并通过滑动气缸推动其上下滑动；所述定位机构设于下台板上，用于搪锡时固定板的定位，所述助焊剂料盒和焊锡炉按工序分设于下台板处。本发明使用时，首先将工件装入工装中，在搪锡机检测到工件后，顶升装置开始运作，推动固定件，从而使得工件向上移动，顶升装置到位后停止移动印刷速度过快或过慢：印刷速度也会影响锡膏的涂布效果。湖北机械搪锡机共同合作

热辐射原理在多个领域都有广泛的应用，对于提高能源利用效率、优化产品设计;广东机械搪锡机用户体验

在焊料中有AuSn4颗粒；图43（b）表示经过烘烤的试样，Ni3Sn4层长大，AuSn4从焊料内部向焊料和PCB基板的界面迁移。由于金属间化合物中Au和Sn的比为1:4，所以即使很少量的Au也会生成较厚的AuSn4。图43（c）表示经过烘烤再进行再流焊的试样焊点，AuSn4化合物从界面溶解进入焊点。2.试验证明：PBGA组件在150℃老化两周后的金脆，表明主裂纹在Au-Sn化合物和Ni-Sn化合物间扩展，裂纹穿过了Ni3Sn4和Ni（P）+层，如图44（a）所示。图44（a）（b）所示为PBGA一侧的SEM图。图中亮的区域为AuSn4化合物，暗的区域为Ni3Sn4化合物，亮的斑点为富Pb焊料。图44（c）（d）所示为PCB一侧的SEM图。图中亮的区域为Ni3Sn4化合物，暗的区域为Ni-P，亮的斑点为富Pb焊料。老化后PBGA组装件的断裂位置如图44所示，其断裂方式与上两种不同，它是在界面处的分层断裂而不是焊料的脆性断裂。这些镀金的PCB焊盘都存在金镀层是否需要“除金”，应该引起我们的高度重视。六.镀金引线除金的争议1.“镀金引线的除金处理”事关大局目前业界个别人对镀金引线的除金处理的必要性和可行性颇有微词。广东机械搪锡机用户体验