Horiba LAQUAtwin笔式盐度计Salt-22 型号:05754-21 盐浓度NaCl Salt EC 测量原理 离子选择电极 蕞小样本量 0.3毫升(0.05毫升与采样薄片B) 盐度范围 0.01至25重量% 分辨率 0.00至0.99%:0.01% 1.0至9.9%:0.1% 10%至25%:1% 校准点 蕞多2 准确性 读数的±10% 温度显示 0至50.0ºC 温度校准 5至40.0ºC 显示 定制(单色)数字LCD,带背光 工作温度 5至40.0ºC 工作湿度 相对湿度为85%以下(无冷凝) 功率 CR2032电池(2) 电池寿命 大约 连续使用400小时无背光 材料 ABS环氧阀体 外型尺寸 164 x 29 x 20毫米(不包括突起) 重量 大约 55克(包括传感器和电池) 功能 自动校正 自动标准识别 可变的高低校准值 温度校准 自动保持/自动稳定测量 可切换背光 自动关闭电源(30分钟) 电池电量低指示器 IP67防尘/防水 可更换传感器校准LAQUAtwin 袖珍型仪表。北京如何选HORIBA结构

LAQUA系列是Horiba作为耐用的仪表开发的,为实验室专业人员提供长期可靠性。先进的功能和多种电极可在各种应用中提供高精度测量和更短的响应时 DS-72A-S台式电导率仪包含: LAQUA DS-72 EC / Res / TDS / Sal / Temp彩色触摸屏LCD台式仪表 3552-10D铂金/铂黑色,玻璃体,k = 1.0电导率电极,带集成温度传感器 503-S电导率标准:84μS/ cm,1413μS/ cm,12.88 mS / cm,111.8 mS / cm(每个250 ml) USB闪存盘中的数据采集软件(通信线缆另售) 电极架 保护盖 带6个插头的电源适配器(美国,英国,欧盟,澳大利亚/新西兰,韩国和中国) 说明书智能HORIBA大全硝酸根袖珍水质计使用方法。

HORIBA LAQUAtwin Salt-11土壤盐分的测量方法 第一步土壤样品采集 选择果园中的代表性地点进行常规采样。 滴灌果园 从两个位置收集双把土壤 - 距离滴头 20 厘米和湿润区域的边缘〜约 距离滴头 60 厘米。土壤应从根区的两个或三个深度抽取 - 每 30 厘米至 1 米。将来自每个深度/位置的土壤样本放入袋中进行分析。 洒水灌溉果园 采样与滴灌果园的采样类似,不同之处在于采样了三个位置——2 米洒水器、1/3 对角线上的洒水器间距以及洒水器图案的中间。如果灌溉系统的设计和测量分布均匀度≥ 80%,或者 2 年或更长时间的盐度结果表明没有因地点而异,则可以减少地点的数量。
创立后的HORIBA Scientific(科学仪器事业部)成为整个集团的技术提供者,也成为世界上蕞大的分析、光谱系统及组件制造商之一,并在光栅及光谱仪行业居于世界领航地位,它延续了Jobin Yvon往日的辉煌,开创了新的发展局面。 现在,HORIBA Jobin Yvon的两大研发中心分别设在美国新泽西州和法国“光谷”,研发团队包括70多位博士,专注于衍射光栅及其在光谱学领域的应用研究。HORIBA还为Jobin Yvon提供京都总部的研发中心,以帮助团队进行纳米系统等光学前沿项目的研究。未来五年,合并后的科学仪器事业部将加强探索,以期在生命科学、水、能量与新材料等领域发挥重要作用。HORIBA钠离子计怎么用。

HORIBA LAQUAtwin 标准溶液 ( 包装包含 6 瓶 x 14ml) 上海铭迹科技代理销售 货号 描述 514-4 pH 缓冲液 4.01 514-7 pH 缓冲液 7.00 514-22 电导率标准 1413 uS/cm 514-23 电导率标准 12.9 mS/cm 514-05 NaCl 标准 0.5% 514-50 NaCl 标准 5.0% 514-20 调节剂 适用于 导电率 / 盐度 Y022H 钠离子 标准 2000 ppm Y022L 钠离子 标准 150 ppm Y031H 钾离子 标准 2000 ppm Y031L 钾离子 标准 150 ppm Y041 硝酸根离子 标准 5000 ppm Y042 硝酸根离子 标准 300 ppm Y043 硝酸根离子 标准 2000 ppm Y044 硝酸根离子 标准 30 ppm Y045 硝酸根离子 标准 150 ppm Y051H 钙离子 标准 2000 ppm Y051L 钙离子 标准 150 ppmHORIBA代理销售公司。特殊HORIBA值得推荐
HORIBA WQ-320双通道WQ-330三通道测量仪。北京如何选HORIBA结构
椭圆偏振光谱仪 薄膜表征的有效技术 椭圆偏振光谱是一种表面敏感、非破坏性、非侵入性的光学技术,应用于薄层和表面特征。它基于线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变,通过模型拟合获得厚度以及光学常数等。根据薄膜材料的不同,可测量的厚度从几个Å到几十微米。椭圆偏振光谱是一种很好的多层膜测量技术。 椭圆偏振光谱仪可以表征薄膜的一系列特性,如膜厚、光学特性(n,k)、光学带隙、界面和粗糙度厚度,薄膜组成,膜层均一性,等等。 椭圆偏振光谱适合分析的材料包括半导体、电介质、聚合物、有机物和金属。也可用于研究固-液或液-液界面。 HORIBA椭圆偏振光谱仪采用新型高频偏振调制技术,测试过程中无任何机械旋转。与传统椭偏仪相比,更快的测试速度、更宽的测量范围以及更高的表征精度。北京如何选HORIBA结构
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