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测试系统基本参数
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  • 国磊
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  • 齐全
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GT600每通道集成PPMU,支持nA级电流分辨率,可精确测量被电源门控关闭的模块在“关断状态”下的漏电流。通过对比门控开启与关闭时的电流差异,评估电源开关的隔离能力,确保未**模块不会产生异常功耗。2.GT600支持可选配高精度浮动SMU板卡,可为SoC的不同电源域提供**的电压施加与电流监测。在电源门控测试中,可通过SMU分别控制主电源与门控电源的开启/关闭时序,验证电源域之间的依赖关系与上电顺序,防止闩锁或电压倒灌。3.GT600配备GT-TMUHA04时间测量单元,提供10ps时间分辨率,用于测量从门控信号有效到目标模块恢复供电的时间、模块唤醒后功能恢复的响应延迟、确保电源门控机制在满足低功耗要求的同时,不影响系统实时性。4.通过GTFY软件系统与C++编程,工程师可编写脚本实现循环执行“上电→功能测试→门控关断→延时→唤醒”流程;扫描不同关断时长对唤醒成功率的影响;监测多次开关操作后的电流一致性,评估可靠性。5.GT600支持高采样率的动态电流监测,可捕获电源门控开启瞬间的浪涌电流,避免因瞬时电流过大导致电压塌陷或系统复位。结合Digitizer功能,记录电压/电流波形,用于分析电源稳定性与去耦电容设计有效性。我们的系统能有效评估绝缘材料在电场下的性能变化。杭州国磊SIR测试系统行价

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“风华3号”**了国产GPU在架构创新与生态兼容上的重大突破,而其成功落地离不开从设计到量产的完整验证链支撑。国磊GT600测试机凭借高通道密度、高并行能力(512Sites)、混合信号支持与开放软件架构,已成为**GPU、AI计算芯片测试的关键基础设施。它支持GPIB/TTL接口与探针台、分选机联动,构建全自动CP/FT测试流程,**提升测试效率与一致性。在国产GPU迈向大模型、医疗、工业等**应用的进程中,国磊GT600测试机提供从功能、参数到可靠性的**测试保障,助力中国芯在图形与计算领域实现自主可控。杭州国磊SIR测试系统行价国磊GT600的16个通用插槽支持数字、模拟、混合信号板卡混插,实现电源管理IC、传感器信号调理芯片的测试。

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面对国产手机芯片动辄数千万乃至上亿颗的年出货量,传统“单颗或小批量测试”模式早已无法满足产能与成本需求。国磊GT600凭借512站点并行测试能力,开创“集体考试”新模式——512颗芯片同步上电、同步输入测试向量、同步采集响应、同步判定Pass/Fail,测试效率呈指数级提升。这不仅将单位时间产出提高数十倍,更大幅缩短新品从试产到大规模铺货的周期,抢占市场先机。更重要的是,测试成本(CostofTest)是芯片总成本的重要组成部分。据半导体行业经验数据,同测数(ParallelTestSites)每翻一倍,单颗芯片测试成本可下降30%~40%。国磊GT600的512站点能力,相较传统32或64站点设备,成本降幅可达70%以上,为国产手机SoC在激烈市场竞争中赢得价格优势。国磊GT600以“高速(400MHz)+高密度(512通道)+高并行(512Sites)”三位一体架构,构建起支撑国产**芯片量产的“超级测试流水线”,可以让中国芯不仅“造得出”,更能“测得快、卖得起、用得稳”。

随着智能手机进入AI时代,SoC的竞争已从单一CPU性能转向“CPU+GPU+NPU”三位一体的综合算力比拼。Counterpoint数据显示,天玑9000系列凭借在AI能力上的前瞻布局,2024年出货量同比增长60%,预计2025年将再翻一番。这一成就的背后,不**是架构设计的**,更是对NPU(神经网络处理单元)和AI工作负载深度优化的结果。而这类高度集成的AISoC,对测试设备提出了前所未有的挑战:高引脚数、多电源域、复杂时序、低功耗模式、混合信号模块等,均需在量产前完成**验证。国磊GT600测试机正是为此类**手机SoC量身打造的测试平台,具备从功能到参数、从数字到模拟的全栈测试能力。国磊GT600支持电压/电流源同步扫描功能,可用于BGR(带隙基准)温度特性与电源抑制比(PSRR)自动化测试。

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杭州国磊半导体设备有限公司依据市场需求开发出GM8800多通道绝缘电阻/导电阳极丝(CAF)测试系统。该系统以其***的256通道并行测试能力、高达10^14Ω的电阻测量上限、1V至3000V的宽范围可编程偏置电压以及优于±3%~±10%的测量精度,树立了国产高阻测试设备的新**。GM8800的设计充分考虑了实际应用的多样性与复杂性,提供1~600分钟可自由设定的测试间隔、长达9999小时的持续测试能力、***的故障报警机制(涵盖低阻、停机、温湿度、电压越限、AC断电、软件异常等)以及30/60/120分钟可选的UPS断电保护,确保无人值守长期测试的可靠性与数据完整性。其配套软件功能强大,不仅实现多参数实时采集与显示,更具备深度数据分析和远程监控能力,支持用户通过网络进行跨平台访问与控制。相较于国际**品牌如英国GEN3的同类产品,GM8800在保持同等甚至更优技术指标的同时,提供了极具市场竞争力的价格和快速响应的本土化技术支持与服务,极大地降低了用户的购置成本和运维门槛,广泛应用于集成电路封装、PCB制造、新能源车辆电控系统、储能设备绝缘评估、**消费电子以及医疗电子等领域,是助力中国企业提升产品质量、实现供应链安全与国产化替代的战略性装备。国磊GT600及GT-AWGLP02板卡THD达-122dB,SNR110dB,适用于音频编解码器、高保真信号链芯片的失真分析。国产导电阳极丝测试系统

国磊GT600SoC测试机的10ps分辨率TMU可用于验证先进节点下更严格的时序窗口,如快速唤醒与电源切换延迟。杭州国磊SIR测试系统行价

AI眼镜SoC普遍采用40nm以下工艺,集成高精度ADC、DAC、PLL、LDO等模拟模块,用于麦克风阵列信号采集、骨传导音频输出与电源稳压。国磊GT600测试机支持可选配GT-AWGLP02任意波形发生器(THD-122dB,SNR110dB)与20/24bit分辨率Digitizer,可用于语音前端信号链的INL、DNL、THD、SNR等参数测试,确保AI语音识别输入的准确性。其高精度浮动SMU板卡支持宽电压范围输出,可用于LDO负载调整率、PSRR及上电时序验证,保障音频与传感模块的电源稳定性。GT600的模块化16插槽架构支持数字、模拟、混合信号板卡混插,实现从NPU到传感器接口的一站式测试,避免多设备切换带来的数据割裂。杭州国磊SIR测试系统行价

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每通道PPMU:芯片健康的“精密听诊器” 。杭州国磊GT600的每通道集成PPMU(参数测量单元),是其高精度测试的**。PPMU可在FVMI(强制电压测电流)模式下,精确测量nA级静态漏电流(Iddq),相当于检测每秒流过数亿个电子的微小电流。在手机芯片测试中,这能识别因工艺缺陷导致的“待机耗电”问题,确保续航达标。在FIMV(强制电流测电压)模式下,可验证电源调整率,防止芯片在高负载下电压跌落导致死机。PPMU还支持快速哨兵测试(Quick Sentinel),在毫秒内完成所有引脚的开路/短路检测,大幅提升初筛效率。对于AI芯片,PPMU可逐核测量功耗,筛选出“能效比较好”**。这一“每引...

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