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反射率测量仪基本参数
  • 品牌
  • MIKORN,IMPAC,DS,AZ
  • 型号
  • AE1/RD1;
  • 类型
  • 红外发射率
  • 产地
  • 上海
反射率测量仪企业商机

反射率测量仪产品具有广泛的应用场景:

汽车工业:在汽车制造过程中,反射率测量仪可用于测量汽车后视镜、侧视镜等辅助镜的表面反射率,以确保驾驶员的视线和安全性能。同时,它还可用于测量车身涂层的反射率,以确保涂层的质量和外观,满足消费者对汽车美观性和安全性的要求。

光学工业:在光学元件的生产过程中,反射率测量仪是不可或缺的测试工具。它可以用于测量光学镜片、反射镜、滤光片等元件的反射率,确保产品的光学性能和质量达到设计要求。 AvaSR-96便携式太阳光谱反射仪 精确反射率测量,行业应用新篇章。明策科技反射率测量仪案例

明策科技反射率测量仪案例,反射率测量仪

上海明策电子科技有限公司推出美国D&S,美国AZ,荷兰Avantes爱万提斯、德国INGLAS等品牌的反射率测量仪,不仅是对自身技术实力的一次整体展示,更是对光学测量行业未来发展趋势的一次深刻洞察与积极响应。我们坚信,凭借卓著的产品性能、灵活的应用场景、智能化的操作体验以及全系统的技术支持与服务,上海明策公司反射率测量仪必将在全球范围内赢得更多客户的信赖与认可,共同推动光学测量技术的创新与发展,开启智能制造的新篇章。贵州反射率测量仪种类科研生产好帮手,D&S AE1/RD1发射率测量仪行业必备。

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自定义适配器:适配器可用来测量非平坦表面的反射率和吸收率。专门测量圆柱体的适配器可用来测量直径极小到13mm的圆柱体表面。仪器的测量头处有一个专门的连接口可连接各种适配器,且不会影响仪器的正常使用。适配器是用来匹配不同的测量表面,且该表面可对应重复测量的测量端口。同样,我们也为适配器提供了校准标准和仪器控制器上的校准指令。对于平面的检测和非平面的检测,其操作方法都是一样的。手持装置:当我们须手持本仪器来对准样品时我们可以选本配置。12V手持便携式电源:使D&SSolarSpectrumReflectometerModelSSR-ER变成手持式的,另外配备一个可选的电池组。电池组附带自己的可充电电池,充电系统和手提箱。当SSR-ER连接12v电池组时可连续用5个小时。透过率部件:D&S透过率部件SSR-T是可以直接插入SSR-R反射率测量仪上的,这样可使该仪器能够测量总太阳能透过率。

LPSR的全称是LaboratoryPortableSpectroReflectometer,即便携式反射率光谱仪,该仪器内置积分球,可以方便快捷地测量几乎任何表面的总半球光谱反射率。LPSR的测量波段可覆盖250-2800nm。LPSR采用了独特的光学,机械和电子设计,使仪器非常的轻便简洁,且确保能够达到理想的性能。标准配置的LPSR300可以在实验室环境下测量不同尺寸的样品,另外加上一些简单的硬件后可以带到户外测量各种样品,所以LPSR是实验室环境和户外环境都可使用的二合一仪器。LPSR的设计是严格遵循ASTME903标准的。LSPR300另外还有一个特殊版本,可以接真空腔,用于测量真空环境内样品的光谱反射率:LSPR300V。LPSR300的PC操作软件上提供了一键标准扫描测量和其他可选扫描测量多种操作模式,全自动测量模式下用户可以在软件上设置扫描测量的起始波长以及该波段内扫描的步进带宽长度;软件上可以自动显示光谱反射率vs不同波长的二维关系图,软件还可以根据测量到的反射率图谱自动换算出吸收率图谱;自动测量模式下,用户可以设置光源、探测器、起始波长、扫描步进带宽、以及其他增益选型。光学元件检测新利器,反射率仪技术卓著。

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AE1/RD1发射率仪测量材料的总半球发射率,测量仪对辐射热传输响应,并且输出电压和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表RD1是AE1发射率仪读数器,RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致,当AE1测量待测样品上时,RD1就能直接读出发射率。

把该仪器放在高发射率标准体(近似黑体)上,设定RD1来表示发射率标准参数;然后仪器就会根据这个标准,计算并直接读出RD1上该被测目标的发射率。AE1测量样品直径为2.25英寸(5.7cm)。可选附件AE-AD1和AE-AD3探测头,能测量样品的直径为1.0英寸(2.54cm)。还可以定制探头,测量圆柱形表面和几乎任何几何形状表面。

对于小直径圆柱形面样品的测量,可以测量平行放置的多个样品。如需定制测量头,请来电垂询价格!发射率通过两个步骤获取:1、把辐射计放在高发射率标准体上,设定RD1来表示发射率;2、把辐射计放在待测样品上并直接读出RD1上的发射率。 精确测量,反射率仪助力建材行业创新。明策科技反射率测量仪案例

珠宝检测新科技,反射率仪精确鉴定。明策科技反射率测量仪案例

SPECTRAFIRE有两种工作模式:

除了对各种样品进行光谱分析和追踪外,SPECTRAFIRE还可以使用一种特殊的标定块来测定不透明样品的半球发射率。SPECTRAFIRE所测得的发射率光谱数据并不取决于光源的光谱,且测量温度也不局限于300K。

SPECTRAFIRE可以测量高于300K温度的样品和非灰体样品的光谱发射率;SPECTRAFIRE光学设计一道经过校准的红外光束从Nicolet光谱仪打入SPECTRAFIRE左端输入端,SPECTRAFIRE内部有一个离轴抛物面镜将光束聚焦并打到样品上。

样品台位于SPECTRAFIRE的正上方,中间有一个小孔即为聚焦的光束的出光孔,样品需要放置在出光孔上,此聚焦光束打在样品上,样品的反射光会通过SPiSteradians聚焦到内部的探测器上。探测器收集到的此光信号再发送到FTIR光谱仪内。另外SPECTRAFIRE内部还安装了其他斩波装置,用于绝  对测量模式下的测量;SPECTRAFIRE内部所有的光学元器件都外置了特制的金涂层,以确保在仪器整个波段范围内极低的光学能量损耗。 明策科技反射率测量仪案例

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