深圳光学镜片成像式应力仪研发

应力分布测试在光学元件生产中扮演着至关重要的角色，它能够准确揭示材料内部的应力状态，为产品质量控制提供科学依据。在光学元件的制造过程中，从原材料加工到**终成型，每个环节都可能引入不同程度的残余应力。这些应力不仅会影响元件的机械强度，更会改变其光学性能，导致波前畸变、双折射等问题。通过应力分布测试，技术人员可以掌握元件各部位的应力状况，及时发现潜在的质量隐患。特别是在高精度光学系统如显微镜物镜、激光谐振腔镜等关键部件的生产中，应力分布的均匀性直接决定了**终成像质量和使用寿命。适用于多种低相位差材料应力测量。深圳光学镜片成像式应力仪研发

在光学镜片生产过程中，残余应力是影响产品性能的关键因素之一。偏光应力仪通过偏振光干涉原理，能够非接触、无损地检测镜片内部的应力分布情况。这种检测方式特别适用于各类树脂镜片、玻璃镜片以及镀膜镜片的应力分析。通过实时观察应力条纹的形态和分布密度，生产人员可以准确判断镜片是否存在应力集中区域，从而及时调整加工参数。相比传统的破坏性检测方法，偏光应力仪不仅提高了检测效率，更能确保产品完整性，为光学镜片的质量控制提供了可靠保障。深圳光学镜片成像式应力仪研发助力检测钢化应力层均匀性。

在对微区残余应力在失效分析中的应用分析领域，成像式应力仪是追溯故障根源的“法医工具”。当TGV结构或玻璃基板出现开裂、 delamination等失效时，通过检测失效区域周边的微区残余应力分布，可以反推应力在失效过程中所扮演的角色。例如，通过分析裂纹前列的应力强度，可以判断裂纹是源于制造过程中的残余应力，还是外部过载。这种准确的事后分析，将抽象的失效现象与定量的应力数据联系起来，为制定有效的纠正与预防措施提供了坚实的科学依据。

现代成像式应力测量系统融合了机器视觉和深度学习算法，大幅提升了检测的智能化水平。在非球面镜片的生产中，系统可以自动识别由模压成型工艺引起的特征性应力分布模式，准确率超过95%。通过建立应力云图数据库，技术人员能够追溯不同批次产品的应力变化趋势，为工艺优化提供数据支持。特别是在AR/VR光学元件的制造中，该系统帮助解决了自由曲面镜片因复杂几何形状导致的应力不均匀问题，使产品波前误差控制在λ/10以内，满足了精密应用的严苛要求。在线观察应力变化，指导光学装调。

应力分布测试是评估光学元件内应力状况的重要手段。常用的测试方法有偏光应力仪法，其基于光弹性原理，通过观测镜片在偏振光下的干涉条纹，分析应力的大小和分布，能够直观呈现应力集中区域；数字图像相关法（DIC）则利用高精度相机采集元件表面变形图像，通过对比变形前后的图像，计算出应力分布情况，这种方法可实现全场应力测量，精度高且对元件无损伤。玻璃制品内应力是影响其强度和稳定性的关键因素，我们的内应力测量设备采用先进的偏光技术与高精度传感器，可快速、准确地检测玻璃制品中的应力分布。过高的应力会破坏TGV内部的电气互联性能。深圳光学镜片成像式应力仪研发

采用独特算法，快速解析斯托克斯分量。深圳光学镜片成像式应力仪研发

相位补偿技术在低相位差材料应力测量中展现出独特优势。针对**应力光学元件，传统偏光法可能难以分辨微小的应力差异。采用相位补偿式应力仪，通过引入可调补偿器来抵消样品产生的相位延迟，可以实现更高精度的测量。这种方法对航天级光学玻璃的检测精度可达0.5nm/cm，能够准确评估材料是否达到*低应力标准。在激光谐振腔镜等关键光学元件的生产中，这种高精度测量技术确保了元件在强激光照射下的长期稳定性，避免了因应力导致的性能退化问题。深圳光学镜片成像式应力仪研发

千宇光学专注于偏振光学应用、光学解析、光电探测器和光学检测仪器的研发与制造。主要事业涵盖光电材料、光学显示、半导体、薄膜橡塑、印刷涂料等行业。 产品覆盖LCD、OLED、VR、AR等上中下游各段光学测试需求，并于国内率先研发相位差测试仪打破国外设备垄断，目前已广泛应用于全国光学头部品牌及其制造商

千宇光学研发中心由光学博士团队组成，掌握自主的光学检测技术, 测试结果可溯源至国家计量标准。与国家计量院、华中科技大学、东南大学、同济大学等高校建立产学研深度合作。千宇以提供高价值产品及服务为发展原动力， 通过持续输出高速度、高精度、高稳定的光学检测技术，优化产品品质，成为精密光学产业有价值的合作伙伴。