光谱共焦基本参数
  • 品牌
  • 创视智能,tronsight
  • 型号
  • TS-C
  • 用途类型
  • 光谱位移传感器
  • 工作原理
  • 光谱共焦
  • 输出信号
  • 模拟型
  • 材质
  • 金属膜
  • 位移特征
  • 点位移
  • 测量范围
  • 中位移,小位移
光谱共焦企业商机

共焦位移传感器是利用共焦原理和轴向色像差现象对测量对象的位移进行测量的光学测量装置,共焦原理是指将从形成光源的像的成像面上接收到的光以缩小光圈的方式形成为反射光,轴向色像差现象是在光源的像中发生光轴方向上的颜色漂移的现象。共焦位移传感器由作为点光源的使从光源出射的光出射的销孔、在经由销孔出射的检测光中引起轴向色像差并朝向测量对象会聚该检测光的光学构件、以及使来自测量对象的反射光光谱分散并产生受光信号的分光器构成。作为检测光,使用具有多个波长的光。在经由光学构件照射到测量对象的检测光中,销孔允许具有在聚焦于测量对象的同时被反射的波长的检测光穿过。根据轴向色像差,各波长的成像面的位置不同。因此,通过使穿过销孔的检测光的波长特定来计算测量对象的位移。光谱共焦技术在汽车制造中可以用于零件的精度检测和测量。共焦光谱

共焦光谱,光谱共焦

为了满足全天候观察的需求,设计了波段范围为可见光-短波红外宽光谱共焦光学成像系统。根据宽光谱共焦原理以及光学被动式无热化原理,设计了一个波段范围为0.4μm~2.5μm、焦距数为50 mm,F数为2.8的光学成像系统,该系统在可见光波段在奈奎斯特频率为30 lp/mm时传函值高于0.7,红外波段在奈奎斯特频率为30 lp/mm时传函值高于0.5,探测器选用为15μm×15μm、像元数为640 pixel×512 pixel碲镉汞探测器。该宽光谱共焦型光学系统均采用普通玻璃材料以及易加工的球面透镜,在温度范围-40℃~+60℃内对光学系统消热差,实现了无需调焦即可满足昼夜观察的使用需求,可广泛应用于安防监控、森林防火等领域。国产光谱共焦价格国内外已经有很多光谱共焦技术的研究成果发表。

共焦光谱,光谱共焦

差动共焦拉曼光谱测试方法是一种通过激光激发样品产生拉曼散射信号,并利用差动共焦显微镜提高空间分辨率、抑制激光背景和表面散射等干扰信号的非接触式拉曼光谱测试方法。该方法将样品放置于差动共焦显微镜中,利用两束激光在焦平面聚焦下的共焦点对样品进行局部激发,产生拉曼散射信号。其中一束激光在焦平面发生微小振动,通过检测二者之间的光路差异,可以抑制激光背景和表面散射等干扰信号。该方法具有高空间分辨率和高信噪比等特点,可以实现微区域的化学组成分析和表征。该方法可用于单个纳米颗粒、生物组织、纳米线、nanofilm等微型样品的表征,以及材料科学、生物医学、环境科学等领域的研究。需要注意的是,在差动共焦拉曼光谱测试中,样品的浓度、表面性质、对激光的散射能力等都会影响测试结果,因此需要对不同样品进行适当的处理和优化。

该研究主要针对光谱共焦传感器在校准时产生的误差进行了研究。研究者使用激光干涉仪和高精度测长机分别对光谱共焦传感器进行了测量,并使用球面测头来保证光谱共焦传感器的光路位于测头中心,以确保安装精度。然后更换平面侧头进行校准,并利用小二乘法对测量数据进行处理,得出测量数据的非线性误差。研究结果表明:高精度测长机校准时的非线性误差为0.030%,激光干涉仪校准时的分析线性误差为0.038%。利用小二乘法处理数据及计算非线性误差,可以减小校准时产生的同轴度误差和光谱共焦传感器的系统误差,提高对光谱共焦传感器的校准精度。光谱共焦技术可以在不破坏样品的情况下进行分析。

共焦光谱,光谱共焦

光谱共焦测量原理通过使用多透镜光学系统将多色白光聚焦到目标表面来工作。透镜的排列方式是通过控制色差(像差)将白光分散成单色光。工厂校准为每个波长分配了一定的偏差(特定距离)。只有精确聚焦在目标表面或材料上的波长才能用于测量。从目标表面反射的这种光通过共焦孔径到达光谱仪,该光谱仪检测并处理光谱变化。漫反射表面和镜面反射表面都可以使用共焦原理进行测量。共焦测量提供纳米分辨率并且几乎与目标材料分开运行。在传感器的测量范围内实现了一个非常小的光斑尺寸。微型径向和轴向共焦版本可用于测量钻孔或钻孔的内表面,以及测量窄孔、小间隙和空腔。光谱共焦技术可以测量位移,利用返回光谱的峰值波长位置。平面度测量 光谱共焦厂家

光谱共焦位移传感器可以实现对材料的表面形貌进行高精度测量,对于研究材料的表面性质具有重要意义。共焦光谱

光谱共焦是一种综合了光学成像和光谱分析技术的高精度位移传感器,在3C电子行业中应用极为大量。光谱共焦传感器可以用于智能手机内线性马达的位移测量,通过实时监控和控制线性马达的位移,可大幅提高智能手机的定位功能和相机的成像精度。也能测量手机屏的曲面角度、厚度等。平板电脑内各种移动结构部件的位移和振动检测是平板电脑生产过程中非常重要的环节。光谱共焦传感器可以通过对平板电脑内的各种移动机构、控制元件进行精密位移、振动、形变和应力等参数的测量,从而实现对其制造精度和运行状态的实时监控。共焦光谱

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