晶圆切割是半导体封装的中心环节，传统刀片切割通过金刚石砂轮实现材料分离。中清航科研发的超薄刀片（厚度15-20μm）结合主动冷却系统，将切割道宽度压缩至30μm以内，崩边控制在5μm以下。我们的高刚性主轴技术可适配8/12英寸晶圆，切割速度提升40%，为LED、MEMS器件提供经济高效的解决方案。针对超薄晶圆（<50μm）易碎裂难题，中清航科激光隐形切割系统采用红外脉冲激光在晶圆内部形成改性层，通过扩张膜实现无应力分离。该技术消除机械切割导致的微裂纹，良率提升至99.3%，尤其适用于存储芯片、CIS等器件，助力客户降低材料损耗成本。中清航科多轴联动切割头，适应曲面晶圆±15°倾角加工。杭州sic晶圆切割测试
在晶圆切割设备的自动化升级浪潮中，中清航科走在行业前列。其新推出的智能切割单元，可与前端光刻设备、后端封装设备实现无缝对接，通过SECS/GEM协议完成数据交互，实现半导体生产全流程的自动化闭环。该单元还具备自我诊断功能，能提前预警潜在故障，将非计划停机时间减少60%，为大规模生产提供坚实保障。对于小尺寸晶圆的切割，传统设备往往面临定位难、效率低的问题。中清航科专门设计了针对2-6英寸小晶圆的切割工作站，采用多工位旋转工作台，可同时处理8片小晶圆，切割效率较单工位设备提升4倍。配合特制的弹性吸盘，能有效避免小晶圆吸附时的损伤，特别适合MEMS传感器、射频芯片等小批量高精度产品的生产。杭州sic晶圆切割测试晶圆切割MES系统中清航科定制，实时追踪每片切割工艺参数。
晶圆切割/裂片是芯片制造过程中的重要工序，属于先进封装(advancedpackaging)的后端工艺(back-end)之一，该工序可以将晶圆分割成单个芯片，用于随后的芯片键合。随着技术的不断发展，对高性能和更小型电子器件的需求增加，晶圆切割/裂片精度及效率控制日益不可或缺。晶圆切割的重要性在于它能够在不损坏嵌入其中的精细结构和电路的情况下分离单个芯片，成功与否取决于分离出来的芯片的质量和产量，以及整个过程的效率。为了实现这些目标，目前已经开发了多种切割技术，每种技术都有其独特的优点和缺点。
针对航天电子需求，中清航科在屏蔽室内完成切割（防宇宙射线干扰）。采用低介电刀具材料，避免静电放电损伤，芯片单粒子翻转率降至10⁻⁹errors/bit-day。中清航科提供IATF16949认证切割参数包：包含200+测试报告（剪切力/热冲击/HAST等），加速客户车规芯片认证流程，平均缩短上市时间6个月。中清航科残渣图谱数据库：通过质谱分析切割碎屑成分，溯源工艺缺陷。每年帮助客户解决15%的隐性良率问题，挽回损失超$300万。中清航科气动悬浮切割头：根据晶圆厚度自动调节压力（范围0.1-5N，精度±0.01N）。OLED显示面板切割良率提升至99.8%，边缘像素损坏率<0.01%。切割粉尘回收模块中清航科集成，重金属污染减排90%以上。
对于高价值的晶圆产品，切割过程中的追溯性尤为重要。中清航科的切割设备内置二维码追溯系统，每片晶圆进入设备后都会生成单独的二维码标识，全程记录切割时间、操作人员、工艺参数、检测结果等信息，可通过扫码快速查询全流程数据，为质量追溯与问题分析提供完整依据。在晶圆切割的边缘处理方面，中清航科突破传统工艺限制，开发出激光倒角技术。可在切割的同时完成晶圆边缘的圆弧处理，倒角半径可精确控制在5-50μm范围内，有效减少边缘应力集中，提高晶圆的机械强度。该技术特别适用于需要多次搬运与清洗的晶圆加工流程。中清航科切割机节能模式降低功耗40%，年省电费超15万元。台州芯片晶圆切割蓝膜
MEMS器件晶圆切割中清航科特殊保护层技术，结构完整率99%。杭州sic晶圆切割测试
中清航科创新性推出“激光预划+机械精切”复合方案：先以激光在晶圆表面形成引导槽，再用超薄刀片完成切割。此工艺结合激光精度与刀切效率，解决化合物半导体（如GaAs、SiC）的脆性开裂问题，加工成本较纯激光方案降低35%。大尺寸晶圆切割面临翘曲变形、应力集中等痛点。中清航科全自动切割机配备多轴联动补偿系统，通过实时监测晶圆形变动态调整切割参数。搭配吸附托盘，将12英寸晶圆平整度误差控制在±2μm内，支持3DNAND多层堆叠结构加工。杭州sic晶圆切割测试
