半导体晶圆是一种薄而平的半导体材料圆片，组成通常为硅，主要用于制造集成电路（IC）和其他电子器件的基板。晶圆是构建单个电子组件和电路的基础，各种材料和图案层在晶圆上逐层堆叠形成。由于优异的电子特性，硅成为了常用的半导体晶圆材料。根据掺杂物的添加，硅可以作为良好的绝缘体或导体。此外，硅的储量也十分丰富，上述这些特性都使其成为半导体行业的成本效益选择。其他材料如锗、氮化镓（GaN）、砷化镓（GaAs）和碳化硅（SiC）也具有一定的适用场景，但它们的市场份额远小于硅。晶圆切割后分选设备中清航科集成方案，效率达6000片/小时。宁波碳化硅线晶圆切割测试
为满足汽车电子追溯要求，中清航科在切割机集成区块链模块。每片晶圆生成单独工艺参数数字指纹（含切割速度、温度、振动数据），直通客户MES系统，实现零缺陷溯源。面向下一代功率器件，中清航科开发等离子体辅助切割（PAC）。利用微波激发氧等离子体软化切割区材料，同步机械分离，切割效率较传统方案提升5倍，成本降低60%。边缘失效区（EdgeExclusionZone）浪费高达3%晶圆面积。中清航科高精度边缘定位系统通过AI识别有效电路边界，定制化切除轮廓，使8英寸晶圆可用面积增加2.1%，年省材料成本数百万。舟山晶圆切割测试中清航科全自动切割线配备AI视觉定位，精度达±1.5μm。
中清航科创新性推出“激光预划+机械精切”复合方案：先以激光在晶圆表面形成引导槽，再用超薄刀片完成切割。此工艺结合激光精度与刀切效率，解决化合物半导体（如GaAs、SiC）的脆性开裂问题，加工成本较纯激光方案降低35%。大尺寸晶圆切割面临翘曲变形、应力集中等痛点。中清航科全自动切割机配备多轴联动补偿系统，通过实时监测晶圆形变动态调整切割参数。搭配吸附托盘，将12英寸晶圆平整度误差控制在±2μm内，支持3DNAND多层堆叠结构加工。
UV膜残胶导致芯片贴装失效。中清航科研发酶解清洗液，在50℃下选择性分解胶层分子链，30秒清理99.9%残胶且不损伤铝焊盘，替代高污染溶剂清洗。针对3DNAND多层堆叠结构，中清航科采用红外视觉穿透定位+自适应焦距激光，实现128层晶圆的同步切割。垂直对齐精度±1.2μm，层间偏移误差<0.3μm。中清航科绿色方案整合电絮凝+反渗透技术，将切割废水中的硅粉、金属离子分离回收，净化水重复利用率达98%，符合半导体厂零液体排放（ZLD）标准。针对碳化硅晶圆，中清航科激光改质切割技术突破硬度限制。
晶圆切割的工艺参数设置需要丰富的经验积累，中清航科开发的智能工艺推荐系统，基于千万级切割数据训练而成。只需输入晶圆材料、厚度、切割道宽等基本参数，系统就能自动生成比较好的切割方案，包括激光功率、切割速度、聚焦位置等关键参数，新手操作人员也能快速达到工程师的工艺水平，大幅降低技术门槛。半导体产业对设备的占地面积有着严格要求，中清航科采用紧凑型设计理念，将晶圆切割设备的占地面积控制在2平方米以内，较传统设备减少40%。在有限空间内，通过巧妙的结构布局实现全部功能集成，同时预留扩展接口，方便后续根据产能需求增加模块，满足不同规模生产车间的布局需求。晶圆切割大数据平台中清航科开发，实时分析10万+工艺参数。镇江芯片晶圆切割划片厂
超窄街切割方案中清航科实现30μm道宽，芯片数量提升18%。宁波碳化硅线晶圆切割测试
在晶圆切割的质量检测方面，中清航科引入了三维形貌检测技术。通过高分辨率confocal显微镜对切割面进行三维扫描，生成精确的表面粗糙度与轮廓数据，粗糙度测量精度可达0.1nm，为工艺优化提供量化依据。该检测结果可直接与客户的质量系统对接，实现数据的无缝流转。针对晶圆切割过程中的热变形问题，中清航科开发了恒温控制切割舱。通过高精度温度传感器与PID温控系统，将切割舱内的温度波动控制在±0.1℃以内，同时采用热误差补偿算法，实时修正温度变化引起的机械变形，确保在不同环境温度下的切割精度稳定一致。宁波碳化硅线晶圆切割测试
