台式XRD工作原理

XRD分析仪：1.可以获得更高的灵敏度、更快的分析速度以及更可靠的结果。升级后的X射线探测器硬件运行速度提高33％，并且强度更高，从而降低了LOD。SwiftMin自动相识别和定量软件可直接在X射线衍射分析仪上显示实时数据，能够使用户能够快速可靠做出决策。2.配有独具特色的小型样品托架，因此成为传统X射线衍射仪方便携带、轻便且几乎无需维护的替代品。采用NASA技术的振动样品托架可让样品腔内的所有颗粒物实现对流，从而确保数据几乎不受取向效应影响。只需15毫克样品即可，并且使用随附取样套件即可轻松获得样品。3.同时获得定量XRD和定性XRF数据，专门设计的直接激励电荷耦合器件（CCD）可同时检测光子位置和能量，从而让分析仪能够同时采集XRD和XRF的X射线光子数据。X射线衍射仪的形式多种多样，用途各异。台式XRD工作原理

X射线衍射仪采用创造性的设计，配备了集成化的DIFFRAC.SUITETM软件，附件自动识别、即插即用以及完全集成化的二维XRD2功能。这些特征使得用户可以非常方便的在材料研究领域的不同应用之间切换，包括：反射率测量（XRR）、高分辨测量（HRXRD）、掠入射（GID）、面内掠入射（IP-GID）、小角散射（SAXS）以及残余应力和织构分析。主要应用：高分辨XRD（HRXRD），外延多层膜厚度，晶胞参数，晶格错配，组份，应变及弛豫过程，横向结构，镶嵌度，X射线反射率（XRR），薄膜厚度，组份，密度，粗造度，孔隙度。深圳便携式粉末衍射仪工作原理XRD设备是用于材料研究、工艺开发和质量控制的新一代仪器。

XRD设备原理如下：X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，主要有连续X射线和特征X射线两种。晶体可被用作X光的光栅，这些很大数目的原子或离子/分子所产生的相干散射将会发生光的干涉作用，从而影响散射的X射线的强度增强或减弱。由于大量原子散射波的叠加，互相干涉而产生至大强度的光束称为X射线的衍射线。满足衍射条件，可应用布拉格公式：2dsinθ=λ。应用已知波长的X射线来测量θ角，从而计算出晶面间距d，这是用于X射线结构分析；另一个是应用已知d的晶体来测量θ角，从而计算出特征X射线的波长，进而可在已有资料查出试样中所含的元素。

XRD设备的使用能为客户解决的问题如下：（1）当材料由多种结晶成分组成，需区分各成分所占比例，可使用XRD物相鉴定功能，分析各结晶相的比例。（2）很多材料的性能由结晶程度决定，可使用XRD结晶度分析，确定材料的结晶程度。（3）新材料开发需要充分了解材料的晶格参数，使用XRD可快捷测试出点阵参数，为新材料开发应用提供性能验证指标。（4）产品在使用过程中出现断裂、变形等失效现象，可能涉及微观应力方面影响，使用XRD可以快捷测定微观应力。（5）纳米材料由于颗粒细小，极易形成团粒，采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。采用X射线衍射线线宽法（谢乐法）可以测定纳米粒子的平均粒径。为什么要求XRD测试粉末样品要稍微多一些？

XRD设备能轻松切换包括X射线管、光学器件、样品台和探测器在内的光路组件，而无需对准。而通过自动识别所有组件，您还可以实现配置实时调整与验证。软件插件是一独特的虚拟测角仪软件解决方案，它可显示真实测角仪的所有光路组件及其状态，并对存在的任何配置进行报告。XRD设备的操作轻松、直观、畅通无阻且支持失效保护，适合任何用户（包括新手或**）使用。万物皆可测的XRD：提供多个样品支持器，适用于每一类样品；6位自动进样器；通用型设计：适用于所有粉末应用。XRD设备特点：轻松操控仪器，获得好数据。广东进口D8 Advance商家

XRD设备在生活中的使用是比较多的。台式XRD工作原理

XRD，X射线衍射仪：X射线衍射仪的英文名称是X-rayPowderdiffractometer简写为XPD或是XRD。有时会把它叫做X射线多晶体衍射仪，英文名称是X-raypolycrystallinediffractometer简写仍为XPD或XRD。X射线衍射仪的形式多种多样，用途各异，但其基本构成很相似，主要部件包括4部分。（1）高稳定度X射线源，提供测量所需的X射线，改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长，调节阳极电压可控制X射线源的强度。（2）样品及样品位置取向的调整机构系统，样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。（3）射线检测器，检测衍射强度或同时检测衍射方向，通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。（4）衍射图的处理分析系统，现代X射线衍射仪都附带安装有专门使用衍射图处理分析软件的计算机系统，它们的特点是自动化和智能化。台式XRD工作原理

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